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对比文件列表
1997-09-05_None_发明专利_JPH09232632A Semiconductor light-emitting element and manufacture thereof_+++A_B_C_D_E_H_I_J+++.docx
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1999-09-14_US5952681A_发明授权_US5952681A Light emitting diode emitting red, green and blue light_+++A_B_C_D_E_H+++.docx
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2001-06-12_JP2001160650A_发明专利_JP2001160650A Semiconductor light emitting element_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O_P+++.docx
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2001-12-07_JP2001339121A_发明专利_JP2001339121A Nitride semiconductor light emitting device and optical device including the same_+++A_B_C_D_E_H_i_j+++.docx
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2002-04-12_JP2002111059A_发明专利_JP2002111059A Optical semiconductor element and optical semiconductor device_+++A_B_C_D_E_H+++.docx
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2002-10-24_US2002154496A_发明申请_US20020154496A1 Window for light-emitting diode_+++A_B_C_J_h+++.docx
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2003-03-12_EP1291989A_发明公开_EP1291989A1 NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DEVICE AND OPTICAL APPARATUS INCLUDING THE SAME_+++A_B_C_D_E_h_i_j_n_o_x+++.docx
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2003-07-01_US6586762B_发明授权_US06586762B2 Nitride semiconductor device with improved lifetime and high output power_+++A_B_C_D_E_H+++.docx
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2003-07-24_US2003136957A_发明申请_US20030136957A1 Nitride semiconductor light-emitting device and optical apparatus including the same_+++A_B_C_D_E_I_J_x+++.docx
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2003-08-26_US6610995B_发明授权_US06610995B2 Gallium nitride-based III-V group compound semiconductor_+++A_B_C_D_E_H+++.docx
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2003-10-31_JP2003308218A_发明专利_JP2003308218A Intermediate code execution system and incorporated equipment_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_K_L_M_N_O_P_Q_R_S_T_U_V_W_X_Y_a_b_c_d_e_f_g_h_i_j_k_l_m_n_o_p_q_r_s_t_u_v_w_x_y+++.docx
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2003-11-06_US2003207480A_发明申请_US20030207480A1 Method of manufacturing semiconductor device_+++A_B_C_D_F_H_N_O_P+++.docx
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2004-12-30_US2004266044A_发明申请_US20040266044A1 Method for manufacturing gallium nitride-based semiconductor light emitting device_+++A_B_C_D_E_H_I_J+++.docx
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2005-05-10_US6891871B_发明授权_US06891871B1 Semiconductor light emitting device_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O_Q_S_T+++.docx
