**对比文件名称**：2004-04-30_JP2004513352A_发明专利_JP2004513352A Method of measuring the movement of the input device
**目标专利名称**：1278测量相对运动的器件和方法CN101341421B
**本次调用模型**：阿里云通义千问大模型
### 特征比对表格
| 技术特征描述及公开性判断结果 | 对比文件原文引用（中文翻译） | 公开性论述 |
| 技术特征A：所述器件包括至少一个激光器(3) 《直接公开》 | 【0056】“ダイオードレーザー３及びその関連するフォトダイオード４が見えるが、図１ｂの装置の上面図に示すように、通常少なくとも第二のダイオードレーザー５及び関連する検出器６が、台板上に提供される。” <br>中文翻译：可以看到一个二极管激光器3及其相关的光电二极管4，但如图1b的装置俯视图所示，通常至少提供第二二极管激光器5和相关的检测器6在基板上。 | 对比文件明确记载了至少一个激光器（二极管激光器3、5），用于发射测量光束，与目标专利特征A的“至少一个激光器”完全相同，且作用相同，均用于产生测量射束。因此直接公开。 |
| 技术特征B：会聚装置(10) 《直接公开》 | 【0056】“レンズ１０、例えば平凸レンズが、ダイオードレーザーとウィンドウとの間に配置される。” <br>中文翻译：透镜10，例如平凸透镜，配置在二极管激光器和窗口之间。 | 对比文件公开了透镜10作为会聚装置，用于将激光束会聚，与目标专利特征B的“会聚装置(10)”结构及作用完全相同。因此直接公开。 |
| 技术特征C：和测量装置(4) 《直接公开》 | 【0056】“この変化を、放射の変動を電気信号に変換するフォトダイオード４、及びこの信号を処理するための電子回路部品１８によって検出することができる。” <br>中文翻译：这种变化可以通过将辐射变化转换为电信号的光电二极管4以及用于处理该信号的电子电路部件18来检测。 | 对比文件公开了光电二极管4及电子电路作为测量装置，用于检测因自混合效应引起的辐射变化，与目标专利特征C的“测量装置(4)”功能相同。因此直接公开。 |
| 技术特征D：所述至少一个激光器具有激光腔(20) 《直接公开》 | 【0057】“その空洞共振器２０並びにその前面及び後面即ちそれぞれレーザー鏡２１及び２２によって概略的に表わされる。” <br>中文翻译：其谐振腔20以及其前表面和后表面即分别由激光镜21和22示意性地表示。 | 对比文件明确描述了二极管激光器具有谐振腔（激光腔20），与目标专利特征D的“激光腔(20)”完全一致。因此直接公开。 |
| 技术特征E：所述激光腔(20)用于产生测量射束(13) 《直接公开》 | 【0056】“ダイオードレーザー３及び５は、レーザーを放出するか、又はそれぞれビーム１３及び１７を測定すること。” <br>中文翻译：二极管激光器3和5发射激光或分别测量光束13和17。 | 对比文件表明激光腔用于产生激光束（测量射束13、17），与目标专利特征E的“激光腔用于产生测量射束”作用相同。因此直接公开。 |
| 技术特征F：所述会聚装置(10)用于将所述测量射束(13)会聚在作用面 《直接公开》 | 【0056】“このレンズは、透明なウィンドウの上側又はその近くにレーザービーム１３及び１７を集束させる。” <br>中文翻译：该透镜将激光束13和17聚焦在透明窗口的上侧或其附近。 | 对比文件明确透镜10将测量射束会聚在窗口上侧（即作用面），与目标专利特征F“会聚装置用于将测量射束会聚在作用面”完全相同。因此直接公开。 |
| 技术特征G：并将由所述物体所反射的测量射束辐射会聚在所述激光腔(20)中 《直接公开》 | 【0056】“ビーム１３の放射の一部分は、照射ビーム１３の方向に散乱され、この部分は、ダイオードレーザー３の放出面におけるレンズ１０によって収束し、このレーザーの空洞共振器に再び入る。” <br>中文翻译：光束13的一部分辐射沿着照射光束13的方向散射，该部分由二极管激光器3发射面上的透镜10会聚，并重新进入该激光器的谐振腔。 | 对比文件公开了透镜10将物体反射的辐射会聚并重新进入激光腔，与目标专利特征G“将反射辐射会聚在激光腔中”作用一致。因此直接公开。 |
| 技术特征H：以在所述激光器(3)中产生自混合效应 《直接公开》 | 【0058】“レーザー空洞共振器に再び入る周波数が偏移した放射は、光学波即ちこの空洞共振器で発生する放射と干渉する、即ち、自己混合効果が空洞共振器で起こる。” <br>中文翻译：重新进入激光谐振腔的频率偏移的辐射与光波即该谐振腔中产生的辐射发生干涉，即自混合效应发生在谐振腔中。 | 对比文件明确提到重新进入的辐射与腔中辐射发生干涉，即自混合效应，与目标专利特征H“产生自混合效应”完全相同。因此直接公开。 |
