对比文件名称：2017-03-07_US9591302B_发明授权_US09591302B2 Use of chroma quantization parameter offsets in deblocking
目标专利名称：731用于跨通道残差编码和解码的量化参数得出CN111586408B
本次调用的模型名称：DeepSeek
### 特征比对表格
| 技术特征描述及公开性判断结果 | 对比文件原文引用 | 公开性论述 |
| **技术特征A**：包括：获得针对视频演示或图像的亮度通道得出的第一量化参数，所述第一量化参数被配置为用作参考以确定第二量化参数的值<br>《直接公开》 | [0088] the QPs used for chroma components Cb and Cr (that is, QPCb and QPCr) are derived from the QP used for luma component (QPY) | 对比文件明确公开了从亮度量化参数QPY（第一量化参数）推导出色度量化参数QPCb和QPCr（第二量化参数），即第一量化参数被配置为用作参考以确定第二量化参数的值。该技术特征的作用在对比文件和目标专利中相同，均为将亮度通道的量化参数作为参考值来推导其他通道的量化参数。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| **技术特征B**：接收包含所述视频演示或所述图像的第一色度通道和第二色度通道的经量化的残差系数的块<br>《未公开》 | 对比文件未公开相关技术特征。对比文件公开的块是针对单个颜色分量的（例如Y、Cb或Cr），未公开同时包含第一色度通道和第二色度通道的残差系数的联合块。 | 目标专利的该技术特征涉及跨通道残差编码模式下的联合块结构，该块的残差系数同时包含两个色度通道。对比文件基于传统的单独色度通道编码，其块结构仅包含单个颜色分量的残差系数。对比文件未公开或暗示这种联合块结构。因此，该技术特征未被对比文件直接或隐含公开。 |
| **技术特征C**：获得定义所述第一量化参数与用于所述块的第二量化参数之间的关系的偏移<br>《直接公开》 | [0090] The values cb_qp_offset and cr_qp_offset are picture-level chroma QP offset values... qPICb=Clip3(−QpBdOffsetC,51,QPY+cb_qp_offset) | 对比文件明确公开了色度量化参数偏移（cb_qp_offset、cr_qp_offset），该偏移定义了亮度量化参数QPY（第一量化参数）与色度量化参数QPCb/QPCr（第二量化参数）之间的关系。该技术特征的作用在对比文件和目标专利中相同，均为通过偏移建立第一量化参数和第二量化参数之间的关联。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| **技术特征D**：确定所述块是否已使用跨通道残差编码模式被编码<br>《未公开》 | 对比文件未公开相关技术特征。 | 目标专利的该技术特征涉及判断是否使用了跨通道残差编码模式。对比文件涉及解块滤波中的色度QP偏移的使用，没有公开或暗示任何关于跨通道残差编码模式（联合残差编码模式）的概念或判断。因此，该技术特征未被对比文件直接或隐含公开。 |
| **技术特征E**：使用所述偏移和针对所述亮度通道得出的所述第一量化参数来确定所述第二量化参数的值，当所述块已使用跨通道残差编码模式被编码时，所述第二量化参数被配置为用于联合地反量化所述第一色度通道和所述第二色度通道的所述残差系数<br>《未公开》 | 对比文件未公开相关技术特征。对比文件公开了使用偏移和亮度QP来确定色度QP，但该色度QP用于单独反量化单个色度通道，且不存在跨通道残差编码模式的条件。 | 虽然对比文件公开了使用偏移和亮度QP确定色度QP的基本步骤，但该技术特征中的关键限定条件（跨通道残差编码模式）和特定用途（联合地反量化两个色度通道）在对比文件中完全不存在。对比文件中的色度QP用于单独反量化Cb或Cr通道。因此，该技术特征未被对比文件直接或隐含公开。 |
| **技术特征F**：当所述块已使用跨通道残差编码模式被编码时，通过联合地使用所述偏移和用针对所述亮度通道得出的第一量化参数确定出的所述第二量化参数的值反量化所述第一色度通道和所述第二色度通道的所述经量化的残差系数，来重构针对所述第一色度通道和所述第二色度通道的残差样本，而不使用针对所述第一色度通道和所述第二色度通道的单独量化参数来反量化所述第一色度通道和所述第二色度通道的所述经量化的残差系数。<br>《未公开》 | 对比文件未公开相关技术特征。 | 对比文件的反量化过程是使用各个色度通道的单独量化参数（QPCb、QPCr）分别进行的，不存在目标专利所述的联合反量化过程，也不存在避免使用单独量化参数的技术方案。该技术特征是跨通道残差编码模式的核心操作，在对比文件中完全没有记载。因此，该技术特征未被对比文件直接或隐含公开。 |
