对比文件名称：JP2012078675A_Description_20260218_1610
目标专利名称：179亚微米晶片对准CN107850759B
本次调用模型名称：gpt-4
### 特征比对表格
| 技术特征描述以及公开性判断结果 | 对比文件原文引用 | 公开性论述 |
| 技术特征A：其包括：第一透明晶片，其包括第一透镜阵列《直接公开》 | [0016] レンズアレイL1は、円盤状の基板10と、基板10上に形成された複数のレンズ1とを含む。基板10および各レンズ1は透明である。複数のレンズ1は、基板10上に二次元的に配置されている。<br>翻译：透镜阵列L1包括盘状基板10和在基板10上形成的多个透镜1。基板10以及各透镜1是透明的。多个透镜1在基板10上二维地配置。 | 对比文件明确公开了透镜阵列L1，其包含基板10和其上形成的多个透镜1，且基板和透镜均为透明。这对应于目标专利的“第一透明晶片，其包括第一透镜阵列”。作用均是作为光学堆叠中的一个透镜组件层。因此，本领域技术人员能毫无疑义地得出该技术方案，属于直接公开。 |
| 技术特征B：第二透明晶片，其包括第二透镜阵列，所述第二透镜阵列中的每一透镜与所述第一透镜阵列中的对应透镜形成透镜对《直接公开》 | [0018] レンズアレイL2は、円盤状の基板20と、基板20上に形成された複数のレンズ2とを含む。基板20および各レンズ2は透明である。複数のレンズ2は、基板20上に二次元的に配置されている。<br>翻译：透镜阵列L2包括盘状基板20和在基板20上形成的多个透镜2。基板20以及各透镜2是透明的。多个透镜2在基板20上二维地配置。<br>[0019] レンズモジュールLMは、レンズアレイL1とレンズアレイL2とを嵌合部30により嵌合することにより形成される。<br>翻译：透镜模块LM是通过由嵌合部30嵌合透镜阵列L1和透镜阵列L2而形成的。 | 对比文件明确公开了第二透镜阵列L2，其包含透明基板20和多个透镜2。结合[0019]可知，L1和L2通过嵌合部组合在一起形成透镜模块LM。本领域技术人员可以理解，当两个透镜阵列堆叠以形成模块时，其中一个阵列中的透镜会与另一个阵列中对应位置的透镜在光路上配对，共同作用以形成最终的透镜光学系统，即形成透镜对。因此，技术特征B被直接公开。 |
| 技术特征C：第一隔片晶片，其定位于所述第一透明晶片与所述第二透明晶片之间且包括包含开口阵列的隔片材料，每一透镜对中的至少一个透镜延伸到所述开口阵列中的开口中《隐含公开》 | [0019] レンズモジュールLMは、レンズアレイL1とレンズアレイL2とを嵌合部30により嵌合することにより形成される。嵌合部30は、円柱状部材である。嵌合部30の軸方向の一端は、レンズアレイL1の片面（図1では下面）の中央に設けられた円形凹部11に嵌合され、他端はレンズアレイL2の片面（図1では上面）の中央に設けられた円形凹部12に嵌合される。<br>翻译：透镜模块LM是通过由嵌合部30嵌合透镜阵列L1和透镜阵列L2而形成的。嵌合部30是圆柱状构件。嵌合部30的轴向一端嵌合于设置在透镜阵列L1的一个面（图1中为下面）中央的圆形凹部11，另一端嵌合于设置在透镜阵列L2的一个面（图1中为上面）中央的圆形凹部12。<br>[0023] また、レンズモジュールLMにおいては、レンズアレイL1の基板10のレンズアレイL2側の面においてレンズ1が形成されていない領域に、リブ13が形成されている。同様に、レンズアレイL2の基板20のレンズアレイL1側の面においてレンズ2が形成されていない領域に、リブ23が形成されている。リブ13および23は、それぞれレンズ1、2が基板10、20の面から突出する高さよりも高く形成されている。リブ13および23は、レンズアレイL1およびL2を積層したときに互いに当接するように形成され、レンズ1と2とが接触することを防止するとともに、基板10および20の間隔を確保するスペーサとしても機能する。<br>翻译：另外，在透镜模块LM中，在透镜阵列L1的基板10的透镜阵列L2侧的面上未形成透镜1的区域，形成有肋13。同样地，在透镜阵列L2的基板20的透镜阵列L1侧的面上未形成透镜2的区域，形成有肋23。