一种用于光学检测在邻近样本室（2）中的样本（1，1’）的载体（11），其中所述载体包括在其表面（12）上的光学结构（50）;所述光学结构（50）具有至少一个激励刻面（53）和至少一个收集刻面（54）;该至少一个激励刻面（53）和至少一个收集刻面（54）基本上在中间相遇并且形成凹槽;所述光学结构（50）能够在所述激励刻面（54）处将输入光束（L1）折射到所述邻近样本室（2）中;撞击到所述样本（1，1’）上;并且能够同时从所述样本室（2）收集在所述收集刻面（54）处折射的输出光束（L2，L2’）;其中所述输出光束包括源于所述输入光束（L1）的光译。

资深专利代理师，针对目标专利（授权号：CN101990634B）权利要求1的技术特征分析、对比文件的实质公开认定、最接近对比文件选择以及无效检索策略建议如下：

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### 一、 目标专利说明书对权利要求1的术语及技术特征解释

结合目标专利说明书（CN101990634B）对权利要求1的技术特征进行原意剖析：

1. **载体（11）与表面（12）上的光学结构（50） [特征A]**：说明书指出载体由玻璃或聚苯乙烯等透明材料制成，其“接触表面”（12）上设有研究区域，用于对相邻样本室（2）中的样本进行光学检测[0006, 0062]。

2. **激励刻面（53）与收集刻面（54） [特征B]**：光学结构包含至少一个用于将输入光发射到样本室的“激励刻面”，以及至少一个用于重新收集穿过样本室的光的“收集刻面”[0016, 0074]。

3. **基本上在中间相遇并且形成凹槽 [特征C]**：说明书[0018, 0020, 0072-0073]明确指出，光学结构由具有三角形或梯形横截面的孔或凹槽（52）组成。激励刻面与收集刻面相对且倾斜，在底部/中间汇合形成这种棱镜式的凹槽结构。

4. **折射输入光束（L1）进入样本室（2） [特征D]**：光线从载体内部射向激励刻面，在此处发生**折射**并进入相邻的样本室（外部空间）[0006, 0074]。区别于经典的受抑全内反射（FTIR）倏逝波，此处光束是真实折射进入样本介质中传播[0009]。

5. **撞击到样本（1, 1'）上 [特征E]**：折射光在样本室凹槽内传播并与其中的目标标记粒子/样本发生吸收、散射或光致发光等相互作用[0006, 0074]。

6. **同时收集在收集刻面处折射的输出光束（L2, L2'） [特征F]**：在相同的工作条件下（即双重折射机制下），相对的收集刻面重新将经过样本室的光折射回载体内部并汇聚为输出光束[0006, 0074-0075]。

7. **输出光束包括源于输入光束的光 [特征G]**：输出光束可包含未被吸收/散射的透射光，或经样本作用后的散射光/再发射光[0006, 0017]。

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### 二、 对比文件公开特征判定及详细出处

各对比文件公开号及指代情况如下：

* **D1**：JP2006275535A（用于表面波色散共鸣传感器微棱镜芯片等）

* **D2**：JP2006337038A（样品中配体的分析方法及分析装置）

* **D3**：JP2007279025A（衰减全反射型光学探针及使用其的水溶液分光测量装置）

#### 1. 各对比文件公开特征认定

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### 三、 权利要求1与对比文件的特征比对表

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### 四、 最接近对比文件的选择与技术问题/效果分析

#### 1. 最接近对比文件的确定

在创造性分析中，**D1 (JP2006275535A)** 适合作为**最接近的对比文件**。

* **理由**：

1. **结构领域最为接近**：D1公开了在透明树脂基板的表面形成多个微观三角柱状突起及凹槽阵列（微棱镜芯片），其几何结构形态（特征A、B、C）与目标专利权利要求1的光学结构（50）高度吻合。

2. **D2与D3的局限**：D2和D3均为宏观的单体棱镜或复合块状探针，不具备目标专利所特有的微观“激励/收集刻面相遇形成凹槽”的表面结构。

#### 2. 整体解决的技术问题与技术效果对比分析

* **目标专利**：

* **技术问题**：解决传统的受抑全内反射（FTIR）/倏逝波技术探测深度极浅（仅数十至数百纳米）、无法有效覆盖并检测微米级大尺寸标记粒子（如500nm~微米级的超级顺磁性珠）的问题，同时实现微量样本（微观体积）的高敏感度双侧/单侧光检测[0004, 0009, 0059-0060]。

* **技术效果**：通过光学凹槽刻面将光线**直接折射进入样本室介质内部**穿透微米级体积，再经相对刻面折射重新收集，显著扩大了探测高度（达到微米量级），大幅提升了对大尺寸标记粒子的检测信号强度[0009, 0113]。

