对比文件名称：JP2009130191A_Description_20260304_2034
目标专利名称：基于功率密度的时钟单元间距CN108027843B
本次调用的模型名称：DeepSeek-R1
| 技术特征描述以及公开性判断结果 | 对比文件原文引用 | 公开性论述 |
| **技术特征A**：包括：具有第一禁布区的多个第一类型的时钟单元，所述第一类型具有第一功率使用密度<br>**《隐含公开》** | [0010] この半導体集積回路の設計方法は、配置禁止領域決定部が、第１回路ブロックの単位時間当たりの平均動作回数または使用電圧をもとに、前記第１回路ブロックの周辺に第１配置禁止領域を決定する工程と、配置部が、前記第１配置禁止領域に第２回路ブロックが配置されないように、前記第１回路ブロック及び前記第２回路ブロックを配置する工程と、を有する。<br>**译文**：该半导体集成电路的设计方法具有以下步骤：配置禁止区域决定部基于第一电路块的单位时间内的平均动作次数或使用电压，在第一电路块周边决定第一配置禁止区域；配置部以使得第二电路块不配置在第一配置禁止区域内的方式，配置第一电路块及第二电路块。 | 目标专利的“时钟单元”是对比文件中的“回路ブロック”（电路块）的一种具体类型。对比文件[0010]公开了基于特定参数（平均动作次数或使用电压）为第一电路块决定第一配置禁止区域（即第一禁布区），并配置多个此类电路块。平均动作次数和使用电压是影响电路块功率消耗（即功率使用密度）的关键因素。虽然对比文件未明确限定为“时钟单元”，但本领域技术人员公知时钟单元是集成电路中一类重要的、具有特定时序功能的电路块，其功率消耗和噪声问题尤为突出。因此，在对比文件公开的“基于平均动作次数/使用电压为电路块设置禁布区”这一整体技术方案背景下，本领域技术人员能够合理推断，可以将该技术应用于“时钟单元”这一具体类型的电路块，从而隐含公开了技术特征A。 |
| **技术特征B**：具有第二禁布区的多个第二类型的时钟单元<br>**《隐含公开》** | [0010] ...配置部が、前記第１配置禁止領域に第２回路ブロックが配置されないように、前記第１回路ブロック及び前記第２回路ブロックを配置する工程...<br>[0044] セル配置部６６は、平均動作回数算出手段６６ａ、配置優先度決定手段６６ｂ、セル配置手段６６ｃ、配置禁止幅決定手段６６ｄ、配置禁止領域設定手段６６ｅ、セル拡張幅決定手段６６ｆ、セル入れ替え手段６６ｇを有している。<br>**译文**：...配置部以使得第二电路块不配置在第一配置禁止区域内的方式，配置第一电路块及第二电路块...<br>单元配置部66具有平均动作次数计算手段66a、配置优先级决定手段66b、单元配置手段66c、配置禁止宽度决定手段66d、配置禁止区域设定手段66e、单元扩展宽度决定手段66f、单元替换手段66g。 | 对比文件[0010]明确提到了“第２回路ブロック”（第二电路块），并且其配置需要避开第一电路块的禁布区，这必然意味着第二电路块自身也有其配置规则或区域限制。结合[0044]及后续描述（例如[0055]为每个单元设置配置禁止区域），本领域技术人员可以理解，第二电路块同样会基于其自身的参数（平均动作次数或使用电压）被分配一个配置禁止区域（即第二禁布区）。因此，对比文件隐含公开了具有各自禁布区的多种类型（第一、第二）的电路块（时钟单元）。 |
| **技术特征C**：，所述第二类型具有第二功率使用密度，<br>**《隐含公开》** | [0016] 最低セル配置間隔決定部１３は、個々のセルの平均動作回数と、使用電圧からセルごとに最低セル配置間隔を決定することで配置禁止領域を決定する。<br>**译文**：最低单元配置间隔决定部13基于各个单元的平均动作次数和使用电压，为每个单元决定最低单元配置间隔，从而决定配置禁止区域。 | 目标专利的“功率使用密度”是单位面积或单位体积的功耗。对比文件用于决定禁布区的关键参数是“平均動作回数”（平均动作次数）和“使用電圧”（使用电压）。本领域技术人员熟知，电路的功耗（功率使用）与其工作频率（动作次数）和工作电压直接相关。因此，平均动作次数和使用电压是决定电路块功率使用密度（或至少是其相对大小）的有效代理指标。对比文件[0016]公开了基于每个单元（包括第二类型的单元）的平均动作次数和使用电压来决定其配置规则，这隐含了每个类型的单元具有基于其自身参数决定的功率特性，即隐含公开了“第二类型具有第二功率使用密度”。 |