| **技术特征G**：还包括：提供指示，所述指示用于指示所述块要使用所述跨通道残差编码模式被编码。<br>《未公开》 | 对比文件未公开相关技术特征。 | 目标专利的该技术特征涉及提供指示跨通道残差编码模式是否使用的语法元素。对比文件没有公开任何用于指示跨通道残差编码模式的标志或指示符。因此，该技术特征未被对比文件直接或隐含公开。 |
| **技术特征H**：还包括：当缺少指示时，确定所述块要使用跨通道残差编码模式被编码，所述指示用于指示所述块要使用所述跨通道残差编码模式被编码。<br>《未公开》 | 对比文件未公开相关技术特征。 | 该技术特征涉及在缺少指示的情况下推断使用跨通道残差编码模式。对比文件不存在跨通道残差编码模式，也不存在相关的指示或推断机制。因此，该技术特征未被对比文件直接或隐含公开。 |
| **技术特征I**：其中：所述偏移在图片参数集合中被指示<br>《直接公开》 | [0090] picture-level chroma QP offset values that can be signaled in a picture parameter set (“PPS”). | 对比文件明确公开了色度QP偏移在图片参数集合（PPS）中发信号通知。该技术特征的作用在对比文件和目标专利中相同，均是在PPS层级指示用于推导色度QP的偏移。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| **技术特征J**：图块组报头内的第二偏移被使用，以确定所述第二量化参数的值。<br>《直接公开》 | [0144] Slice-level chroma QP offsets provide the encoder with greater ability to precisely control the chroma QP... FIG. 7b shows new values slice_qp_delta_cb and slice_qp_delta_cr in slice header syntax. | 对比文件明确公开了在片（slice）报头（对应于目标专利中的图块组报头）中发信号通知第二色度QP偏移（slice-level chroma QP offset），用于确定色度量化参数的值。该技术特征的作用相同。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| **技术特征K**：其中所述偏移的值是负整数或0。<br>《直接公开》 | [0141] the range of −12 to 12 is effective in example implementations for chroma QP offset. | 对比文件明确公开了色度QP偏移的取值范围包括负整数和0（例如-12到12）。该技术特征的作用相同。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| **技术特征L**：还包括：确定所述偏移是否对于多个块是公共的或者包括预定值，其中当所述偏移对于多个块是公共的或者包括预定值时，所述偏移不是对于块分别被确定的。<br>《直接公开》 | [0144] When slice-level chroma QP offsets are not used, slice-level syntax overhead is avoided... The value slicelevel_chroma_qp_flag... specifies... whether slice_qp_delta_cb and slice_qp_delta_cr are present. | 对比文件公开了图片级色度QP偏移（cb_qp_offset）对于多个块是公共的，片级偏移（slice_qp_delta）可以选择性地存在或不存在。当不存在片级偏移时，其值被推断为0（预定值）。这意味着对比文件公开了确定偏移是否为公共或预定值，并且当是公共或预定值时，不是对每个块分别发信号通知的机制。该技术特征的作用相同。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| **技术特征M**：还包括：当所述第一量化参数的值变化时，确定所述第二量化参数的值。<br>《直接公开》 | [0088] The QPs used for chroma components Cb and Cr (that is, QPCb and QPCr) are derived from the QP used for luma component (QPY). | 对比文件公开了色度量化参数（第二量化参数）是根据亮度量化参数（第一量化参数）推导得出的。这意味着每当第一量化参数的值发生变化，第二量化参数的值就会相应更新确定。该技术特征的作用相同。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
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