* **对比文件D1**：

* **技术问题**：解决传统表面等离子体共鸣（SPR）传感器需涂抹匹配油、平面基板微棱镜光效率低的问题[0002]。

* **技术原理**：利用底面金属膜上产生的**表面等离子体共鸣（SPR）**进行检测，光线在基板内部传输并在底面发生全反射，**严禁光线折射穿透至样本侧**。

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### 五、 无效请求中最薄弱的技术特征与进一步检索策略

#### 1. 最薄弱的技术特征（目标专利的创新核心）

目标专利权利要求1最核心、最薄弱（即最需要公知常识或结合其他对比文件进行突破）的技术特征组合为：

> **特征D + 特征F**：即利用凹槽刻面将输入光**“折射进入样本室介质中传播”**，并由相对刻面**“折射重新收集”**的双重折射（Double Refraction Detection, DRD）机制。

目前提供的三份对比文件（D1、D2、D3）均属于**全反射/衰减全反射/表面等离子体共鸣（SPR/ATR/FTIR）**技术领域，其技术偏见和物理机制均依赖于“全反射产生倏逝波”。因此，**三份对比文件均未公开“利用微棱镜凹槽进行双重折射透射/散乱光收集”的特征**。

#### 2. 进一步对比文件检索策略建议

若要针对目标专利权利要求1发起强有力的无效宣告请求，建议调整检索方向如下：

1. **切断“全反射”限制，转向“微透镜/微棱镜阵列透射式流体检测”领域**：

* 现有的D1-D3均被限定在SPR/FTIR（全反射）框架内。需将检索范围扩大至**微流控芯片（Microfluidics）、暗野显微检测（Dark-field detection）、流式细胞术（Flow cytometry）或透射/散射式微光学传感器**。

2. **重点检索要素组合（IPC分类号与关键词）**：

* **IPC/CPC分类号**：

* `G01N21/03`（试样容器；光电检测池）

* `G01N21/05`（流动池）

* `G01N21/47`（散射光检测）

* `G01N21/01` / `G02B3/08`（菲涅尔透镜/微棱镜结构）

* **逻辑检索式表达**：

* `(Microprism OR "micro prism" OR "groove array" OR "v-groove")` AND `(refrain* OR refract* OR "double refraction")` AND `(sample chamber OR flow cell OR "detection volume")`

3. **寻找结合对比文件（D2/D3类补充）**：

* 寻求公开了“利用V型槽（V-groove）或微斜面将入射光折射穿过流道/液滴，并在对侧斜面折射收集”的光学测量专利（如用于测量液滴折射率、流体微粒散射光线的微结构芯片）。将该技术特征与D1（公开了微棱镜物理结构）进行组合，依据“本领域普通技术人员的技术动机”主张权利要求1不具备创造性。

这份针对目标专利 **CN101990634B（权利要求1）** 结合对比文件 **D1（JP2005062187A）**、**D2（JP2005315726A）** 和 **D3（CN1813183A）** 的专利无效可行性及创造性分析报告如下：

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## 一、 目标专利说明书对权利要求1的深入解读

根据目标专利说明书（CN101990634B），权利要求1的技术方案及其关键技术术语解读如下：

* **技术特征A（载体及表面光学结构）：**

说明书[0006]与[0062]指出，载体（11）通常由玻璃、聚苯乙烯等透明材料制成，其表面（接触表面12）上形成有微观/界面光学结构（50）。该结构邻近样本室（2），用于对微量样本体积（如高度在1~1000μm范围内）进行光学检测。

* **技术特征B、C（激励刻面、收集刻面与凹槽）：**

说明书[0018]、[0020]及[0072]-[0074]记载，光学结构（50）包含具有倾斜度的“激励刻面”（53）和“收集刻面”（54）。这两个刻面在中间部位相遇交汇，在载体表面形成具有三角形或梯形横截面的凹槽（52）或楔形结构（51）。

* **技术特征D、E、F、G（双重折射机制与光路过程）：**

说明书[0006]、[0009]及[0074]详细阐述了其**核心物理机制**：输入光束（L1）从载体内部照射到激励刻面（53）时，在界面处**发生折射**进入样本室（2）的液体中并撞击样本/粒子（1）；光束穿过凹槽内样本区后，撞击到相对的收集刻面（54）上再次**折射收回**至载体内部形成输出光束（L2），最终由光检测器接收。