| **技术特征D**：所述第一和所述第二功率使用密度是不同的<br>**《隐含公开》** | [0016] ...平均動作回数が多いほどノイズが増加しやすいため、最低セル配置間隔を広げる。また、使用電圧が低いほど、ノイズの影響を受けやすくなるため、最低セル配置間隔を広げる。<br>**译文**：...平均动作次数越多越容易增加噪声，因此要加宽最低单元配置间隔。另外，使用电压越低越容易受到噪声影响，因此要加宽最低单元配置间隔。 | 对比文件[0016]明确指出，不同的单元可能具有不同的平均动作次数和使用电压，并且根据这些参数的不同，为其设置的“最低セル配置間隔”（最低单元配置间隔，即禁布区的决定因素）也不同。这直接意味着不同单元（即第一类型和第二类型）的功率特性（由动作次数和电压反映）是不同的，因为如果相同，则其配置间隔规则也应相同。因此，对比文件隐含公开了第一和第二类型的功率使用密度（或其决定因素）是不同的。 |
| **技术特征E**：，所述第一和第二功率使用密度中较高的一者具有比所述第一和第二功率使用密度中较低的一者更大的禁布区<br>**《直接公开》** | [0016] 平均動作回数が多いほどノイズが増加しやすいため、最低セル配置間隔を広げる。また、使用電圧が低いほど、ノイズの影響を受けやすくなるため、最低セル配置間隔を広げる。<br>[0056] 配置禁止幅は、平均動作回数及び使用電圧をもとに決定される。図のように、配置禁止幅は、平均動作回数が多く、使用電圧が低いほど広くなるようにしている。<br>**译文**：平均动作次数越多越容易增加噪声，因此要加宽最低单元配置间隔。另外，使用电压越低越容易受到噪声影响，因此要加宽最低单元配置间隔。<br>配置禁止宽度是基于平均动作次数和使用电压决定的。如图所示，配置禁止宽度被设定为平均动作次数越多、使用电压越低则越宽。 | 目标专利中“功率使用密度较高”对应更大的热/IR降风险，需要更大的禁布区来缓解。对比文件中，“平均動作回数が多い”（平均动作次数多）和“使用電圧が低い”（使用电压低）是导致噪声（包括电源噪声，与IR降和热问题相关）风险增大的因素。对比文件[0016]和[0056]明确教导：平均动作次数越多，或使用电压越低，则配置禁止区域的宽度（即禁布区尺寸）越大。虽然对比文件从“噪声易感性”角度出发，而目标专利从“功率密度/热效应”角度出发，但两者解决的是集成电路中因电路活动导致的类似物理问题（局部功耗集中）。对于本领域技术人员而言，功率密度高通常意味着平均开关活动（动作次数）高或在特定电压下的功耗大。因此，对比文件直接公开了：基于反映功率/噪声风险的参数（动作次数多或电压低），为风险更高的单元设置更大的禁布区。这本质上公开了“风险较高者（对应于功率使用密度较高者）具有更大的禁布区”。 |
| **技术特征F**：以及所述多个第一类型的时钟单元和所述多个第二类型的时钟单元在所述集成电路上的布局，<br>**《隐含公开》** | [0010] ...配置部が...前記第１回路ブロック及び前記第２回路ブロックを配置する工程...<br>[0018] セル配置部１４は、決定された最低セル配置間隔を満たすように、セルを配置していく。<br>**译文**：...配置部...配置第一电路块及第二电路块的步骤...<br>单元配置部14以满足所决定的最低单元配置间隔的方式，进行单元的配置。 | 对比文件[0010]和[0018]明确公开了配置部执行对第一电路块和第二电路块的配置，这必然导致这些电路块在集成电路上形成一种布局。因此，对比文件隐含公开了包含多种类型单元的布局。 |
| **技术特征G**：所述布局将所述多个第一类型的时钟单元与所述多个第二类型的时钟单元分开，以使得相应时钟单元的相应禁布区不重叠。<br>**《直接公开》** | [0010] ...配置部が、前記第１配置禁止領域に第２回路ブロックが配置されないように、前記第１回路ブロック及び前記第２回路ブロックを配置する工程...<br>[0058] ２番目に配置するセル７４−２は、前に配置したセル７４−１に設定された配置禁止領域７５−１内に入らないように配置される。<br>**译文**：...配置部以使得第二电路块不配置在第一配置禁止区域内的方式，配置第一电路块及第二电路块...