2016-01-07_KR1020160002407A_发明公开_KR1020160002407A 저굴절률층을 갖는 광학 부재_+++A_C_R_S_W_Y_Z_b+++.docx

本次评估中,对比文件为“2016-01-07_KR1020160002407A_发明公开_KR1020160002407A 저굴절률층을 갖는 광학 부재”(具有低折射率层的光学元件),目标专利为“1641抗反射膜CN108473791B”,本次调用的模型为大语言模型。

以下为特征比对表格,对目标专利权利要求的各技术特征进行公开性判断。特征划分严格按目标专利权利要求执行,对比文件引用内容均翻译为中文,并注明段落标号。公开性判断包括直接公开和隐含公开(标准宽松),若未公开则第三栏注明“无对应公开内容”。

技术特征描述及公开性判断对比文件原文引用(中文翻译)公开性论述
**技术特征A**:包括:包含粘合剂树脂和分散在所述粘合剂树脂中的无机细颗粒的低折射率层<br>《直接公开》[0023] “所述低折射率层包含第一粘合剂;所述第一粘合剂中分布的中空颗粒;以及与中空颗粒不相容的含氟聚合物。”<br>[0025] “所述中空颗粒可为中空二氧化硅颗粒。”对比文件明确公开低折射率层含有第一粘合剂(相当于粘合剂树脂)和分散的中空颗粒,中空颗粒为无机二氧化硅细颗粒,与目标专利技术特征A完全相同,直接公开。
**技术特征B**:所述粘合剂树脂包含可光聚合化合物、含有光反应性官能团的基于氟的化合物与取代有一个或更多个反应性官能团的聚倍半硅氧烷的交联聚合物<br>《隐含公开》[0037] “所述第一粘合剂还可包含倍半硅氧烷。”<br>[0094] “所述第一粘合剂包含光固化含氟树脂,由一般式(4)~(5)的光聚合性含氟单体聚合而成。”<br>[0100] “倍半硅氧烷具有很多键合基团,可与周围的光固化含氟树脂或中空颗粒结合。”<br>[0096] “结构单元A可来自非氟共聚单体,包括(甲基)丙烯酸酯等。”对比文件中第一粘合剂由光聚合性含氟单体(相当于含氟化合物)形成,并可包含倍半硅氧烷,且倍半硅氧烷具有键合基团能与树脂结合形成交联[0100]。同时,粘合剂中可包含非氟可光聚合单体(如(甲基)丙烯酸酯)[0096]。本领域技术人员由此可合理推断粘合剂包含可光聚合化合物、含氟化合物与聚倍半硅氧烷的交联聚合物,故隐含公开。
**技术特征C**:和硬涂层<br>《直接公开》[0039] “所述光学元件还包括位于基材与低折射率层之间的硬涂层,所述硬涂层包含第二粘合剂和金属氧化物颗粒。”对比文件明确记载硬涂层及其组成,与目标专利技术特征C一致,直接公开。
**技术特征D**:其中所述抗反射膜的内部雾度Hi与总雾度Ha的比率为97%或更小<br>《未公开》无对应公开内容对比文件全文未提及内部雾度、总雾度或它们的比率,无直接或隐含公开。
**技术特征E**:所述抗反射膜在碱处理之前和之后的色坐标值b*的变化为0.7或更小<br>《未公开》无对应公开内容对比文件未涉及碱处理及色坐标变化,无公开。
**技术特征F**:其中所述含有光反应性官能团的基于氟的化合物的氟含量为1重量%至60重量%<br>《未公开》无对应公开内容对比文件未给出氟含量的具体数值范围,无公开。
**技术特征G**:其中所述含有光反应性官能团的基于氟的化合物的重均分子量为2000至200000;并且中所述抗反射膜在碱处理之前和之后的色坐标值b*的变化通过在碱处理之前和之后测量所述抗反射膜的色坐标值来确定,在所述碱处理中将所述抗反射膜浸渍在用蒸馏水稀释至5%至50%的水性碱溶液中1秒至100秒<br>《未公开》关于重均分子量:[0111] “光聚合性含氟聚合物的重均分子量(Mw)优选小于10,000,例如3,000以上。”<br>关于碱处理:无对应公开内容。对比文件虽公开了含氟聚合物的重均分子量约为3,000~10,000,但未涵盖目标专利的2000~200,000范围,且对碱处理条件(浓度、时间)完全未提及,故未公开。
**技术特征H**:其中当将所述低折射率层的通过椭圆偏光法测量的偏振椭圆度拟合至以下一般公式1的柯西模型时,满足条件A为1.20至1.65<br>《未公开》无对应公开内容对比文件未涉及椭圆偏光法测量及柯西参数,无公开。
**技术特征I**:B为0至0.05<br>《未公开》无对应公开内容同上,未公开。
**技术特征J**:C为0至0.05<br>《未公开》无对应公开内容同上,未公开。
**技术特征K**:[一般公式1] 其中,在以上一般公式1中,n(λ)是波长为λ时的折射率,λ在300nm至1800nm的范围内<br>《未公开》无对应公开内容对比文件未给出上述公式及参数范围,未公开。
**技术特征L**:A、B和C为柯西参数<br>《未公开》无对应公开内容未公开。