* *说明书强调的区别：* 传统的全内反射（TIR）仅在界面产生数十至数百纳米衰减的“倏逝波”（evanescent wave）；而本专利通过**双重折射（Double Refraction）**，光束能直接折射并传导穿过微米级（如1.5μm高度）的样本体积，显著增大了光与样本（如数百纳米至微米级的磁珠）的作用截面与探测体积[0009][0074]。

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## 二、 对比文件原文公开内容分析与特征比对

### 1. 各对比文件原文公开内容概要

* **D1（JP2005062187A）：** 公开了一种基于多重表面等离子体共鸣（SPR）检测生物分子阵列的基板与系统。其通过在透明基板上设置薄金属膜（10）以及光减衰结构（如抬升结构50、表面格子70）来增强SPR图像对比度。

* *工作机制：* 基于**全内反射（TIR）**并在金属膜界面产生表面等离子体共鸣（[0002]及图1），不涉及光束折射进入凹槽样本室的双重折射过程。

* **D2（JP2005315726A）：** 公开了一种利用表面包覆金层的磁性微粒（Core-Shell结构）进行局域表面等离子体共鸣（LSPR）检测的试剂及装置。

* *工作机制：* 将磁性微粒与样本在反应容器/反应塞尔（201）中混合并用电磁石（204）捕集，通过光照射悬浮液或容器底部，检测穿透光或反射光的LSPR吸收光谱（[0002]及图2、图3）。其反应容器为宏观容器/流道，未记载在固态载体表面构造微观激励刻面与收集刻面进行折射光收集。

* **D3（CN1813183A，即目标专利背景技术[0003]引用的WO 2004/113886A同族）：** 公开了一种具表面构造的载体（如光盘），其表面具有倾斜斜面/楔形/棱锥形结构（αwedge）。

* *工作机制：* 旨在利用倾斜斜面，使垂直或小角度入射的光在斜面与介质界面处**发生全内反射（TIR）**，从而在邻近介质中产生**渐逝场（evanescent field）**来激发荧光或散射（说明书第3-4页、图1B、图4、图5）。

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### 2. 技术特征比对表格

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## 三、 最接近的对比文件分析及创造性评估

### 1. 最接近对比文件的选择

在创造性分析中，**对比文件 D3（CN1813183A） 适合作为最接近的对比文件**。

* **技术领域与解决的问题：** D3 与目标专利均属于微量生物/化学样本光学检测载体领域，均致力于解决如何在载体表面高效产生与样本相互作用的光学微环境。

* **结构重合度最高：** D3 已完整公开了具有“倾斜斜面、双斜面交汇构成的楔形/棱锥形/凹槽结构”（即目标专利的刻面与凹槽物理结构几何形态）。

### 2. 区别技术特征与技术效果

目标专利权利要求1与最接近对比文件 D3 相比，**核心区别特征在于：**

> **特征D与特征F中的“折射”光路机制：** 目标专利要求光束在激励刻面处**折射进入**样本室内部传播并撞击样本，并在收集刻面处**折射收集**输出光束；而 D3 明确要求光束在斜面处发生**全内反射（TIR）**以在介质中产生渐逝场（Evanescent Field）。

* **该区别特征达到的技术效果：** 折射光束能够穿透进入样本室微米级深度（如 1~1000 μm），比十至数十纳米级衰减的倏逝波覆盖更大的样本体积，显著增大了光与大尺寸标记粒子（如 100~2000 nm 的磁珠）的相互作用截面，提高了检测灵敏度与信号强度。

### 3. 其他对比文件（D1、D2）是否公开该区别特征

* **D1（JP2005062187A）：** 同样基于全内反射（TIR）及表面等离子体共鸣（SPR），未公开折射进入凹槽的光路。

* **D2（JP2005315726A）：** 涉及磁性微粒LSPR检测，但其光学界面为传统比色皿/反应塞尔，未公开通过载体微观刻面的双重折射机制。

* 因此，组合 D3 + D1 或 D3 + D2 尚无法直接拼凑出“在凹槽刻面处进行双重折射检测”的全套技术特征。

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## 四、 无效请求中最薄弱的技术特征分析

若对目标专利权利要求1提出无效宣告请求，**最薄弱（最易被突破）的技术特征是：**

> **“在激励刻面处折射进入样本室”与“在收集刻面处收集折射的输出光束”（双重折射功能限定）**

### 薄弱原因剖析：

1. **物理结构与物理过程的混淆：**

从纯粹的**物理几何结构**来看，D3 已经完全公开了具有激励刻面、收集刻面及凹槽的载体结构。目标专利权利要求1实质上是在 D3 的几何结构上，限定了一种“光线发生折射而非全内反射”的**工作状态/功能属性**。