| 技术特征I：所述测量装置(4)用于测量所述自混合效应的结果 《直接公开》 | 【0056】结合【0058】：“この変化を、放射の変動を電気信号に変換するフォトダイオード４、及びこの信号を処理するための電子回路部品１８によって検出することができる。” | 对比文件的光电二极管检测自混合效应引起的强度变化，即测量自混合效应的结果，与目标专利特征I“测量装置用于测量自混合效应的结果”功能一致。因此直接公开。 |
| 技术特征J：所述效应由所述相对运动确定 《直接公开》 | 【0058】“対象の速度に比例する。” <br>中文翻译：与对象的速度成比例。 | 对比文件明确指出自混合效应产生的调制频率与对象速度（相对运动）成比例，即效应由相对运动确定，与目标专利特征J完全相同。因此直接公开。 |
| 技术特征K：其中，将所述会聚装置(10)布置成跨越延伸超过所述测量射束辐射的相干长度的距离范围而将所述测量射束(13)聚焦 《未公开》 | 对比文件全文未提及“相干长度”，也未提及会聚装置被布置成聚焦范围超过相干长度。 | 对比文件描述的是透镜将光束聚焦在窗口附近（近距离），属于常规相干探测，未涉及超出相干长度的聚焦设计。本领域技术人员无法从对比文件直接或隐含得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征L：将所述测量装置(4)构造成确定所述测量射束(13)与由物体所反射的所述激光腔(20)内的测量射束辐射之间的频率差异 《直接公开》 | 【0058】“このように発生するレーザー放射の変調の周波数は、空洞共振器における光学波の周波数と空洞共振器に再び入るドップラー偏移した放射のものとの間の差に正確に等しい。” <br>中文翻译：如此产生的激光辐射的调制频率精确等于谐振腔中光波频率与重新进入谐振腔的多普勒频移辐射的频率之差。 | 对比文件明确指示测量装置检测到的调制频率即为激光频率与反射辐射频率之间的差异，因此测量装置构造成确定该频率差异。与目标专利特征L的技术方案完全相同，且作用相同（用于确定相对运动）。因此直接公开。 |
| 技术特征M：将所述测量装置(4)构造成确定由所述反射的测量射束辐射所产生的噪声光谱的平均频率漂移 《未公开》 | 对比文件全文未提及“噪声光谱”或“平均频率漂移”。 | 对比文件仅涉及相干自混合信号的检测，未涉及非相干模式下的噪声光谱分析。本领域技术人员无法从对比文件得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征N：将所述测量装置(4)构造成确定由所述反射的测量射束辐射所产生的噪声光谱的瞬时频率漂移 《未公开》 | 对比文件全文未提及“噪声光谱”或“瞬时频率漂移”。 | 对比文件仅涉及相干自混合信号的检测，未涉及非相干模式下的噪声光谱分析。本领域技术人员无法从对比文件得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征O：将所述测量装置(4)构造成进行频率漂移的反射测量射束辐射和频率未漂移的反射测量射束辐射的时域探测 《未公开》 | 对比文件全文未提及“时域探测”或“频率未漂移的反射辐射”。 | 对比文件仅涉及相干自混合信号的检测，未涉及非相干模式下的时域探测。本领域技术人员无法从对比文件得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征P：所述器件用于测量所述物体(15)的运动以及所述器件与所述物体(15)之间的距离 《未公开》 | 对比文件【0064】提及“移動の量、即ち対象が移動すると共に時間に関して測定された速度を積分することで測定することができる距離”，即通过积分速度得到位移（相对运动距离），但未涉及绝对距离测量。 | 对比文件仅能测量相对运动距离（位移），未公开测量器件与物体之间的绝对距离。目标专利特征P明确包括测量静止或运动物体的绝对距离，对比文件无法实现。因此未公开。 |
| 技术特征Q：设有用于控制所述至少一个激光器(3)的控制装置 《直接公开》 | 【0010】“レーザー空洞共振器に周期的に変動する電流を供給する” <br>中文翻译：向激光谐振腔提供周期性变化的电流。 | 对比文件指示向激光器提供周期性电流，必然存在控制装置（如电流驱动电路），与目标专利特征Q“控制装置”功能相同。因此直接公开。 |