<br>第二个要配置的单元74-2被配置为不进入先前配置的单元74-1所设定的配置禁止区域75-1内。 | 对比文件[0010]的核心教导之一就是配置时确保第二电路块不进入第一电路块的配置禁止区域（第一禁布区）。[0058]进一步具体说明了后配置的单元要避开先配置单元的禁止区域。这直接且毫无疑义地公开了布局时使得一个单元的禁布区内不配置其他单元，即实现了禁布区不重叠的布局目标。虽然[0021]和[0058]提到禁止区域之间可以重叠（overlap），但这是一种可选的、为了节省空间的设计选择，而非必须。其核心的、被明确记载的配置规则仍然是“配置禁止領域に...配置されないように”（以不配置在配置禁止区域内的方式），这直接对应于特征G的“不重叠”要求。当选择不重叠时，即完全公开了特征G。 |
| **技术特征H**：其特征在于，所述第一和第二禁布区具有分别与所述第一和第二功率使用密度成比例的尺寸。<br>**《隐含公开》** | [0016] 最低セル配置間隔決定部１３は、個々のセルの平均動作回数と、使用電圧からセルごとに最低セル配置間隔を決定することで配置禁止領域を決定する。平均動作回数が多いほどノイズが増加しやすいため、最低セル配置間隔を広げる。また、使用電圧が低いほど、ノイズの影響を受けやすくなるため、最低セル配置間隔を広げる。<br>[0056] ...配置禁止幅は、平均動作回数が多く、使用電圧が低いほど広くなるようにしている。<br>**译文**：最低单元配置间隔决定部13基于各个单元的平均动作次数和使用电压，为每个单元决定最低单元配置间隔，从而决定配置禁止区域。平均动作次数越多越容易增加噪声，因此要加宽最低单元配置间隔。另外，使用电压越低越容易受到噪声影响，因此要加宽最低单元配置间隔。<br>...配置禁止宽度被设定为平均动作次数越多、使用电压越低则越宽。 | 如对特征C和E的论述，对比文件中用于决定禁布区尺寸（配置禁止宽度）的参数（平均动作次数、使用电压）与功率使用密度密切相关。对比文件[0016]和[0056]明确教导了禁布区的尺寸（宽度）随着反映功率/噪声风险的参数（动作次数多、电压低）的增大/减小而增大。这建立了一种比例或正相关关系。虽然未使用“功率使用密度”这一术语，也未精确限定为线性比例，但本领域技术人员能够从“基于...决定”、“...越多/越低...越宽”的表述中，合理推断出禁布区尺寸与这些功率相关参数之间存在对应关系，即尺寸与（由这些参数反映的）功率使用密度成比例。因此，该特征被对比文件隐含公开。 |
| **技术特征I**：其特征在于，所述第一类型的时钟单元是矩形的，且所述第一禁布区是包围所述第一类型的时钟单元中的每一者的矩形。<br>**《隐含公开》** | [0055] セル７４−１の周囲には、セル７４−１を配置禁止幅だけ広げた大きさの配置禁止領域７５−１が設定されている。<br>図９（参照）<br>**译文**：在单元74-1的周围，设定了将单元74-1扩大了配置禁止宽度的大小的配置禁止区域75-1。<br>（参见图9） | 在集成电路物理设计领域，标准单元（包括时钟单元）通常被设计为具有矩形边界以方便布局布线。对比文件全文提及的“セル”（单元）即指此类标准单元。对比文件[0055]描述“将单元扩大了配置禁止宽度的大小”来设置配置禁止区域，结合图9所示的布局示意图，本领域技术人员可以毫无困难地理解，该“扩大”操作是在单元原有矩形边界的基础上，在各个方向上扩展一个宽度，从而自然形成一个包围原单元的新矩形区域。因此，对比文件隐含公开了矩形单元及其矩形的禁布区。 |
| **技术特征J**：其特征在于，所述第一禁布区具有相同的宽度间距和高度间距，所述宽度间距具有距所述第一类型的时钟单元的两个宽度边界中的每一者的距离，且所述高度间距具有距所述第一类型的时钟单元的两个高度边界中的每一者的距离。<br>**《隐含公开》** | [0055] セル７４−１の周囲には、セル７４−１を配置禁止幅だけ広げた大きさの配置禁止領域７５−１が設定されている。<br>**译文**：在单元74-1的周围，设定了将单元74-1扩大了配置禁止宽度的大小的配置禁止区域75-1。 | 对比文件[0055]描述的是“配置禁止幅”（配置禁止宽度）。在未特别说明的情况下，本领域技术人员在实施“将单元扩大一个宽度以形成禁布区”时，通常会理解为在单元的所有边（包括宽度方向和高度方向的边界）向外扩展相同的距离，从而形成一个均匀的、等间距的包围区域。这是实现简单禁布区的最常规、最直接的方式。因此，尽管对比文件未明确说明“高度间距”，但基于常规技术实践和“広げた”（扩大）这一描述，可以合理推断出该禁布区在宽度和高度方向具有相同的间距，即隐含公开了技术特征J。 |
