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对比文件列表
2007-10-25_JP2007281044A_发明专利_JP2007281044A Solar battery_+++A_B_C_D_E_Q_R_S_T_U_V_X_Y+++.docx
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2008-01-17_JP2008010746A_发明专利_JP2008010746A Solar battery and method for manufacture thereof_+++A_B_C_D_E_F_H_Q_R_S_T_U_V_W_X_Y_g+++.docx
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2009-05-20_DE102007054384A_发明专利_DE102007054384A1 Method for producing a solar cell with a surface-passivating dielectric double layer and corresponding solar cell_+++A_B_C_D_E_F_G_H_O_P_T_U_V_W_i_n_x+++.docx
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2010-10-21_US2010263725A_发明申请_US20100263725A1 METHOD FOR MANUFACTURING A SOLAR CELL WITH A SURFACE-PASSIVATING DIELECTRIC DOUBLE LAYER, AND CORRESPONDING SOLAR CELL_+++A_B_C_D_E_F_G_H_T_U_V_W_i_n_o_p_x+++.docx
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2010-12-23_DE102009025977A_发明专利_DE102009025977A1 Solarzelle und Herstellungsverfahren einer Solarzelle_+++A_B_F_O_P_T_U_c_d_e_i_n_v+++.docx
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2010-12-23_WO2010145648A_发明申请_WO2010145648A1 HALBLEITERVORRICHTUNG UND HERSTELLUNGSVERFAHREN EINER HALBLEITERVORRICHTUNG_+++A_B_D_F_G_H_I_O_T_U_c_e_j_l_n_p_v+++.docx
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2011-01-19_CN101952971A_发明公开_CN101952971A 用于制造具有表面钝化介电双层的太阳能电池的方法以及对应的太阳能电池_+++A_B_F_G_H_T_U_c_d_e_i_n_o_p_v+++.docx
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2011-03-24_WO2011033826A_发明申请_WO2011033826A1 太陽電池、その製造方法及び太陽電池モジュール_+++A_B_C_D_E_F_I_J_L_N_O_P_Q_R_S_T_U_V_W_X_Y_g_k_m+++.docx
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2012-07-12_US2012174960A_发明申请_US20120174960A1 SOLAR CELL, METHOD FOR MANUFACTURING SOLAR CELL, AND SOLAR CELL MODULE_+++A_B_C_D_E_F_N_O_P_Q_R_S_T_U_V_W_X_Y_i_j_k_l_m+++.docx
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2012-07-18_CN102593240A_发明公开_CN102593240A 太阳能电池及其制造方法_+++A_B_C_D_E_F_H_N_O_Q_R_S_T_U_V_X_Y+++.docx
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2012-07-19_US2012180860A_发明申请_US20120180860A1 SOLAR CELL AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME_+++A_B_C_D_E_F_H_Q_R_S_T_U_V_X_Y+++.docx
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2013-02-07_None_发明专利_JPWO2011033826A1 太陽電池、その製造方法及び太陽電池モジュール_+++A_B_C_D_E_F_G_I_N_O_P_Q_R_S_T_U_V_W_X_Y_h_j_k_l+++.docx
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WO2011033826A1_Description_20260718_1957_+++A_B_C_D_E_F_G_I_J_L_N_O_P_Q_R_S_T_U_V_W_X_Y_k+++.docx
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2010-12-23_DE102009025977A_发明专利_DE102009025977A1 Solarzelle und Herstellungsverfahren einer Solarzelle_+++A_B_F_O_P_T_U_c_d_e_i_n_v+++.docx

对比文件名称:2010-12-23_DE102009025977A_发明专利_DE102009025977A1 Solarzelle und Herstellungsverfahren einer Solarzelle

目标专利名称:1750太阳能电池及其制造方法CN103700673B

本次调用的模型名称:AI模型(GPT-4)