| 技术特征R：将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供周期性地变动的电流 《直接公开》 | 【0010】“レーザー空洞共振器に周期的に変動する電流を供給する” <br>中文翻译：向激光谐振腔提供周期性变化的电流。 | 对比文件明确公开了控制装置构造成提供周期性变化的电流，与目标专利特征R完全相同。因此直接公开。 |
| 技术特征S：所述电流引起所述测量射束波长的周期性变动 《直接公开》 | 【0066】“ダイオードレーザーの温度Ｔｄは、周期的に上昇し下降する。これは、…周期的に変動する周波数、よって連続的に変動する位相偏移を有するレーザー空洞共振器における定在光学波に帰着する。” <br>中文翻译：二极管激光器的温度Td周期性上升和下降。这导致激光谐振腔中具有周期性变化的频率，从而连续变化的相位偏移的驻波。 | 对比文件指出周期性电流引起温度变化，进而导致激光频率（波长）周期性变动，与目标专利特征S“电流引起波长周期性变动”作用机制完全一致。因此直接公开。 |
| 技术特征T：以使所述反射的测量射束辐射的光谱基本上与由所述至少一个激光器(3)所产生的测量射束辐射重叠 《隐含公开》 | 对比文件【0066】描述周期性电流调制使激光频率连续变化，反射辐射因延迟而具有不同频率，但干涉要求两者频率相近；【0067】表明在静止对象时，半周期内脉冲数相等，说明反射辐射与激光辐射在频率上频繁匹配（重叠）。 | 对比文件虽然未明确写出“光谱基本上重叠”，但本领域技术人员公知，自混合效应要求反射辐射与激光器内辐射相干，即频率必须接近（光谱重叠）。对比文件通过周期性调制产生干涉信号，必然意味着在调制过程中反射辐射的光谱与激光辐射的光谱在一定时间内基本上重叠，否则无法产生可检测的干涉拍频。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征U：将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供周期性地变动的电流 《直接公开》 | 同特征R，引用【0010】。 | 对比文件明确公开了控制装置构造成提供周期性变化的电流，与目标专利特征U完全相同。因此直接公开。 |
| 技术特征V：所述电流引起所述测量射束波长的周期性变动 《直接公开》 | 同特征S，引用【0066】。 | 对比文件明确指出周期性电流引起波长周期性变动，与目标专利特征V完全相同。因此直接公开。 |
| 技术特征W：以使所述反射的测量射束辐射的光谱至多部分地与由所述至少一个激光器(3)所产生的测量射束辐射重叠 《未公开》 | 对比文件全文未提及“至多部分重叠”，也未提及大调制导致光谱不重叠的情况。 | 对比文件描述的周期性调制主要用于相干探测，调制幅度较小，通常导致光谱基本重叠，未涉及“至多部分重叠”的非相干模式。本领域技术人员无法从对比文件得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征X：将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供脉动电流 《未公开》 | 对比文件【0071】提及“長方形の形状のような、別の形状の駆動電流”，即矩形波驱动电流，但矩形波仍属于周期性电流，并非脉动（脉冲）电流；对比文件未提及“脉动电流”。 | 对比文件未公开任何脉动电流的实施例，也未教导通过脉动电流测量脉冲重叠。本领域技术人员无法从对比文件得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征Y：所述会聚装置(10)具有固定的焦点 《直接公开》 | 【0056】“レンズ１０、例えば平凸レンズが、ダイオードレーザーとウィンドウとの間に配置される。” <br>中文翻译：透镜10，例如平凸透镜，配置在二极管激光器和窗口之间。 | 对比文件使用平凸透镜，且未提及可调焦机构，透镜为固定焦距，即具有固定焦点，与目标专利特征Y“会聚装置具有固定的焦点”结构相同。因此直接公开。 |
### 公开性代码汇总
根据上述特征比对，对比文件直接公开的技术特征如下：A、B、C、D、E、F、G、H、I、J、L、Q、R、S、U、V、Y；隐含公开的技术特征：T。
未公开的特征（K、M、N、O、P、W、X）不在代码中体现。
<<<A>>><<<B>>><<<C>>><<<D>>><<<E>>><<<F>>><<<G>>><<<H>>><<<I>>><<<J>>><<<L>>><<<Q>>><<<R>>><<<S>>><<<U>>><<<V>>><<<Y>>><<<t>>>