2. **公知常识与折射定律（Snell's Law）的显而易见性：**

根据光的折射定律 $n_1 \sin\theta_1 = n_2 \sin\theta_2$，当光线照射到两种介质的倾斜界面时，是发生全内反射（TIR）还是折射（Refraction），完全取决于**入射角（$\theta_1$）**与**介质折射率比值（$n_2/n_1$）**。

* 目标专利说明书第[0088]-[0095]段及图4自身亦承认：**对于完全相同的斜面结构（光学结构50），当样本室充盈空气（折射率小）时发生全内反射；当充盈液体（折射率大）时则自然转变为折射。**

* 因此，本领域技术人员为了检测更大体积的悬浮粒子，根据基本光学常识，调整光束入射角或介质折射率使光线从“全内反射”变为“折射”，属于无需付出创造性劳动即可实现的物理参数选择。

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## 五、 进一步对比文件检索策略

为了彻底摧毁权利要求1的创造性（证明“斜面双重折射检测/Double Refraction Detection”属于现有技术），建议采取以下补充检索策略：

### 1. 专利分类号（IPC/CPC）组合检索

* `G01N21/03`（试样容器/比色皿的光学细节）

* `G01N21/05`（流动池/流道光学检测）

* `G01N21/77`（利用微结构/棱镜耦合的光学传感器）

* `B01L3/00`（微流控芯片/载体结构）

### 2. 核心关键词及表达替换

* **结构词：** `prism array`（棱镜阵列）、`refractive groove`（折射凹槽）、`inclined facet`（倾斜刻面）、`wedge structure`（楔形结构）、`v-groove`（V型槽）。

* **机制词：** `double refraction`（双重折射）、`refractive detection`（折射检测）、`transmission through groove`（穿透凹槽）、`dual refraction`。

### 3. 针对性检索方向建议

* **方向一（突破折射机制）：** 重点检索 2009 年（目标专利优先权日）之前的微流控光学检测专利或期刊文献，寻找明确记载“利用微流道底部的棱镜/斜面将入射光**折射透射**穿过流道液体，并在对侧斜面收集折射光以测量液体吸收/散射”的技术方案（例如：Prism-based microfluidic flow cell for optical absorption/scattering）。

* **方向二（公知常识补充证据）：** 检索光学传感器教科书或基础光学专利，获取证明“利用棱镜折射扩充倏逝波探测深度至体相溶液（Bulk Solution）”属于光学传感领域通用技术手段的直接证据。

作为一名专利代理师，我对目标专利（授权公告号：CN101990634B，授权权利要求1）与所给对比文件（对比文件1：JPWO2006051778A1/WO2006051778A1，下称D1）进行了深入的技术特征比对与法律逻辑分析。

下面为您提供详细的权利要求解释、特征比对表格、最接近对比文件分析、最薄弱技术特征评估以及后续检索策略。

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### 一、 目标专利说明书对权利要求1的解释

紧密结合目标专利说明书（CN101990634B）原文，权利要求1中关键术语的法律与技术含义解释如下：

1. **“载体（11）”与“邻近样本室（2）”**：

* **解释**：载体（11）通常由玻璃或聚苯乙烯等透明材料制成，用以传播特定波长（如可见光、UV、IR）的光。样本室（2）位于载体外部空间，用于盛放包含目标成分（如生物分子、磁性/荧光颗粒等）的样本流体[说明书段落0006, 0061]。

2. **“在其表面（12）上的光学结构（50）”与“凹槽”**：

* **解释**：光学结构（50）形成于载体与样本室接触的表面（12）上，具体表现为在表面上形成的至少一个（或多个规则/不规则排列的）孔或凹槽（特别是三角形或梯形的类棱镜结构）[说明书段落0018, 0021, 0073]。

3. **“至少一个激励刻面（53）”与“至少一个收集刻面（54）基本上在中间相遇”**：

* **解释**：凹槽具有两个相反倾斜、相对的刻面，即“激励刻面（53）”和“收集刻面（54）”[说明书段落0016, 0020]。两者“基本上在中间相遇并形成凹槽”指的是两倾斜面相交形成凹槽的谷底（如V形谷底）或结构转折[说明书图2, 段落0073]。

4. **“在激励刻面处将输入光束（L1）折射到邻近样本室（2）中，撞击到样本上”**：

* **解释**：光从透明载体内部射向表面，经激励刻面（53）发生**折射（双重折射机制中的第一次折射）**直接进入样本室（外部空间）的液体介质中，形成穿越凹槽内微观探测体积的光片，光直接照射并撞击在样本/颗粒（1, 1'）上。这不同于全内反射（TIR）产生的仅十至数百纳米的“倏逝波”，而是实现微米级探测深度[说明书段落0006, 0009, 0074]。