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用(翻译)公开性论述
技术特征A:所述太阳能电池包括《直接公开》对比文件第1段:“Die Erfindung betrifft eine Solarzelle und ein Herstellungsverfahren einer Solarzelle.”(本发明涉及一种太阳能电池及其制造方法。)以及具体实施方式中“Solarzelle 1”的引用(附图说明部分)。对比文件明确公开了太阳能电池(Solarzelle 1),因此技术特征A被直接公开。
技术特征B:所述半导体基板《直接公开》对比文件具体实施方式部分:“Halbleiterschicht 2”(半导体层2)的引用,如“Auf der Halbleiterschichtoberfläche 20 wird gemäß der 1b eine chemisch passivierende Passivierungsteilschicht 31 aufgebracht”。对比文件明确公开了半导体基板(Halbleiterschicht 2),因此技术特征B被直接公开。
技术特征C:所述p型导电区域形成在所述半导体基板处《隐含公开》对比文件在背景技术部分提到“p-dotierten Halbleiterschichten”(p型掺杂半导体层),并在具体实施方式中公开了在半导体基板前表面形成掺杂层4(Dotierschicht 4),该掺杂层与基板形成pn结。对比文件虽未明确掺杂层4的导电类型,但提到了p型半导体层,且本领域技术人员可知太阳能电池中通常基板为n型时发射极为p型,或基板为p型时发射极为n型,因此存在掺杂层4为p型导电区域的合理可能性。根据隐含公开的宽松标准,技术特征C被隐含公开。
技术特征D:所述p型导电区域包括p型杂质《隐含公开》同上,对比文件提到“p-dotierten Halbleiterschichten”以及掺杂层4的形成。基于与特征C相同的理由,本领域技术人员可能推断掺杂层4包含p型杂质,因此技术特征D被隐含公开。
技术特征E:所述钝化膜形成在所述p型导电区域上《隐含公开》对比文件具体实施方式部分:“Auf der weiteren Halbleiterschichtoberfläche 22 wird anschließend mittels einer auf die Dotierschicht 4 aufgebrachte weitere Passivierungsschicht 5 gemäß der 1d passiviert.”(然后,在掺杂层4上施加进一步钝化层5以钝化进一步半导体层表面22。)如果掺杂层4是p型导电区域,则进一步钝化层5直接形成在其上。由于特征C和D被隐含公开,进而本领域技术人员可以合理推断钝化膜5形成在p型导电区域上,因此技术特征E被隐含公开。
技术特征F:所述钝化膜包括铝氧化物《直接公开》对比文件具体实施方式部分:“Die feldeffektpassivierende Passivierungsteilschicht 33 ist beispielsweise aus Al₂O₃ gebildet.”(场效应钝化子层33例如由Al₂O₃形成。)以及“Die feldeffektpassivierende Passivierungsteilschicht weist eine Dicke in einem Bereich zwischen 0,1 und 10 nm, vorzugsweise zwischen 2 und 5 nm auf.”(场效应钝化子层厚度在0.1-10nm,优选2-5nm。)对比文件明确公开了钝化层3中的场效应钝化子层33包含铝氧化物(Al₂O₃),因此技术特征F(钝化膜包括铝氧化物)被直接公开。
技术特征G:所述抗反射膜形成在所述钝化膜上《未公开》对比文件提及前表面钝化层5可作为抗反射层(Anti-Reflexionsschicht),但未公开在钝化膜上单独形成抗反射膜的结构。对比文件中的抗反射层与钝化层为同一层,并非形成在钝化膜上的独立膜层,因此技术特征G未被直接或隐含公开。
技术特征H:所述抗反射膜包括硅氮化物《未公开》对比文件提到SiNx可作为场效应钝化子层,但未公开抗反射膜包括硅氮化物。对比文件未明确公开抗反射膜的材料,技术特征H未被公开。
技术特征I:所述钝化膜具有7至的厚度《隐含公开》对比文件具体实施方式部分:“Die feldeffektpassivierende Passivierungsteilschicht weist eine Dicke in einem Bereich zwischen 0,1 und 10 nm, vorzugsweise zwischen 2 und 5 nm auf.”(场效应钝化子层厚度在0.1-10nm,优选2-5nm。)目标专利的钝化膜厚度为7至(假设单位nm,即7-10nm),对比文件公开的铝氧化物子层厚度范围0.1-10nm包含7-10nm,本领域技术人员可以合理选择该子范围,因此技术特征I被隐含公开。
技术特征J:所述铝氧化物具有化学式AlO₁.₅₊X《未公开》对比文件明确说明铝氧化物为Al₂O₃(即AlO₁.₅)。对比文件未公开非化学计量比的铝氧化物(AlO₁.₅₊X,X>0),因此技术特征J未被公开。
