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对比文件列表
1993-11-30_US5267016A_发明授权_US5267016A Laser diode distance measurement_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_P_Q_R_S_U_V_Y+++.docx
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1995-07-13_DE4400680A_发明专利_DE4400680A1 Measurement of positional change using self-mixing interference laser_+++A_C_D_E_G_H_I_J_P_Q_b_f_l+++.docx
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1995-11-02_DE4400680C_发明专利_DE4400680C2 Device for determining changes in distance of an object_+++A_C_D_E_G_H_I_J_P_Q_b_f_y+++.docx
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1997-01-14_US5594543A_发明授权_US5594543A Laser diode radar with extended range_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_P_Q_R_S_U_V_k_y+++.docx
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1999-10-19_None_发明专利_JPH11287860A Laser measuring apparatus_+++A_C_D_E_G_H_I_J_L_P+++.docx
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2000-08-08_US6100965A_发明授权_US6100965A Laser speed measurement and range finding device_+++A_B_C_D_E_G_H_I_J_L_O_P_Q_y+++.docx
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2001-05-15_US6233045B_发明授权_US06233045B1 Self-mixing sensor apparatus and method_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_P_Q_R_S_U_V_Y+++.docx
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2001-09-21_JP2001255202A_发明专利_JP2001255202A Device and method for measuring vibration_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_Q_R_S_U_V_w_y+++.docx
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2002-05-10_WO2002037410A_发明申请_WO02037410A1 METHOD OF MEASURING THE MOVEMENT OF AN INPUT DEVICE_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_Q_R_S_U_V_Y+++.docx
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2003-05-07_CN1416554A_发明公开_CN1416554A 用于测量手指运动的光学输入设备_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_Q_R_S_U_V_Y_o_x+++.docx
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2003-11-27_WO2003098527A_发明申请_WO03098527A2 APPARATUS COMPRISING AN OPTICAL INPUT DEVICE AND AT LEAST ONE FURTHER OPTICAL DEVICE HAVING A COMMON RADIATION SOURCE_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_Q_R_S_U_V_Y+++.docx
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2004-04-30_JP2004513352A_发明专利_JP2004513352A Method of measuring the movement of the input device_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_Q_R_S_U_V_Y_t+++.docx
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2005-08-18_WO2005076116A_发明申请_WO2005076116A2 OPTICAL INPUT DEVICE BASED ON DOPPLER SHIFT AND LASER SELF-MIXING_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_L_Q_R_S_U_V_X_Y+++.docx
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1993-11-30_US5267016A_发明授权_US5267016A Laser diode distance measurement_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_P_Q_R_S_U_V_Y+++.docx