肋13和23分别形成为比透镜1、2从基板10、20的面突出的高度更高。肋13和23形成为在层叠透镜阵列L1和L2时相互抵接，防止透镜1和2接触，并且也作为确保基板10和20之间的间隔的隔片（spacer）而发挥作用。 | 目标专利中，“隔片晶片”是位于两个透镜晶片之间、具有开口阵列以容纳透镜的独立部件，其核心功能是提供物理间隔和对准结构。对比文件没有公开独立的“隔片晶片”。然而，对比文件公开了“嵌合部30”和“肋13、23”。嵌合部30是圆柱状部件，位于两个透镜阵列之间，并嵌入各自的凹部中，它在物理上将两个阵列隔开并定义了它们之间的距离（[0019]）。此外，肋13、23形成在基板10、20的非透镜区域，在层叠时相互抵接，明确起到“スペーサ”（spacer，即隔片）的作用，用于防止透镜接触并确保基板间距（[0023]）。这些肋环绕着透镜，实质上在透镜周围形成了“隔片材料”的周边，而透镜本身则位于由这些肋和嵌合部共同限定的“开口”中。虽然对比文件的结构是肋集成在透镜基板上，而非独立的晶片，但其组合（嵌合部+肋）所实现的功能——位于两透明晶片之间、提供间隔、并允许透镜伸入由这些结构限定的空间——与目标专利中隔片晶片的功能实质相同。因此，本领域技术人员有可能通过推理认为对比文件隐含公开了“定位于所述第一透明晶片与所述第二透明晶片之间且包括包含开口阵列的隔片材料”这一技术特征。 |
| 技术特征D：第一对准标记，其设置于所述第一透明晶片上，所述第一对准标记包括定位于所述第一透镜阵列中的第一透镜周围的第一组同心环带《未公开》 | [0021] アライメントマークM1は、基板10においてレンズアレイL2に対向する面の端部に形成される。同様に、アライメントマークM2は、基板20においてレンズアレイL1に対向する面の端部に形成される。アライメントマークM1およびM2は、レンズアレイL1およびL2を位置決めする基準として用いられる。<br>翻译：对准标记M1形成在基板10中与透镜阵列L2对向的面的端部。同样地，对准标记M2形成在基板20中与透镜阵列L1对向的面的端部。对准标记M1和M2用作对透镜阵列L1和L2进行定位的基准。<br>[0066] 図6は、レンズアレイの基板にアライメントマークが一体形成された例を示す。図6（Ａ）は、平面視において十字形状のアライメントマークがレンズアレイ基板に一体形成された例を示す。図6（Ｂ）は、平面視において環状のアライメントマークがレンズアレイの基板に一体形成された例を示す。<br>翻译：图6示出了在透镜阵列的基板上一体形成对准标记的例子。图6（A）示出了在平面视中十字形状的对准标记一体形成在透镜阵列基板上的例子。图6（B）示出了在平面视中环状的对准标记一体形成在透镜阵列的基板上的例子。 | 对比文件确实公开了在透明晶片（基板10）上设置对准标记M1（[0021]），并且图6（B）公开了“环状”的对准标记。然而，目标专利的技术特征D明确限定该对准标记是“第一组同心环带”且“定位于所述第一透镜阵列中的第一透镜周围”。对比文件虽然公开了“环状”标记，但未描述其为“一组同心环带”，也未描述其围绕特定透镜布置。图6（B）的环状标记显示为单一的环，位于基板中央或特定位置，并非“一组”。更重要的是，目标专利的“同心环带”是用于产生莫尔条纹（波纹效应）的特定高频互补图案的一部分，这与对比文件中仅用作位置基准的普通对准标记（无论是十字形还是单一环形）在结构、布置和作用上均不相同。因此，对比文件既未直接公开，也未隐含公开技术特征D。 |
| 技术特征E：及第二对准标记，其设置于所述第二透明晶片上，所述第二对准标记包括与所述第一组同心环带互补且定位于所述第二透镜阵列中的第二透镜周围的第二组同心环带《未公开》 | [0021] アライメントマークM1は、基板10においてレンズアレイL2に対向する面の端部に形成される。同様に、アライメントマークM2は、基板20においてレンズアレイL1に対向する面の端部に形成される。アライメントマークM1およびM2は、レンズアレイL1およびL2を位置決めする基準として用いられる。<br>翻译：对准标记M1形成在基板10中与透镜阵列L2对向的面的端部。同样地，对准标记M2形成在基板20中与透镜阵列L1对向的面的端部。对准标记M1和M2用作对透镜阵列L1和L2进行定位的基准。 | 基于与技术特征D相同的理由，对比文件虽然公开了在第二透明晶片（基板20）上设置对准标记M2，但未公开该标记是“与第一组同心环带互补的…第二组同心环带”。对比文件未提及标记之间的“互补”关系，更未提及能产生波纹效应的“同心环带组”。因此，技术特征E未被公开。 |
