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对比文件列表
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2026-03-10 15:49
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对比文件名称:US2012188047A1_Description_20260219_0616

目标专利名称:具有变化厚度的电感器CN105493208B

模型名称:DeepSeek最新版本模型

### 特征比对表格

技术特征描述以及公开性判断结果对比文件原文引用公开性论述
**技术特征A《直接公开》**<br>包括:基板[0025] 第1-3行:“Inductor 200 is disposed on base 210...”<br>[0019] 第1行:“The inductor structure includes a base material...”对比文件明确公开了电感器结构包括基板(base material)或设置在基板(base 210)上。该基板在对比文件中作为电感器的支撑结构,与目标专利中基板的作用相同。因此,技术特征A被对比文件直接公开。
**技术特征B《隐含公开》**<br>以及布置在所述基板上的螺旋电感器,所述螺旋电感器是梯度层堆叠电感器,[0019] 第1-4行:“The inductor structure includes a base material; at least one bottom spiral conductor disposed on the base material; a middle spiral conductor disposed on the bottom spiral conductor; a top spiral conductor disposed on the middle spiral conductor...”<br>[0025] 第5-8行:“Top spiral conductor 100 has low sheet resistance compared to the remaining conductors... Conductors 102 and 104 make up a group 216 of thin metallization layers comprising spiral turns 218...”对比文件公开了布置在基板上的多层螺旋电感器结构,包括底部、中间和顶部螺旋导体(spiral conductor)堆叠而成。虽然对比文件没有明确使用“梯度层堆叠电感器”这一术语,但其描述的顶部螺旋导体厚、中间和底部螺旋导体薄的结构(见特征E论述),实质上构成了导体厚度在垂直方向(从下到上)变化的层堆叠电感器。本领域技术人员从这种厚度差异的堆叠结构,能够合理推断出这是一种具有变化厚度的层堆叠电感器。因此,技术特征B被对比文件隐含公开。
**技术特征C《隐含公开》**<br>其中所述螺旋电感器的最内匝的第一部分具有在垂直于所述基板的方向上的第一厚度[0025] 第8-10行:“The top conductor 100 has a thickness ‘t1’ measured in a vertical direction from the base 210 while the middle conductor 102 has a thickness t2 and bottom conductor(s) have thicknesses ‘t3-t4’ as shown in FIG. 2.”<br>结合附图2,底部螺旋导体104构成电感器的最内匝(因其位于最底层且通常起始于内端)。对比文件公开了底部螺旋导体(bottom spiral conductor 104)具有在垂直基板方向上的厚度t3或t4(见图2)。在多层螺旋电感器中,最底层导体的起始部分(即最内匝的一部分)自然由该底层导体构成。因此,底部螺旋导体104的厚度(t3/t4)可以被认为是“最内匝的第一部分”的厚度。虽然对比文件未明确使用“最内匝”一词,但本领域技术人员基于对螺旋电感器结构的常识,能够理解并推断出最底层螺旋导体的内圈部分即为电感器的最内匝。因此,技术特征C被对比文件隐含公开。
**技术特征D《隐含公开》**<br>,所述最内匝的第二部分具有在垂直于所述基板的方向上的第二厚度,[0025] 第8-10行(同上)。<br>结合附图2和结构描述,中间螺旋导体102覆盖在底部导体104之上。对比文件公开了中间螺旋导体(middle spiral conductor 102)具有厚度t2。在堆叠结构中,中间导体102覆盖在底部导体104的某一部分之上。对于由多层导体共同形成的“最内匝”,其第二部分可以由中间导体102覆盖在底部导体104上的重叠区域构成,该区域的垂直总厚度大于仅由底部导体构成的厚度。