对比文件名称:1993-11-30_US5267016A_发明授权_US5267016A Laser diode distance measurement

目标专利名称:1278测量相对运动的器件和方法CN101341421B

本次调用的模型名称:DeepSeek

## 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用(中文翻译)公开性论述
技术特征A:所述器件包括至少一个激光器(3) 《直接公开》对比文件“BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION”部分记载:“一种激光二极管距离测量装置包括已知的激光二极管10”。激光二极管10即为激光器,直接公开技术特征A。
技术特征B:会聚装置(10) 《直接公开》对比文件同一部分记载:“……已知的透镜22……”。透镜22用于会聚光束,相当于会聚装置,直接公开。
技术特征C:和测量装置(4) 《直接公开》对比文件记载:“后腔面14发射发散光28,入射到光电探测器30上……距离测量电路18……”。光电探测器30和电路18构成测量装置,直接公开。
技术特征D:所述至少一个激光器具有激光腔(20) 《直接公开》对比文件“BACKGROUND ART”部分记载:“激光二极管通常具有光学腔,包括两个相对抛光的端面……”。激光二极管具有激光腔,直接公开。
技术特征E:所述激光腔(20)用于产生测量射束(13) 《直接公开》对比文件记载:“激光二极管10发射出射光20……”。激光腔用于产生激光射束,直接公开。
技术特征F:所述会聚装置(10)用于将所述测量射束(13)会聚在作用面 《直接公开》对比文件“BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION”部分记载:“透镜22将发散光20转换为聚焦光束24。光束24聚焦在距透镜22固定距离L1处,例如两英尺。”透镜将测量射束会聚在目标所在平面(作用面),直接公开。
技术特征G:并将由所述物体所反射的测量射束辐射会聚在所述激光腔(20)中 《直接公开》对比文件记载:“来自透镜22的相干光从目标26反射,通过透镜22返回激光二极管10的前端面12,进入激光腔。”反射辐射被会聚回激光腔,直接公开。
技术特征H:以在所述激光器(3)中产生自混合效应 《直接公开》对比文件“BACKGROUND ART”部分记载:“外部光反馈显著影响激光二极管的行为……在激光器内部发生相干干涉。”以及“BEST MODE”部分:“在激光二极管10内部发生相长干涉。”相干干涉即自混合效应,直接公开。
技术特征I:所述测量装置(4)用于测量所述自混合效应的结果 《直接公开》对比文件记载:“后腔面14发射的光28入射到光电探测器30上……输出光28表现出与目标距离相关的强度脉冲。”强度脉冲是自混合效应的结果,光电探测器测量该结果,直接公开。
技术特征J:所述效应由所述相对运动确定 《直接公开》对比文件“BACKGROUND ART”部分记载:“如果目标在运动,由于多普勒效应,会出现额外脉冲。”相对运动引起多普勒效应,从而影响自混合效应,直接公开。
技术特征K:其中,将所述会聚装置(10)布置成跨越延伸超过所述测量射束辐射的相干长度的距离范围而将所述测量射束(13)聚焦 《未公开》对比文件“BACKGROUND ART”部分记载:“从激光到外部表面的距离必须不超过半相干长度……因为光必须在整个传播距离上保持相干。”对比文件明确要求距离不超过相干长度,未教导跨越超过相干长度聚焦,且相反教导,因此未公开。
技术特征L:将所述测量装置(4)构造成确定所述测量射束(13)与由物体所反射的所述激光腔(20)内的测量射束辐射之间的频率差异 《未公开》对比文件未公开该内容。对比文件测量的是强度脉冲,而非直接测量频率差异。对比文件通过计数强度脉冲确定距离,未公开确定频率差异的测量装置,因此未公开。
技术特征M:将所述测量装置(4)构造成确定由所述反射的测量射束辐射所产生的噪声光谱的平均频率漂移 《未公开》对比文件未提及噪声光谱平均频率漂移。对比文件未公开该特征。
技术特征N:将所述测量装置(4)构造成确定由所述反射的测量射束辐射所产生的噪声光谱的瞬时频率漂移 《未公开》对比文件未提及。未公开。
技术特征O:将所述测量装置(4)构造成进行频率漂移的反射测量射束辐射和频率未漂移的反射测量射束辐射的时域探测 《未公开》对比文件未公开时域探测频率差异。未公开。
技术特征P:所述器件用于测量所述物体(15)的运动以及所述器件与所述物体(15)之间的距离 《直接公开》对比文件“BACKGROUND ART”部分记载:“如果目标在运动,会出现额外脉冲……”,以及“BEST MODE”部分通过上下计数可同时获得距离和速度信息。对比文件可测量距离和运动速度,因此直接公开。
技术特征Q:设有用于控制所述至少一个激光器(3)的控制装置 《直接公开》对比文件“BEST MODE”部分记载:函数发生器100和激光驱动器104提供驱动电流。控制装置用于控制激光器,直接公开。
技术特征R:将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供周期性地变动的电流 《直接公开》对比文件记载:“本发明用电流驱动(上斜坡)波形信号驱动激光二极管10,该信号包括正斜率斜坡后跟零斜率下降台阶。”周期性变动的电流(斜坡信号)直接公开。
技术特征S:所述电流引起所述测量射束波长的周期性变动 《直接公开》对比文件“BACKGROUND ART”部分记载:“如果改变激光二极管的电流,激光器工作的光频率会相应改变。”电流变化引起波长(频率)周期性变动,直接公开。
技术特征T:以使所述反射的测量射束辐射的光谱基本上与由所述至少一个激光器(3)所产生的测量射束辐射重叠 《未公开》对比文件未公开该特征。对比文件未提及光谱重叠条件,未公开。
技术特征U:将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供周期性地变动的电流 《直接公开》同特征R,对比文件记载提供周期性斜坡电流。直接公开。
技术特征V:所述电流引起所述测量射束波长的周期性变动 《直接公开》同特征S,对比文件记载电流变化引起频率变化。直接公开。
技术特征W:以使所述反射的测量射束辐射的光谱至多部分地与由所述至少一个激光器(3)所产生的测量射束辐射重叠 《未公开》对比文件未公开。未公开。
技术特征X:将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供脉动电流 《未公开》对比文件未提供脉动电流,提供的是斜坡电流。未公开。
技术特征Y:所述会聚装置(10)具有固定的焦点 《直接公开》对比文件记载:“光束24聚焦在距透镜22固定距离L1处,例如两英尺。”透镜具有固定焦点,直接公开。

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