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2005-06-09_US2005121679A_发明申请_US20050121679A1 Nitride semiconductor device_+++A_B_C_D_E_H_I_J+++.docx
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2006-02-14_US6998690B_发明授权_US06998690B2 Gallium nitride based III-V group compound semiconductor device and method of producing the same_+++A_B_C_D_E_H_I_J+++.docx
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2006-08-08_KR100609968B_发明授权_KR100609968B1 정전기 보호 기능을 갖는 발광 다이오드 및 그 제조 방법_+++A_B_C_D_E_H_I_J+++.docx
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2006-09-07_JP2006237574A_发明专利_JP2006237574A GaN-BASED LIGHT EMITTING DIODE_+++A_B_C_D_H_e_i_j+++.docx
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2006-10-16_TW200637034A_发明专利_TW200637034A GaN系發光二極體及發光裝置 GAN-BASED LIGHT-EMITTING DIODE AND LUMINOUS DEVICE_+++A_B_C_D_H_n_o+++.docx
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2007-04-12_JP2007096116A_发明专利_JP2007096116A Light emitting element_+++A_B_C_D_E_H_I_J+++.docx
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2007-05-23_KR100721515B_发明授权_KR100721515B1 ⅠTO층을 갖는 발광다이오드 및 그 제조방법_+++A_B_C_D_E_H_I_J_X+++.docx
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2007-06-14_US2007131958A_发明申请_US20070131958A1 Single chip with multi-LED_+++A_B_C_D_E_H_f+++.docx
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2008-05-28_CN101188267A_发明公开_CN101188267A 发光装置及其制造方法_+++A_B_C_D_H_N_O_e_f_g_q_w_y+++.docx
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2008-05-29_US2008121907A_发明申请_US20080121907A1 LIGHT EMITTING DIODE AND FABRICATING METHOD THEREOF_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O+++.docx
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2008-07-24_US2008173880A_发明申请_US20080173880A1 Light-emitting semiconductor device using group III nitrogen compound_+++A_B_C_d+++.docx
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2008-08-07_US2008185606A_发明申请_US20080185606A1 Semiconductor light emitting element_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_N_O_V_Y_k_p_q_r_s_t+++.docx
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2008-08-16_TW200834984A_发明专利_TW200834984A 發光元件及其製造方法_+++A_B_C_D_E_F_G_H_N_O_P_Q_X_Y+++.docx
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2008-10-01_KR1020080087251A_发明公开_KR1020080087251A 커패시터를 구비하는 발광 다이오드_+++A_B_C_D_E_H_I_J+++.docx
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2009-03-17_KR1020090027329A_发明公开_KR1020090027329A 수직구조 반도체 발광소자 및 그 제조 방법_+++A_B_C_D_H+++.docx