然而,更直接的理解是,在堆叠螺旋中,“最内匝”的不同部分可能由不同层的导体构成。中间导体102本身的厚度t2,可以被视为构成“最内匝第二部分”的导体的厚度。本领域技术人员能够合理推断这种结构可能性。因此,技术特征D被对比文件隐含公开。
**技术特征E《直接公开》**<br>其中所述第二厚度大于所述第一厚度,[0025] 第11-13行:“The top conductor 100 will have a thickness t1 which is greater than the thickness t2 of middle conductor 102. The top conductor thickness t1 will also be thicker than the thicknesses t3 and t4, of the bottom spiral conductor(s) 104.”<br>[0019] 第4-7行:“...wherein the bottom spiral conductor, middle spiral conductor and top spiral conductor each have a thickness measured vertically from the base material such that the thickness of the bottom spiral conductor and the thickness of the middle spiral conductor is less than the top spiral conductor...”对比文件明确且反复公开了顶部螺旋导体的厚度(t1)大于中间螺旋导体厚度(t2),也大于底部螺旋导体厚度(t3/t4)。虽然这是针对不同层导体之间的比较,但结合前述对特征C和D的隐含公开论述(即第一厚度对应底部导体厚度t3/t4,第二厚度对应中间导体厚度t2),可以得出第二厚度(t2)大于第一厚度(t3/t4)的结论。对比文件中厚度差异的作用是为了优化品质因数Q和电感密度,与目标专利中通过厚度差异减少涡流损耗、降低电阻的作用在“利用厚度变化改善电感器性能”的总体目的上相似。因此,技术特征E被对比文件直接公开。
**技术特征F《隐含公开》**<br>所述螺旋电感器的所述最内匝的第三部分具有在垂直于所述基板的方向上的第三厚度,[0025] 第8-10行(同上)。<br>结合附图2和结构描述,顶部螺旋导体100覆盖在中间导体102之上。对比文件公开了顶部螺旋导体(top spiral conductor 100)具有厚度t1。在堆叠结构中,顶部导体100覆盖在中间导体102的某一部分之上。对于由多层导体共同形成的“最内匝”,其第三部分可以由顶部导体100覆盖在中间和底部导体上的重叠区域构成。然而,更直接的理解是,顶部导体100本身的厚度t1,可以被视为构成“最内匝第三部分”的导体的厚度。本领域技术人员能够合理推断这种结构可能性。因此,技术特征F被对比文件隐含公开。
**技术特征G《直接公开》**<br>其中所述第三厚度大于所述第一厚度和所述第二厚度,[0025] 第11-13行(同特征E引用)。<br>[0019] 第4-7行(同特征E引用)。对比文件明确公开了顶部螺旋导体的厚度t1大于中间导体厚度t2和底部导体厚度t3/t4。结合前述对特征C、D、F的隐含公开论述(第一厚度对应t3/t4,第二厚度对应t2,第三厚度对应t1),可以得出第三厚度(t1)大于第一厚度(t3/t4)和第二厚度(t2)的结论。因此,技术特征G被对比文件直接公开。
**技术特征H《未公开》**<br>并且所述螺旋电感器在垂直于所述基板的方向上的厚度根据所述最内匝中从所述第一厚度到所述第三厚度的梯度而增大。未发现相关内容。目标专利的“梯度层堆叠电感器”核心特征之一是厚度在最内匝范围内“根据梯度而增大”,这意味着厚度在单一螺旋导体的同一匝内(最内匝)连续或阶梯式变化。对比文件虽然公开了不同层(顶部、中间、底部)的厚度不同(t1>t2>t3/t4),但每层导体自身的厚度是均匀的(见[0025]描述各导体厚度t1, t2, t3, t4)。其厚度变化是“层间”跳跃式的,而非在同一匝的“层内”或“沿最内匝”呈现梯度变化。对比文件未公开任何关于螺旋导体(尤其是最内匝)自身厚度沿其路径变化的内容。因此,技术特征H既未被直接公开,也未被隐含公开。
**技术特征I《未公开》**<br>其特征在于:所述螺旋电感器包括第一导电螺旋和第二导电螺旋,其中所述第一导电螺旋覆盖所述第二导电螺旋,所述最内匝的所述第一部分包括所述第二导电螺旋的第一端部且不覆盖所述第一导电螺旋,所述最内匝的所述第三部分包括所述第一导电螺旋的第一端部和所述第二导电螺旋的一部分,并且所述导电螺旋的最外匝的一部分包括所述第二导电螺旋的一部分和所述第一导电螺旋的一部分。