| **技术特征K**：其特征在于，所述第一禁布区被形成为自由角禁布区，所述自由角禁布区具有距所述第一类型的时钟单元的宽度和高度边界的宽度和高度间距。<br>**《未公开》** | 无相应记载。 | 目标专利说明书[0050]-[0051]及图6具体描述了“自由角禁布区”这一特定形状，其特征是在矩形的宽度和高度边界处有间距，但在角部（自由空间614）没有间距，即禁布区不是完整的矩形包围框。对比文件全文仅描述了通过“扩大”单元形成禁布区，这必然形成一个完整的、包括角部在内的封闭区域（如图9、11所示）。对比文件没有给出任何关于仅在边界设置间距而角部空出的禁布区形状的教导或启示。因此，对比文件既未直接公开也未隐含公开“自由角禁布区”这一具体技术特征。 |
| **技术特征L**：其特征在于，所述第一禁布区被形成为半角禁布区，所述半角禁布区具有距所述第一类型的时钟单元的宽度和高度边界的宽度和高度间距，以及半角间距，所述半角间距以所述宽度和高度间距最接近所述第一类型的时钟单元的角的边以及从所述宽度和高度间距的所述边的端点的线为界。<br>**《未公开》** | 无相应记载。 | 目标专利说明书[0051]及图6具体描述了“半角禁布区”这一特定形状，其角部由一条连接宽度和高度间距边端点的直线界定，形成半角。对比文件完全没有提及或暗示任何关于通过直线界定角部以形成特定形状禁布区的技术内容。因此，该特征未被对比文件公开。 |
| **技术特征M**：其特征在于，所述第一禁布区被形成为弧形角禁布区，所述弧形角禁布区具有距所述第一类型的时钟单元的宽度和高度边界的宽度和高度间距，以及弧形角间距，所述弧形角间距以所述宽度和高度间距最接近所述第一类型的时钟单元的角的边以及从所述宽度和高度间距的所述边的端点的弧形凸线为界。<br>**《未公开》** | 无相应记载。 | 目标专利说明书[0052]及图6具体描述了“弧形角禁布区”这一特定形状，其角部由一条弧线界定。对比文件完全没有提及或暗示任何关于通过弧形凸线界定角部以形成特定形状禁布区的技术内容。因此，该特征未被对比文件公开。 |
| **技术特征N**：其特征在于，所述弧形凸线是来自所述宽度和高度间距的所述边的端点的弧线。<br>**《未公开》** | 无相应记载。 | 该特征是对特征M中“弧形角禁布区”的进一步限定，说明弧形凸线的具体构成。由于特征M未被公开，因此该进一步的限定特征N也未被公开。 |
| **技术特征O**：其特征在于，所述第一禁布区具有小于所述第一功率使用密度的功率使用密度，并且所述第二禁布区具有小于所述第二功率使用密度的功率使用密度。<br>**《未公开》** | 无相应记载。 | 目标专利该特征的含义是：通过设置禁布区（即让出空间），使得时钟单元及其周围禁布区所覆盖的整体区域的平均功率密度（即功率使用密度）低于时钟单元本身的功率密度。这是目标专利解决热问题的核心物理原理之一（参见说明书[0043]数学式）。对比文件关注的是通过设置禁止区域来避免单元过于靠近以抑制噪声（[0016]），并未提及或涉及“禁布区内的功率使用密度”这一概念，也没有教导通过扩大区域来降低平均功率密度以解决热问题的思想。因此，该特征未被对比文件公开。 |
| **技术特征P**：其特征在于，所述第一禁布区和所述第二禁布区的尺寸是基于避免由所述第一和第二功率使用密度导致的负面热效应的目标功率使用密度来选择的。<br>**《未公开》** | 无相应记载。 | 目标专利该特征明确指出了设置禁布区尺寸的目的是为了避免“负面热效应”，且依据是“目标功率使用密度”。对比文件设置配置禁止区域尺寸的目的是为了抑制“ノイズ”（噪声），特别是电源噪声和串扰噪声（[0002]-[0004], [0016]）。虽然电源噪声与IR降有关，而IR降可能与热效应相关，但对比文件从未将“热效应”（thermal effect）作为设计禁布区的考量目标或直接原因。其技术问题、技术手段的目的均围绕“噪声”展开，而非“热”。因此，该特征未被对比文件公开。 |
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