对比文件名称：2005-01-13_发明申请_US20050007160A1 Tunable differential transconductor and adjustment method
目标专利名称：用于校准差分电路中跨导或增益随工艺或条件变化的方法和设备CN107210716B
本次调用模型名称：DeepSeek-R1
## 特征比对表格
| 技术特征描述以及公开性判断结果 | 对比文件原文引用 | 公开性论述 |
| A. 包括：校准电路，包括运算跨导放大器和运算放大器，并且所述校准电路被配置用于产生参考信号 《未公开》 | 对比文件说明书第[0074]段：“In one embodiment, the tail current is adjusted in addition to changing the effective channel dimension to establish the desired transconductance. ... In another embodiment, the tail current is adjusted to establish the desired transconductance and the effective channel dimension is changed to establish a desired transconductance linearity for the tunable differential transconductor.” 以及第[0074]段：“Replica biasing, which automatically adjusts the tail current using a replica of the differential transconductor, can be used.” | 对比文件公开了一种调整方法，涉及使用复制电路（replica）进行偏置以自动调整尾电流，从而设定期望的跨导。然而，对比文件并未明确描述实现该校准功能的电路具体结构。特别是，没有公开一个包含“运算跨导放大器（OTA）”和“运算放大器”的校准电路。对比文件中提到的“servo loop”（第[0076]段）和“replica bias method”（第[0074]段）是功能性的方法描述，并未揭示实现这些功能的具体模拟电路模块，如目标专利中明确限定的OTA和运算放大器的组合。因此，本领域技术人员不能毫无疑义地或通过合理推断得出对比文件公开了包含OTA和运算放大器的校准电路结构。 |
| B. 以及至少一个差分电路，均被配置用于基于所述参考信号以相对于工艺或条件变化的经校准的跨导而操作， 《直接公开》 | 对比文件说明书第[0074]段：“In one embodiment, the tail current is adjusted in addition to changing the effective channel dimension to establish the desired transconductance.” 以及第[0004]段：“In some applications, the transconductance of transconductor 100 has to be tuned after manufacture to provide a predetermined transconductance notwithstanding production variations. The transconductor may additionally need to be tuned during operation to maintain its transconductance notwithstanding changes in environmental factors, such as operating temperature.” | 对比文件明确公开了其发明的可调差分跨导器（如200， 300）本身就是一个“差分电路”。其发明目的正是为了克服工艺和生产变化（production variations）以及环境因素如温度变化（environmental factors）的影响，通过调整（例如调整尾电流或有效沟道尺寸）来建立或维持一个“期望的跨导”（desired transconductance）。这意味着该差分电路被配置为基于调整信号（可视为一种“参考信号”，如控制尾电流的偏置或控制开关的控制信号）以相对于工艺或条件变化经校准（或调整后）的跨导进行操作。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| C. 其中所述校准电路被进一步配置为独立于所述至少一个差分电路产生所述参考信号 《直接公开》 | 对比文件说明书第[0074]段：“Replica biasing, which automatically adjusts the tail current using a replica of the differential transconductor, can be used.” 以及第[0075]段：“In this, a replica tunable differential transconductor is provided. Typically, the tail current and channel widths of the replica differential transconductor are scaled relative to those of the differential transconductor under test. ... The adjustable bias current is adjusted to set the differential output current of the replica differential transconductor to a value equal to the product of the differential calibration voltage and the desired transconductance. The adjusted value of the adjustable bias current sets the tail current of the differential transconductor under test...” | 对比文件明确描述了使用“复制偏置”方法。