对比文件公开了顶部(第一)、中间、底部(第二)等多个螺旋导体及其堆叠关系,但未明确描述“最内匝的第一部分仅包括第二导电螺旋(如底部导体)的端部且不覆盖第一导电螺旋(如顶部导体)”,以及“最内匝的第三部分同时包括第一和第二导电螺旋的端部”这种针对“最内匝”不同部分由不同层导体构成的特定布局关系。对比文件关注的是不同层导体的整体连接(串联或并联),而非目标专利权利要求I中限定的、沿最内匝路径上导体覆盖关系的精确分布。因此,技术特征I既未被直接公开,也未被隐含公开。
**技术特征J《未公开》**<br>其特征在于,所述第二导电螺旋的第一长度大于所述第一导电螺旋的第二长度。未发现相关内容。对比文件描述了顶部、中间、底部螺旋导体的匝数(n1, n2)和宽度(w1, w2)关系,但未公开任何关于“第二导电螺旋的长度”与“第一导电螺旋的长度”之间的大小比较。长度(length)不同于匝数(number of turns)。因此,技术特征J既未被直接公开,也未被隐含公开。
**技术特征K《未公开》**<br>其特征在于,所述螺旋电感器进一步包括在所述第二导电螺旋与所述第一导电螺旋之间的导电层,其中所述最内匝的所述第二部分包括所述第二导电螺旋的一部分和所述导电层的第一端部且不覆盖所述第一导电螺旋。对比文件公开了在底部和顶部螺旋导体之间存在“中间螺旋导体”(middle spiral conductor 102),其可视为位于两者之间的导电层。然而,目标专利特征K明确限定了“最内匝的第二部分包括第二导电螺旋的一部分和导电层的第一端部且不覆盖第一导电螺旋”。这是一种非常具体的、关于最内匝特定部分由哪几层导体构成且排除某一层的结构限定。对比文件未公开这种针对最内匝第二部分组成的特定描述。因此,技术特征K既未被直接公开,也未被隐含公开。
**技术特征L《未公开》**<br>其特征在于,所述导电层包括非连续螺旋。未发现相关内容。对比文件未提及中间螺旋导体或任何导电层是“非连续螺旋”。因此,技术特征L既未被直接公开,也未被隐含公开。
**技术特征M《未公开》**<br>其特征在于,所述导电层包括输入引线、输出引线、或其组合。未发现相关内容。对比文件未提及导电层(中间螺旋导体)包含输入或输出引线。引线连接是通过通孔(如via 212)实现的(见[0025])。因此,技术特征M既未被直接公开,也未被隐含公开。
**技术特征N《直接公开》**<br>其特征在于,进一步包括形成在所述第二导电螺旋与所述第一导电螺旋之间的钝化层。[0019] 第2-3行:“...and dielectric material separating the bottom, middle and top spiral conductors;”<br>[0013] 第5-7行:“Dielectric material is formed between the spiral turns of the conductors 100, 102, and 104, between the various conductors 100, 102, and 104 to separate the spiral conductors...”对比文件明确公开了在底部、中间、顶部螺旋导体之间形成有电介质材料(dielectric material)以隔离它们。在半导体制造领域,用于隔离和钝化作用的介电层通常可称为钝化层。该电介质层在对比文件中起到电气隔离螺旋导体的作用,与目标专利中钝化层的作用相同。因此,技术特征N被对比文件直接公开。
**技术特征O《直接公开》**<br>其特征在于,所述第二导电螺旋通过延伸穿过所述钝化层的一部分的通孔电连接至所述第一导电螺旋。[0025] 第3-5行:“The top conductor 100 is electrically connected to middle conductor 102 by via 206. Middle conductor 102 is connected to bottom conductor 104 by vias 208.”对比文件明确公开了通过通孔(via)实现不同层螺旋导体之间的电连接,例如顶部导体100通过通孔206连接至中间导体102,中间导体102通过通孔208连接至底部导体104。这些通孔必然延伸穿过它们之间的电介质层(即钝化层)。通孔在对比文件中用于建立所需的串联或并联电气连接,与目标专利中通孔的作用相同。因此,技术特征O被对比文件直接公开。
**技术特征P《未公开》**<br>其特征在于,所述最内匝在垂直于所述基板的方向上的厚度从所述最内匝的所述第一部分到所述最内匝的所述第二部分单调递增。未发现相关内容。目标专利特征P限定了最内匝自身的厚度从第一部分到第二部分“单调递增”。如对特征H的分析,对比文件公开的是不同层导体之间的厚度差异,而非同一匝(最内匝)沿其路径的厚度变化。因此,技术特征P既未被直接公开,也未被隐含公开。

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