| 技术特征F：，所述第一透镜与所述第二透镜形成一个透镜对，其中所述第一组同心环带和与所述第一组同心环带互补的所述第二组同心环带可经定大小及定位使得其在所述第一及第二透明晶片为光学对准时产生跨越所有环带的实心环带且在所述第一及第二透明晶片未对准时产生波纹效应。《未公开》 | 未找到相关描述。 | 技术特征F限定了互补同心环带的对准标记的特定光学效果：对准时呈现“实心环带”，未对准时产生“波纹效应”（莫尔效应）。这是目标专利的核心创新点之一，旨在提供高精度、可视化的对准判断手段。对比文件全文未提及任何关于对准标记在堆叠时产生特定视觉效果（如实心化或莫尔条纹）的描述。其对准标记（如十字形或单一环形）仅作为位置参考，通过检测其是否重合来判断对准，不涉及通过高频图案干涉产生视觉效应的原理。因此，该技术特征既未被直接公开，也未被隐含公开。 |
| 技术特征G：其中所述第一透镜、所述第二透镜及在所述开口阵列中的开口周围的所述隔片材料的一部分形成具有光轴的透镜堆叠。《隐含公开》 | [0017] 基板10上の複数のレンズ1は、二次元的に配置されている。各レンズ1は、基板10の表裏面に設けられたレンズ面を含む。各レンズ1の一対のレンズ面は、基板10の表裏側の対応する位置に、光軸が一致するように設けられている。<br>翻译：基板10上的多个透镜1是二维配置的。各透镜1包括设置在基板10的表背面的透镜面。各透镜1的一对透镜面设置在基板10的表背侧的对应位置，以使光轴一致。<br>[0018] ...各レンズ2は、基板20の表裏面に設けられたレンズ面を含む。各レンズ2の一対のレンズ面は、基板20の表裏側の対応する位置に、光軸が一致するように設けられている。<br>翻译：...各透镜2包括设置在基板20的表背面的透镜面。各透镜2的一对透镜面设置在基板20的表背侧的对应位置，以使光轴一致。<br>[0019] ...レンズモジュールLMは、レンズアレイL1とレンズアレイL2とを嵌合部30により嵌合することにより形成される。<br>翻译：...透镜模块LM是通过由嵌合部30嵌合透镜阵列L1和透镜阵列L2而形成的。 | 目标专利中，“透镜堆叠”是指由至少两个透镜及其间的隔片结构共同形成的一个完整的光学单元，具有共同的光轴。对比文件中，L1和L2各自包含具有自身光轴的透镜（[0017], [0018]）。当通过嵌合部30将L1和L2堆叠在一起形成透镜模块LM时（[0019]），本领域技术人员可以理解，堆叠的目的是使对应透镜的光轴对齐，从而形成一个整体的、具有共同光轴的光学系统（即透镜堆叠）。虽然对比文件未明确使用“透镜堆叠”一词，但根据其堆叠结构和光学对准的目的，可以合理推断出由L1的透镜、L2的透镜以及将它们间隔/对准的结构（如嵌合部/肋）共同形成了一个具有光轴的光学堆叠。因此，该技术特征被隐含公开。 |
| 技术特征H：其进一步包括分束器层，所述分束器层设置于所述第一对准标记的第一平面与所述第二对准标记的第二平面之间的光学路径中心点处。《未公开》 | 未找到相关描述。 | “分束器层”（如50%透明镜面）是目标专利的另一个核心发明点，用于解决同时观察上下两层对准标记时的景深问题。对比文件全文未提及任何“分束器”、“半透半反镜”或类似部件。其对准检测是通过检查单元160直接透过固定板111观察标记进行的（[0050]），未使用任何位于对准标记平面之间光学中点处的反射/透射元件来改变光路。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征I：其中所述第一组同心环带及所述第二组同心环带具有5μm的线厚度。《未公开》 | 未找到相关描述。 | 对比文件未描述对准标记的具体尺寸或线厚度。