**技术特征M**:其中当将所述硬涂层的通过椭圆偏光法测量的偏振椭圆度拟合至以下一般公式1的柯西模型时,满足条件A为1.30至1.75<br>《未公开》无对应公开内容对比文件未公开。
**技术特征N**:B为0至0.05<br>《未公开》无对应公开内容未公开。
**技术特征O**:C为0至0.005<br>《未公开》无对应公开内容未公开。
**技术特征P**:[一般公式1] 其中,在以上一般公式1中,n(λ)是波长为λ时的折射率,λ在300nm至1800nm的范围内<br>《未公开》无对应公开内容未公开。
**技术特征Q**:A、B和C为柯西参数<br>《未公开》无对应公开内容未公开。
**技术特征R**:其中所述低折射率层的厚度为1nm至200nm<br>《直接公开》[0046] “所述低折射率层的最大厚度为200nm以内,平均厚度为90nm至130nm。”对比文件明确低折射率层最大厚度不超过200nm,平均厚度在90~130nm,落入目标专利的1nm~200nm范围内,直接公开。
**技术特征S**:所述硬涂层的厚度为0.1μm至100μm<br>《直接公开》[0068] “所述硬涂层具有1μm以上10μm以下的厚度。”对比文件公开硬涂层厚度1~10μm,该范围属于0.1μm~100μm的子集,本领域技术人员能直接确定该厚度范围,视为直接公开。
**技术特征T**:其中在所述低折射率层中包含的所述粘合剂树脂中,来源于所述取代有一个或更多个反应性官能团的聚倍半硅氧烷的部分与来源于所述可光聚合化合物的部分的重量比为0.005至0.50<br>《未公开》无对应公开内容对比文件[0101]仅公开倍半硅氧烷含量为5.0重量%以上(相对于中空颗粒和粘合剂总量),未涉及与可光聚合化合物的重量比,亦无比例范围,未公开。
**技术特征U**:其中取代在所述聚倍半硅氧烷上的所述反应性官能团包括选自以下的至少一种官能团:醇、胺、羧酸、环氧化物、酰亚胺、(甲基)丙烯酸酯、腈、烯烃、聚乙二醇和硫醇<br>《未公开》无对应公开内容对比文件未具体描述聚倍半硅氧烷上的取代官能团种类,未公开。
**技术特征V**:其中取代在所述聚倍半硅氧烷上的所述反应性官能团包括选自以下的至少一种官能团:醇、胺、羧酸、环氧化物、酰亚胺、(甲基)丙烯酸酯、腈、降冰片烯、聚乙二醇、硫醇和乙烯基<br>《未公开》无对应公开内容对比文件未具体描述,未公开。
**技术特征W**:其中所述取代有一个或更多个反应性官能团的聚倍半硅氧烷包括其中取代有一个或更多个官能团的具有笼结构的多面体低聚倍半硅氧烷<br>《直接公开》[0103] “倍半硅氧烷具有完全笼形结构或不完全笼形结构,优选完全笼形结构。”对比文件明确公开倍半硅氧烷可采用笼形结构(包括完全笼形和不完全笼形),与目标专利的具有笼结构的多面体低聚倍半硅氧烷一致,直接公开。
**技术特征X**:其中所述具有笼结构的多面体低聚倍半硅氧烷的至少一个硅原子取代有反应性官能团;并且中未取代有反应性官能团的剩余硅原子取代有非反应性官能团<br>《未公开》无对应公开内容对比文件仅笼统提及倍半硅氧烷可含键合基团[0100],但未明确硅原子的具体取代情况(反应性/非反应性官能团分布),未公开。
**技术特征Y**:其中所述可光聚合化合物包括含有(甲基)丙烯酸酯或乙烯基的单体或低聚物<br>《直接公开》[0096] “结构单元A包括(甲基)丙烯酸酯等。”<br>[0040] “硬涂层单体包含多官能(甲基)丙烯酸酯。”对比文件在低折射率层粘合剂中明确使用含(甲基)丙烯酸酯的单体,并在硬涂层中广泛使用(甲基)丙烯酸酯单体,故直接公开。
**技术特征Z**:其中所述基于氟的化合物中包含的所述光反应性官能团为选自以下的至少一者:(甲基)丙烯酸酯基、环氧基、乙烯基和硫醇基<br>《直接公开》[0030] “RA1是具有聚合性不饱和基团的官能团,例如(甲基)丙烯酰基。”<br>[0031] “Y1是末端具有烯属碳-碳双键的基团,可视为乙烯基。”对比文件公开含氟化合物中的光反应性官能团包括(甲基)丙烯酰基和乙烯基,满足该技术特征(选取两者之一即可),直接公开。

### 公开性代码总结

根据上述判断,在回答结尾插入对应代码:

- 直接公开:技术特征A、C、R、S、W、Y、Z → 插入 `<<<A>>>`, `<<<C>>>`, `<<<R>>>`, `<<<S>>>`, `<<<W>>>`, `<<<Y>>>`, `<<<Z>>>`

- 隐含公开:技术特征B → 插入 `<<<b>>>`

- 其他技术特征(D、E、F、G、H、I、J、K、L、M、N、O、P、Q、T、U、V、X)未公开,不插入对应代码。

最终输出代码行:

<<<A>>>

<<<b>>>

<<<C>>>

<<<R>>>

<<<S>>>

<<<W>>>

<<<Y>>>

<<<Z>>>

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