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2009-04-30_JP2009094107A_发明专利_JP2009094107A ELECTRODE FOR GaN-BASED LED DEVICE AND GaN-BASED LED DEVICE USING THE SAME_+++A_B_C_D_E_H+++.docx
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2009-04-30_US2009108250A_发明申请_US20090108250A1 LIGHT EMITTING DIODE_+++A_B_C_D_E_I_J+++.docx
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2009-05-21_US2009127575A_发明申请_US20090127575A1 Light-Emitting Diode Chip With High Light Extraction And Method For Manufacturing The Same_+++A_B_C_D_E_H_I_J_x+++.docx
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2009-10-06_KR1020090104453A_发明公开_KR1020090104453A 질화물 반도체 발광소자_+++A_B_C_D_F_H_N_O_R+++.docx
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2009-11-01_TW200945631A_发明专利_TW200945631A 半導體發光元件及其製造方法_+++A_B_C_D_H+++.docx
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2009-12-03_WO2009145502A_发明申请_WO2009145502A2 발광 소자_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O+++.docx
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2009-12-23_WO2009154383A_发明申请_WO2009154383A2 반도체 발광소자_+++A_B_C_D_E_F_H+++.docx
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2009-12-24_US2009315058A_发明申请_US20090315058A1 NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME_+++A_B_C_D_H_e_i_j+++.docx
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2009-12-31_US2009321775A_发明申请_US20090321775A1 LED with Reduced Electrode Area_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_N_O+++.docx
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2010-02-11_US2010032694A_发明申请_US20100032694A1 LIGHT EMITTING DIODE WITH ITO LAYER AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME_+++A_B_C_D_E_H_I_J_x+++.docx
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2009-11-01_TW200945631A_发明专利_TW200945631A 半導體發光元件及其製造方法_+++A_B_C_D_H+++.docx

对比文件名称:TW200945631A 半導體發光元件及其製造方法

目标专利名称:CN102194958B 发光器件和发光器件封装

本次调用的模型名称:GPT-4.1(或根据实际模型调整)

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断对比文件原文引用公开性论述
技术特征A:包括发光结构,所述发光结构包括第一导电半导体层(直接公开)对比文件说明书第[0039]段:“半導體積層體40係自與安裝於基板10之側之面為相反側的光導出面側起依序積層n型半導體層41、發光層42及p型半導體層43所構成。”对比文件明确公开了半导体积层体,其包含n型半导体层41,该层相当于第一导电半导体层,因此技术特征A被直接公开。
技术特征B:在所述第一导电半导体层上的有源层(直接公开)同上,第[0039]段:“依序積層n型半導體層41、發光層42及p型半導體層43。”对比文件公开了发光层42位于n型半导体层41上,即第一导电半导体层上的有源层,因此技术特征B被直接公开。
技术特征C:所述有源层上的第二导电半导体层(直接公开)同上,第[0039]段:“發光層42及p型半導體層43。”对比文件公开了p型半导体层43位于发光层42上,即第二导电半导体层,因此技术特征C被直接公开。
技术特征D:其中所述发光结构具有其中暴露所述第一导电半导体层的顶表面的区域(直接公开)对比文件说明书第[0039]段:“光導出面係n型半導體層41之表面。”以及第[0062]段:“於半導體積層體40之上表面(n型半導體層41之表面)上空開特定間隔形成n側電極50。”对比文件明确n型半导体层41的顶表面(光导出面)是暴露的,用于形成电极和凸部,因此相当于第一导电半导体层的顶表面暴露的区域,技术特征D被直接公开。
技术特征E:透射电极层,所述透射电极层在所述第二导电半导体层上(未公开)对比文件没有公开任何单独称为“透射电极层”的层。其p侧电极30直接形成在p型半导体层43上,但p侧电极整体是电极,未进一步区分为透射电极层和第二电极。对比文件未公开在第二导电半导体层上设置独立的透射电极层,也未公开该层与第二电极的区分结构。因此技术特征E既未直接公开也未隐含公开。