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征J：其进一步包括：第三透明晶片，其包含第三透镜阵列《隐含公开》 | [0068] なお、以上の説明では、レンズモジュールLMについて、２枚のレンズアレイL1、L2を積層した構成を例に説明したが、レンズモジュールLMは、３枚以上のレンズアレイを積層した構成であってもよい。<br>翻译：另外，在上述说明中，对于透镜模块LM，以层叠两片透镜阵列L1、L2的结构为例进行了说明，但透镜模块LM也可以是层叠三片以上的透镜阵列的结构。 | 目标专利的技术特征J限定了包含第三透镜阵列的第三透明晶片。对比文件在[0068]中明确说明，透镜模块LM可以具有层叠三片以上透镜阵列的结构。这意味着除了已公开的第一（L1）、第二（L2）透镜阵列外，还可以存在第三透镜阵列。因此，本领域技术人员能够从对比文件中合理推断出“第三透明晶片，其包含第三透镜阵列”这一技术方案的存在，属于隐含公开。 |
| 技术特征K：第二隔片晶片，其定位于所述第二透明晶片与所述第三透明晶片之间且包括包含开口阵列的所述隔片材料《隐含公开》 | [0068] ...レンズモジュールLMは、３枚以上のレンズアレイを積層した構成であってもよい。<br>翻译：...透镜模块LM也可以是层叠三片以上的透镜阵列的结构。 | 结合技术特征C的论述，对比文件公开了使用嵌合部和/或肋作为间隔部件（隔片材料）。当堆叠三个以上透镜阵列时（[0068]），必然需要在相邻的阵列（如第二和第三阵列）之间设置间隔结构，以实现物理分离和透镜容纳。因此，本领域技术人员可以合理推断，在第二与第三透明晶片之间也存在类似功能的隔片结构（无论其具体形式是独立的晶片还是集成在基板上的结构），其包含允许透镜伸入的开口。该技术特征被隐含公开。 |
| 技术特征L：及第三对准标记，其设置于所述第三透明晶片上，所述第三对准标记包括与所述第一组同心环带及所述第二组同心环带互补且定位于所述第三透镜阵列中的第三透镜周围的第三组重复标记，所述第三透镜与所述第一透镜及所述第二透镜形成光学堆叠。《未公开》 | [0068] ...レンズモジュールLMは、３枚以上のレンズアレイを積層した構成であってもよい。<br>翻译：...透镜模块LM也可以是层叠三片以上的透镜阵列的结构。 | 对比文件仅提及可以堆叠三个以上阵列的可能性，但未具体描述第三阵列上的对准标记，更没有描述该标记是“与第一、第二组同心环带互补的第三组重复标记”以及“定位于第三透镜周围”。目标专利中这种多层互补标记的特定设计是对准系统的一部分，对比文件未给出任何教导或启示。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征M：其进一步包括：第三透明晶片，其包含第三透镜阵列《隐含公开》 | 同技术特征J的引用及论述。 | 同技术特征J，该技术特征被隐含公开。<<<j>>> |
| 技术特征N：第二隔片晶片，其定位于所述第二透明晶片与所述第三透明晶片之间且包括包含开口阵列的所述隔片材料《隐含公开》 | 同技术特征K的引用及论述。 | 同技术特征K，该技术特征被隐含公开。<<<k>>> |
| 技术特征O：第三对准标记，其设置于所述第三透明晶片上，所述第三对准标记包括定位于所述第三透镜阵列中的第三透镜周围的第三组重复标记，所述第三透镜与所述第二透镜阵列中的第四透镜形成一对《未公开》 | [0068] ...レンズモジュールLMは、３枚以上のレンズアレイを積層した構成であってもよい。<br>翻译：...透镜模块LM也可以是层叠三片以上的透镜阵列的结构。 | 对比文件未描述第三透明晶片上对准标记的具体属性（如“第三组重复标记”、“定位于第三透镜周围”），也未描述第三透镜与第四透镜形成对。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征P：第四对准标记，其设置于所述第二透明晶片上，所述第四对准标记包括与所述第三组重复标记互补且定位于所述第四透镜周围的第四组重复标记。《未公开》 | 未找到相关描述。 | 对比文件未描述在第二透明晶片上设置用于与第三晶片对准的第四对准标记，更未描述其互补性及围绕透镜的布置。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征Q：其包括：将第一组同心环带安置于第一透明晶片的第一透镜阵列中的第一透镜周围《未公开》 | 未找到相关描述。 | 该技术特征是一种方法步骤，涉及安置特定的“第一组同心环带”。如前述，对比文件未公开“同心环带”这种特定类型的对准标记，因此该方法步骤未被公开。 |
