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权利要求与技术特征
权利要求 1
A
包括以下步骤,通过在台面的顶上提供电学p接触(7)来形成p型台面(4)
B
通过用至少重叠在台面的p-n结之上的电绝缘钝化层(11)覆盖台面来形成n型台面(28)
C
在VCSEL芯片(1)的连接侧上沉积去润湿层(13)
D
在基板(2)的连接侧上沉积另外的去润湿层(13)
E
采用图案化的设计沉积所述去润湿层(13)或者在沉积之后图案化所述去润湿层(13)以限定基板(2)和VCSEL芯片(1)上的对应的连接区域(21、14)
F
其中连接区域(21、14)为焊料(15)提供润湿表面
G
将焊料(15)应用到两个连接侧中的至少一个的连接区域(21、14)
H
将VCSEL芯片(1)放置在基板(2)上
I
在无需相对于基板(2)固定VCSEL芯片(1)的情况下将VCSEL芯片(1)焊接到基板(2)以允许VCSEL芯片(1)在基板(2)上通过熔化的焊料(15)的表面张力的移动
J
其中VCSEL芯片(1)包括底部发射器VCSEL阵列其以它的台面侧焊接到基板(2)
K
其中在去润湿层(13)在VCSEL芯片(1)的连接侧上的沉积之前沉积第一金属层(10)
L
其被电连接到VCSEL的n接触(6)并且重叠n型台面(28)
M
所述n接触形成VCSEL的p型台面(4)之间的传导网络以用于电连接VCSEL并且在p型台面(4)之上均等地分布电流
N
其中与第一金属层(10)同时地沉积第二金属层(12)以重叠p型台面(4)和p接触(7)
O
第一金属层(10)和第二金属层(12)使VCSEL芯片(1)在机械上稳定
P
使得到n接触(6)的电连接与p接触(7)在相同高度处
权利要求 2
Q
其中将焊料(15)作为固体层预应用到两个连接侧中的至少一个的连接区域(21、14)
权利要求 3
R
其中在基板(2)上沉积去润湿层(13)之前在基板(2)的连接侧上沉积导电层(16、25)
权利要求 4
S
其中通过沉积形成稳定的表面氧化物的Ti、TiW或Ni形成去润湿层(13)
权利要求 5
T
其中通过局部移除去润湿层(13)或者通过局部沉积形成在连接区域(21、14)处的润湿层的材料来执行去润湿层(13)的图案化
权利要求 6
U
其中AuSn、AgSn或铟被用作焊料(15)的成分以用于将VCSEL芯片(1)与基板(2)连接
权利要求 8
V
其中基板(2)安装在热沉(3)上