技术特征F:粘附层,所述粘附层接触所述第一导电半导体层(未公开)对比文件未公开任何专门用于提高电极粘附的“粘附层”。其保护膜60覆盖n型半导体层41表面及侧面,但保护膜不接触第一导电半导体层与电极之间,且作用为保护而非提高电极粘附。对比文件没有公开任何粘附层接触第一导电半导体层,因此技术特征F未直接公开或隐含公开。
技术特征G:第一电极,所述第一电极在所述区域中接触所述粘附层和所述第一导电半导体层上(未公开)对比文件中n侧电极50直接形成在n型半导体层41上,未设置粘附层,因此不满足“接触粘附层”的条件。由于对比文件没有粘附层,第一电极(n侧电极)仅接触第一导电半导体层,未接触粘附层,因此技术特征G未公开。
技术特征H:第二电极,所述第二电极接触所述第二导电半导体层(直接公开)对比文件说明书第[0035]段:“p側電極30係設置於半導體積層體40之基板10側之安裝面上。”以及第[0039]段:“p型半導體層43。”对比文件公开了p侧电极30接触p型半导体层43(第二导电半导体层),因此技术特征H被直接公开。
技术特征I:其中所述第二电极的第一部分通过所述透射电极层接触所述第二导电半导体层的至少一部分(未公开)对比文件未公开透射电极层,且第二电极(p侧电极)直接接触p型半导体层,没有划分第一部分和第二部分。对比文件没有透射电极层,也没有公开第二电极分为两部分并通过透射电极层接触半导体层,因此技术特征I未公开。
技术特征J:所述第二电极的第二部分接触所述透射电极层的至少一部分(未公开)同上,对比文件无透射电极层及相应的第二电极部分。对比文件未公开透射电极层,也没有第二电极接触透射电极层的结构,因此技术特征J未公开。
技术特征K:其中所述粘附层被布置在所述第一导电半导体层的侧表面和顶表面、所述有源层的侧表面、以及所述第二导电半导体层的顶表面和侧表面上;并且中所述第二电极的第一部分被所述透射电极层包围(未公开)对比文件无粘附层,无透射电极层包围第二电极第一部分的结构。其保护膜60仅覆盖n型半导体层41表面和侧面,未覆盖有源层和p型层侧表面。对比文件未公开粘附层的具体布置,也未公开第二电极第一部分被透射电极层包围,因此技术特征K未公开。
技术特征L:其中接触所述第一导电半导体层的顶表面的所述第一电极的底表面具有所述第一电极的顶表面的10%至95%的面积(未公开)对比文件未公开n侧电极底面积与顶面积的任何比例关系。对比文件没有涉及电极底面积与顶面积的数值范围,因此技术特征L未公开。
技术特征M:其中所述第一电极和所述粘附层之间的垂直重叠区域具有所述第一电极的顶表面的5%至90%的宽度(未公开)对比文件无粘附层,因此没有第一电极与粘附层重叠区域的宽度比例。对比文件没有粘附层,不可能公开该比例,因此技术特征M未公开。
技术特征N:其中所述粘附层包括透射导电材料和透射绝缘材料中的至少一个(未公开)对比文件无粘附层。其保护膜60由SiO2或ZrO2构成,属于绝缘材料,但保护膜不是粘附层。对比文件未公开任何粘附层,因此技术特征N未公开。
技术特征O:其中所述粘附层包括从由SiOx、SiOxNy、Si3N4、TiO2、Al2O3、铟锡氧化物、铟锌氧化物、铟锌锡氧化物、铟铝锌氧化物、铟镓锌氧化物、铟镓锡氧化物、铝锌氧化物、锑锡氧化物、镓锌氧化物、IrOx、以及RuOx组成的组中选择的至少一个(未公开)对比文件无粘附层,保护膜仅使用SiO2或ZrO2,且不是粘附层。对比文件未公开粘附层及其具体材料,因此技术特征O未公开。
技术特征P:其中所述粘附层沿着所述发光结构的侧表面从所述第一导电半导体层的顶表面延伸到所述第二导电半导体层的顶表面的一部分(未公开)对比文件保护膜60仅覆盖n型半导体层41的侧面,未覆盖有源层和p型层侧面,且不是粘附层。对比文件没有粘附层延伸覆盖所有侧表面,因此技术特征P未公开。
技术特征Q:其中所述粘附层包括:第一层,所述第一层在所述第一导电半导体层的顶表面上并且包括透射绝缘材料(未公开)对比文件无粘附层,无多层结构。对比文件未公开粘附层的多层结构,因此技术特征Q未公开。
技术特征R:和第二层,所述第二层在所述第一层上并且包括透射导电材料(未公开)同上,无粘附层多层结构。对比文件未公开第二层,因此技术特征R未公开。
技术特征S:其中所述粘附层包括:第一层,所述第一层在所述第一导电半导体层的顶表面上并且具有高折射率(未公开)对比文件无粘附层,无折射率分层设计。对比文件未公开粘附层的折射率分层,因此技术特征S未公开。
技术特征T:和第二层,所述第二层在所述第一层上并且具有低折射率(未公开)同上。对比文件未公开第二层,因此技术特征T未公开。
技术特征U:其中所述透射电极层与所述第二导电半导体层的顶表面上的所述粘附层的一端隔开(未公开)对比文件无透射电极层和粘附层,因此无隔开关系。对比文件未公开透射电极层与粘附层的相对位置,因此技术特征U未公开。
技术特征V:其中所述粘附层延伸到所述第二导电半导体层的顶表面并且被设置在所述透射电极层和所述第二导电半导体层之间(未公开)对比文件无粘附层和透射电极层,因此无此设置。对比文件未公开粘附层位于透射电极层和第二导电半导体层之间,因此技术特征V未公开。
技术特征W:其中所述粘附层延伸到所述透射电极层的顶表面(未公开)对比文件无粘附层和透射电极层,因此无此延伸。对比文件未公开粘附层延伸到透射电极层顶表面,因此技术特征W未公开。
技术特征X:其中所述第二电极的第一部分没有暴露到外部(未公开)对比文件无透射电极层包围第二电极第一部分的结构,p侧电极可能被其他层覆盖,但未公开“第一部分没有暴露”的特征。对比文件未公开第二电极第一部分被覆盖而不暴露,因此技术特征X未公开。
技术特征Y:其中所述第一电极穿过所述粘附层并且在垂直方向上与所述粘附层重叠(未公开)对比文件无粘附层,因此第一电极(n侧电极)未穿过任何粘附层。对比文件没有粘附层,第一电极直接接触半导体层,不存在穿过粘附层重叠,因此技术特征Y未公开。

根据上述比对,对比文件直接公开了技术特征A、B、C、D、H,未公开其他特征。

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