| 技术特征R：将第二组同心环带安置于第二透明晶片的第二透镜阵列中的第二透镜周围，所述第二组同心环带与所述第一组同心环带互补《未公开》 | 未找到相关描述。 | 同技术特征Q，对比文件未公开互补的同心环带标记，因此该方法步骤未被公开。 |
| 技术特征S：通过所述第一透明晶片及所述第一组同心环带来检视所述第二组同心环带《隐含公开》 | [0050] 検査部160は、固定部材110の上方に配置され、固定板111の透明部を通して２つのレンズアレイL1、L2の基板10、20の位置を検査する。検査部160は、それぞれ基板10、20の表面に形成されたアライメントマークM1、M2に基づいて、レンズアレイL1、L2の位置の一致の程度を検査する。<br>翻译：检查部160配置在固定构件110的上方，透过固定板111的透明部检查两个透镜阵列L1、L2的基板10、20的位置。检查部160基于分别形成在基板10、20表面的对准标记M1、M2，检查透镜阵列L1、L2的位置的一致程度。 | 该技术特征是一种对准方法步骤：“通过第一透明晶片及第一组同心环带来检视第二组同心环带”。对比文件公开了通过检查部160（如显微镜）来观察两个透镜阵列上的对准标记M1和M2（[0050]）。为了观察下层（例如L2）的标记M2，必然需要透过上层的透明晶片（L1）进行观察。虽然对比文件中的标记不是“同心环带”，但“透过一个透明晶片观察另一个晶片上的标记”这一基本的检视动作和方法被公开了。因此，本领域技术人员可以从对比文件中合理推断出该步骤，属于隐含公开。 |
| 技术特征T：及使用所述第一组同心环带与所述第二组同心环带的重叠而将所述第一透明晶片对准到所述第二透明晶片,其中所述第一组同心环带和与所述第一组同心环带互补的所述第二组同心环带可经定大小及定位使得其在所述第一及第二透明晶片为光学对准时产生跨越所有环带的实心环带且在所述第一及第二透明晶片未对准时产生波纹效应。《未公开》 | [0055] この状態で、回転部材120を駆動し、回転ステージ121を回転軸Sの周りに回転させる。さらに、検査部160は、レンズアレイL1のアライメントマークM1とレンズアレイL2のアライメントマークM2とのずれ量を検出し、回転部材120は、ずれ量が零になるように回転ステージ121を回転させる。<br>翻译：在该状态下，驱动旋转构件120，使旋转台121绕旋转轴S旋转。进而，检查部160检测透镜阵列L1的对准标记M1与透镜阵列L2的对准标记M2的偏移量，旋转构件120以使偏移量为零的方式使旋转台121旋转。 | 对比文件公开了使用对准标记（M1， M2）的重叠（即偏移量为零）来将两个晶片对准的方法步骤（[0055]）。这是对准操作的通用原理。然而，技术特征T明确限定了使用的是具有特定视觉效果（实心环带和波纹效应）的“同心环带”的重叠来实现对准。对比文件未公开这种特定的标记类型和其对准则。因此，虽然“使用标记重叠进行对准”的广义概念被公开，但该技术特征中限定的具体方式（基于互补同心环带的莫尔效应）未被公开。 |
| 技术特征U：其中所述检视包括捕捉所述第一组同心环带及所述第二组同心环带的图像数据，且其中所述对准包括经由硬件处理器而比较所述图像数据与至少一个模板图像以确定所述第一组同心环带与所述第二组同心环带是否对准。《隐含公开》 | [0050] 検査部160は、固定部材110の上方に配置され、固定板111の透明部を通して２つのレンズアレイL1、L2の基板10、20の位置を検査する。検査部160は、それぞれ基板10、20の表面に形成されたアライメントマークM1、M2に基づいて、レンズアレイL1、L2の位置の一致の程度を検査する。