技术特征K:其中0《未公开》对比文件未涉及铝氧化物化学式中X的范围。技术特征K未被公开。
技术特征L:其中,所述铝氧化物具有化学式AlO₁.₅₊X《未公开》同特征J,对比文件未公开。技术特征L未被公开。
技术特征M:其中0.001≤x≤0.5《未公开》对比文件未涉及铝氧化物化学式中X的具体范围。技术特征M未被公开。
技术特征N:其中,所述p型导电区域包括发射极层《隐含公开》对比文件具体实施方式部分公开了在半导体基板前表面形成掺杂层4(Dotierschicht 4),该层与基板形成pn结,作为发射极层。对比文件虽未明确发射极的导电类型,但本领域技术人员可知发射极层通常为p型(若基板为n型),因此存在p型发射极层的合理可能性,故技术特征N被隐含公开。
技术特征O:所述发射极层形成在所述半导体基板的前表面处《直接公开》对比文件具体实施方式部分:“Auf der weiteren Halbleiterschichtoberfläche 22 wird nach dem Dotierschritt die Anordnung aus der 1c erhalten, bei der die weitere Halbleiterschichtoberfläche 22 mit einer Dotierschicht 4 versehen ist.”(在掺杂步骤后,得到图1c的布置,其中进一步的半导体层表面22设有掺杂层4。)对比文件明确公开了发射极层(掺杂层4)形成在半导体基板的前表面,因此技术特征O被直接公开。
技术特征P:所述钝化膜形成在所述发射极层上《直接公开》对比文件具体实施方式部分:“Auf der weiteren Halbleiterschichtoberfläche 22 wird anschließend mittels einer auf die Dotierschicht 4 aufgebrachte weitere Passivierungsschicht 5 gemäß der 1d passiviert.”(然后,在掺杂层4上施加进一步钝化层5以钝化进一步半导体层表面22。)对比文件明确公开了进一步钝化层5形成在发射极层(掺杂层4)上,因此技术特征P被直接公开。
技术特征Q:其中,所述p型导电区域包括背表面场层《未公开》对比文件未公开背表面场层。对比文件仅在背表面设置钝化层,未形成专门的背表面场层,因此技术特征Q未被公开。
技术特征R:所述背表面场层形成在所述半导体基板的背表面处《未公开》同特征Q。技术特征R未被公开。
技术特征S:所述钝化膜形成在所述背表面场层上《未公开》同特征Q。技术特征S未被公开。
技术特征T:所述太阳能电池进一步包括电极《直接公开》对比文件具体实施方式部分:“Um eine Verschaltung der Solarzelle 1 zu ermöglichen, müssen ... die Solarzelle 1 rückseitig und vorderseitig metallisiert werden... Auf der Solarzellenrückseite 20 kann die Metallisierung ganzflächig erfolgen, um einen Rückseitenkontakt 7 zu erzeugen, während sie auf der Solarzellenvorderseite 22 Vorderseitenkontakte 6 bildet.”(为了实现太阳能电池1的互连,必须在背侧和前侧金属化……在背侧可以全面金属化以产生背接触7,而在前侧形成前接触6。)对比文件明确公开了太阳能电池包括前接触6和背接触7,因此技术特征T被直接公开。
技术特征U:所述电极形成在所述钝化膜上《直接公开》对比文件具体实施方式部分:“Hierzu werden in der Passivierungsschicht 3 und der weiteren Passivierungsschicht 5 Durchbrüche erzeugt.”(为此,在钝化层3和进一步钝化层5中产生开口。)以及后文对金属化的描述。对比文件中的电极(前接触6和背接触7)形成在钝化层(5和3)上,并通过开口接触半导体层,因此技术特征U被直接公开。
技术特征V:所述电极电连接到所述p型导电区域《隐含公开》对比文件公开前接触6电连接到掺杂层4,背接触7电连接到半导体基板2。如果掺杂层4被推断为p型导电区域,则前接触6电连接到p型导电区域。由于特征C、D、N隐含公开,因此技术特征V被隐含公开。
技术特征W:所述电极完全形成在所述钝化膜上《未公开》对比文件公开电极通过开口接触半导体层,电极部分在开口内,部分在钝化膜上。对比文件未公开电极完全形成在钝化膜上(即电极不接触基板表面),因此技术特征W未被公开。
技术特征X:所述电极与所述p型导电区域点接触《未公开》对比文件公开背接触为全面金属化,前接触为指状,均非点接触。对比文件未公开点接触结构,技术特征X未被公开。
技术特征Y:其中,所述p型导电区域的所述背表面场层局部地形成在与所述电极的一部分相邻的区域中《未公开》对比文件未公开背表面场层及局部形成。技术特征Y未被公开。

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