该方法提供一个复制差分跨导器（replica），该复制电路独立于待测试（或待校准）的主差分跨导器。校准过程（如调整偏置电流）是在这个独立的复制电路上进行的，基于复制电路的输出来确定最终的调整值（即可视为“参考信号”，如偏置电流），然后将此调整值应用于主差分跨导器。这完全符合“独立于所述至少一个差分电路产生所述参考信号”的技术特征，即校准信号的产生不依赖于主差分电路的直接反馈，而是通过一个独立的复制电路完成。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| D. 所述运算放大器被配置用于将基于所述运算跨导放大器的输出的电压与独立于所述运算跨导放大器的第二参考电压进行比较 《未公开》 | 对比文件说明书第[0076]段：“In an embodiment, a servo loop is used to compare the measured turn-on voltage of the replica composite FET with the desired turn-on voltage and to change the at least one effective channel dimension of the composite FETs of both the differential transconductor under test and the replica composite FETs to make the measured turn-on voltage equal to a desired turn-on voltage.” | 对比文件提到了使用伺服环路（servo loop）来比较测量的开启电压与期望的开启电压。这隐含了比较的功能。然而，对比文件并未公开实现这一比较功能的具体电路结构。特别是，没有公开该比较功能是由一个“运算放大器”来执行的。此外，对比文件完全没有提及“运算跨导放大器（OTA）”这一部件，因此更谈不上公开“基于运算跨导放大器的输出的电压”。虽然“测量的开启电压”可能通过某种电路获得，但对比文件没有描述其产生机制与OTA相关。因此，该技术特征未被对比文件直接或隐含公开。 |
| E. 以及所述参考信号是基于所述比较的。 《隐含公开》 | 对比文件说明书第[0076]段：“... a servo loop is used to compare the measured turn-on voltage of the replica composite FET with the desired turn-on voltage and to change the at least one effective channel dimension ... to make the measured turn-on voltage equal to a desired turn-on voltage.” 以及第[0074]段：“The adjustable bias current is adjusted to set the differential output current of the replica differential transconductor to a value equal to the product of the differential calibration voltage and the desired transconductance.” | 对比文件描述了调整过程：通过比较测量值（如输出电流或开启电压）与期望值，并根据比较结果来改变一个控制量（如有效沟道尺寸或偏置电流），以使测量值等于期望值。这个最终确定的控制量（例如调整后的偏置电流或用于控制开关的信号）即可视为“参考信号”。因此，本领域技术人员可以合理推断，在对比文件公开的校准/调整方法中，最终产生的用于控制差分跨导器的“参考信号”是基于测量值与目标值之间的比较结果而产生的。虽然对比文件未明确使用“参考信号基于比较”的表述，但该方法逻辑必然隐含了此关系。因此，该技术特征被对比文件隐含公开。 |
| F. 其中，所述至少一个差分电路中的每个差分电路包括晶体管的差分配对，以及其中所述至少一个差分电路中的每个差分电路被进一步配置为基于所述参考信号针对其相应的晶体管的差分配对产生尾电流。 《直接公开》 | 对比文件说明书第[0003]段：“Differential transconductor 100 is composed of a MOSFET 102 and a MOSFET 104 connected as a differential pair.” 以及第[0023]段：“Differential transconductor 200 is composed of a composite FET 282 and a composite FET 284 connected as a differential pair.” 第[0007]段：“The transconductance can be tuned by adjusting the tail current sunk by current sink 118.” 