<br>翻译：检查部160配置在固定构件110的上方，透过固定板111的透明部检查两个透镜阵列L1、L2的基板10、20的位置。检查部160基于分别形成在基板10、20表面的对准标记M1、M2，检查透镜阵列L1、L2的位置的一致程度。<br>[0056] また、回転部材120および検出部160の各駆動は、図示しないコンピュータを用いる制御部により一元的に制御してもよい。<br>翻译：另外，旋转构件120以及检测部160的各驱动，也可以由使用未图示的计算机的控制部集中控制。 | 该技术特征限定了自动化对准的具体方式：捕捉图像数据并通过硬件处理器比较图像数据与模板。对比文件公开了使用检查部160（可包含摄像机等图像传感器）来检测对准标记的位置（[0050]），这必然涉及捕捉包含标记的图像数据。同时，[0056]提到驱动可以由计算机控制，这意味着可以使用计算机（硬件处理器）来处理检测信号（如图像数据）并控制对准过程。虽然对比文件未明确提及“模板图像”比较，但在自动化视觉对准领域，将捕捉到的标记图像与预期的对准状态（可视为一种模板）进行比较是常见的实现方式。因此，本领域技术人员可以从对比文件公开的“计算机控制检测”中合理推断出通过硬件处理器比较图像数据以确定对准的方法，属于隐含公开。 |
| 技术特征V：其进一步包括：将分束器层安置于所述第一组同心环带与所述第二组同心环带之间的光学路径中心点处《未公开》 | 未找到相关描述。 | 对比文件未提及“分束器层”，因此该方法步骤未被公开。 |
| 技术特征W：使显微镜物镜聚焦于所述第二组同心环带上《隐含公开》 | [0050] 検査部160は、...固定板111の透明部を通して２つのレンズアレイL1、L2の基板10、20の位置を検査する。検査部160は、例えば、実体顕微鏡、拡大スコープ、ビデオ顕微鏡を用いる。<br>翻译：检查部160...透过固定板111的透明部检查两个透镜阵列L1、L2的基板10、20的位置。检查部160使用例如，立体显微镜、放大镜、视频显微镜。 | 该技术特征是一种方法步骤：“使显微镜物镜聚焦于所述第二组同心环带上”。对比文件公开了使用显微镜（如实体显微镜、视频显微镜）作为检查部160来检查对准标记的位置（[0050]）。为了清晰地观察标记，必须使显微镜物镜聚焦于标记所在平面。虽然对比文件未明确说明聚焦于“第二组”标记，但当观察堆叠的下层标记（如L2的M2）时，使物镜聚焦于该标记上是显微镜操作的必然要求。因此，本领域技术人员可以合理推断出该步骤，属于隐含公开。 |
| 技术特征X：检视所述第二组同心环带以及所述第一组同心环带经由所述分束器层的反射《未公开》 | 未找到相关描述。 | 该技术特征涉及通过分束器层同时观察上层标记的反射像和下层标记的透射像。这是目标专利分束器方案的核心操作。对比文件未公开任何分束器，因此也未公开通过分束器反射来检视标记的方法。 |
| 技术特征Y：及使用通过所述显微镜物镜所检视的所述第一组同心环带与所述第二组同心环带的重叠而将所述第一透明晶片对准到所述第二透明晶片。《未公开》 | 同技术特征T的论述。 | 虽然对比文件公开了使用显微镜检视标记重叠进行对准（结合[0050],[0055]），但技术特征Y明确限定了检视的对象是“第一组同心环带与第二组同心环带”。如前所述，对比文件未公开“同心环带”这种特定标记。因此，该技术特征中限定的具体对象未被公开。 |
| 技术特征Z：其中所述聚焦、所述检视及所述对准由一或多个物理计算装置以编程方式执行。《隐含公开》 | [0056] また、回転部材120および検出部160の各駆動は、図示しないコンピュータを用いる制御部により一元的に制御してもよい。<br>翻译：另外，旋转构件120以及检测部160的各驱动，也可以由使用未图示的计算机的控制部集中控制。 | 该技术特征限定了对准过程的自动化、程序化执行。对比文件在[0056]中明确公开了可以使用计算机（物理计算装置）对旋转构件（实现对准）和检测部（实现检视，可能包含聚焦控制）进行集中控制。这意味着聚焦、检视和对准这些步骤可以由计算机以编程方式驱动和执行。因此，该技术特征被隐含公开。 |
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