根据对对比文件US20080030597A1和目标专利CN110647000B权利要求的详细比对分析，现将特征公开性判断结果总结如下：
**直接公开的技术特征**：B, H, I
**隐含公开的技术特征**：A, C, J
**未公开的技术特征**：D, E, F, G
特征D（第一反射性表面）、E（该表面位于平面内）、F（该平面位于特定连线中点且正交）和G（为第一反射性表面提供光路的特定表面/光圈）共同构成了目标专利实现“折叠式光学”和“无视差”的核心发明点，这些特征在对比文件中均未公开。对比文件公开的是传统的多通道透射式成像系统，虽然涉及多相机、视差校正等概念，但未揭示通过反射表面的特定几何布局来光学地消除视差的技术方案。
<<<B>>><<<H>>><<<I>>><<<a>>><<<c>>><<<j>>>