第[0074]段：“the tail current is adjusted to establish the desired transconductance”。 | 对比文件明确公开了其差分跨导器（100， 200， 300）包含由FET（如MOSFET）构成的差分配对（例如102和104， 282和284）。同时，对比文件多次指出跨导可以通过调整由电流沉（current sink， 如118， 219， 319）提供的尾电流（tail current）来调节。这意味着差分电路被配置为基于一个调整信号（即调整尾电流的偏置，可视为“参考信号”）来为其差分配对产生（或设置）尾电流。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| G. 其中，所述校准电路被进一步配置为反馈所述参考信号并且基于所述反馈而调节所述参考信号。 《隐含公开》 | 对比文件说明书第[0074]段：“Replica biasing, which automatically adjusts the tail current using a replica of the differential transconductor, can be used.” 以及第[0076]段：“In an embodiment, a servo loop is used to compare the measured turn-on voltage of the replica composite FET with the desired turn-on voltage and to change the at least one effective channel dimension...” | 对比文件描述的“复制偏置”和“伺服环路”方法，本质上是闭环控制过程。以复制偏置为例：复制电路的输出（如差分输出电流）被测量并与目标值比较，根据比较结果调节施加给复制电路和主电路的偏置电流（可视为“参考信号”）。这个过程包含了“反馈”（复制电路的输出信息）和基于该反馈对“参考信号”（偏置电流）的“调节”，直到系统达到目标状态。因此，本领域技术人员可以合理推断，对比文件公开的调整方法隐含了一个配置为反馈参考信号（或相关参数）并基于反馈调节参考信号的校准电路。该技术特征被对比文件隐含公开。 |
| H. 其中，所述校准电路被进一步配置为基于第一参考电流和第二参考电流产生所述参考信号。 《未公开》 | 对比文件说明书未提及基于两个独立的“参考电流”来产生控制信号。文中提到的电流包括：尾电流（tail current）、偏置电流（bias current）、输出电流（output current）等，但未描述校准电路利用一个“第一参考电流”和一个“第二参考电流”来生成最终的参考信号（如偏置电压VREF）的具体方案。 | 对比文件公开的调整方法侧重于通过比较测量值（电压或电流）与目标值来直接调整控制量（尾电流或沟道尺寸）。没有公开或暗示校准电路内部使用两个特定的参考电流（例如目标专利中的IP和I0）作为生成参考信号的基础。本领域技术人员无法从对比文件的内容中毫无疑义地或通过合理推断得出该技术特征。因此，该技术特征未被对比文件公开。 |
| I. 其中，所述运算跨导放大器被配置用于基于所述反馈产生尾电流。 《未公开》 | 对比文件说明书中未提及“运算跨导放大器（Operational Transconductance Amplifier, OTA）”这一部件。文中调整尾电流是通过调整电流沉（current sink）的偏置实现的，可能涉及偏置电路，但未描述其具体结构为OTA，更未描述OTA基于反馈产生尾电流。 | 由于对比文件根本没有公开“运算跨导放大器（OTA）”这一元件，因此技术特征I中关于OTA被配置用于基于反馈产生尾电流的内容，既不可能被直接公开，也无法从现有内容中合理推断出来。该技术特征未被对比文件公开。 |
| J. 其中，所述校准电路进一步包括被配置用于将参考电流转换为参考电压的电路，以及其中所述运算跨导放大器被进一步配置为基于所述参考电压产生输出。 《未公开》 | 对比文件说明书中未提及“将参考电流转换为参考电压的电路”。在复制偏置方法中，应用了“差分校准电压”（differential calibration voltage， 见第[0075]段）作为输入，但未描述该电压是由一个参考电流转换而来。同时，由于未公开OTA，因此“运算跨导放大器被进一步配置为基于所述参考电压产生输出”也无从谈起。 | 该技术特征包含两个紧密关联的部分：电流-电压转换电路和OTA基于该转换电压工作。对比文件均未公开这些具体电路结构和工作原理。本领域技术人员无法从对比文件的内容中推导出这些特征。因此，该技术特征未被对比文件公开。 |
| K. 其中，所述校准电路被进一步配置为相对于所述工艺或条件变化保持所述参考电压恒定。 《未公开》 | 对比文件说明书未提及校准电路需要产生或保持一个相对于工艺或条件变化恒定的“参考电压”。其发明目的是调整跨导本身，而不是保持某个内部参考电压恒定。文中提到的“校准电压”（calibration voltage）是用于测试的输入信号，并非内部生成的、需要保持恒定的参考电压。 | 目标专利中，保持参考电压恒定（如VIN）是实现跨导校准的一个关键设计点。对比文件的方案完全不同，其调整机制不依赖于维持一个恒定的内部参考电压。因此，该技术特征未被对比文件公开。 |
| L. 其中，所述第二参考电压是基于第二参考电流的，以及其中所述第二参考电流相对于所述工艺或条件变化是恒定的。 《未公开》 | 对比文件说明书中未提及“第二参考电压”和“第二参考电流”的概念，更未描述该第二参考电流相对于工艺或条件变化是恒定的。 | 该技术特征涉及校准电路内部的具体设计细节，即使用一个恒定的参考电流来生成一个参考电压用于比较。对比文件完全没有涉及这些细节。因此，该技术特征未被对比文件公开。 |
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