5. **“同时从样本室（2）收集在收集刻面（54）处折射的输出光束（L2, L2'）”与“光译”**：

* **解释**：光在穿越样本室凹槽并与样本发生吸收、散射或激发荧光等相互作用后，经相对的收集刻面（54）**再次折射（第二次折射）**重新被收集回载体内部[说明书段落0006, 0016, 0074]。输出光束中包含源于输入光束的光（即光译/Light translated），实现了在载体同侧（下侧）同时进行光照射和信号检测[说明书段落0007, 0016]。

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### 二、 对比文件1（D1: JPWO2006051778A1 / WO2006051778A1）的技术特征比对

#### 1. 对比文件1原文比对表格

#### 2. 对比文件分析总结

* **对比文件D1（JPWO2006051778A1 / WO2006051778A1）**：

* **公开性结论**：D1**实质上完全公开了权利要求1的所有技术特征**（技术特征A-G）。

* **技术方案映射关系**：D1用于非侵袭性测量体液中的血糖等成分，其采用高屈折率的光透过体（如硅）在其接触表面形成V型沟槽（18a, 18b）。光从内部射向V槽斜面，在第一斜面（激励刻面）发生**折射**进入皮肤组织（样本），光在组织内传播后，在相对的第二斜面（收集刻面）再次**折射**回光透过体并被接收检测。这与目标专利权利要求1所限定的折射凹槽光学结构完全对应。

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### 三、 创造性分析：最接近对比文件与薄弱特征评估

#### 1. 最接近对比文件的选择

* **最接近对比文件**：**D1（WO2006051778A1）** 绝对适合作为**最接近的对比文件**（现有技术）。

* **整体解决的技术问题与技术效果对比**：

* **目标专利**：旨在解决现有全内反射/倏逝波（TIRF）检测体积过小（仅几十到数百纳米）或传统透射结构复杂的问题，通过在载体表面设置包含折射/收集刻面的凹槽结构，利用光在凹槽界面的**双重折射**，实现对微米级（1-1000 µm）小体积样本的高灵敏度光学检测，且允许在载体同侧（光源侧）同时进行照明与检测[说明书段落0004, 0007, 0009]。

* **D1**：旨在解决传统多凹槽接触子信号容易混信、测量不精确的问题。其通过光透过体表面的V型/凹型沟槽，利用光在沟槽界面的**折射**进入生体组织并折射返回，实现对浅层及深层生体组织高精度、无混信的光学检测[D1说明书段落0004, 0005, 0033]。

* **结论**：D1与目标专利属于相同的技术领域（生物样本的光学检测载体/素子），解决了相同的技术问题（限定特定深度/小体积检测、避免上侧结构阻碍、防混信），且采用了完全相同的技术手段（利用透明介质表面凹槽刻面的光线双重折射）。因此D1是唯一且最恰当的最接近对比文件。

#### 2. 最薄弱的技术特征评估（无效突破口）

如果对目标专利权利要求1提出无效宣告请求，基于现有证据（仅D1），**权利要求1本身的技术特征极为薄弱，已被D1全面覆盖（缺乏新颖性/创造性）**。

然而，若专利权人在无效程序中试图结合从属权利要求或说明书进行修改/解释，以下点属于目标专利可能主张但实际防御力最薄弱的技术特征：

1. **“激励刻面与收集刻面在中间相遇形成凹槽”（特征C）**：

* *薄弱分析*：目标专利在说明书图2中展示的是连续微型阵列结构（周期性楔形/齿状凹槽）。但权利要求1仅宽泛限定为“至少一个激励刻面和至少一个收集刻面基本上在中间相遇并且形成凹槽”。D1的V型沟槽（图3、图4）完全落入该宽泛范围。

2. **“同时折射/收集”（特征D、F）**：

* *薄弱分析*：权利要求1强调“同时”折射与收集。然而只要光线是连续照射，折射进入与折射收集必然是“同时”发生的。D1的光学检测过程同样是连续光路照射与接收，具备“同时”性。

3. **“凹槽的具体尺寸与深度”（对应从属权利要求，如深度0.01-1000 µm）**：

* *薄弱分析*：目标专利说明书段落[0019]提到深度在0.01-1000 µm，而D1段落[0024]记载沟深度为“数10 µm以上”，并在段落[0037]-[0039]明确公开了深沟与浅沟深度范围（如200 µm以下、440 µm-2 mm）。两者的尺寸范围高度重叠。

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### 四、 进一步对比文件检索策略

为了在无效宣告程序中形成更加稳固的证据链（特别是应对专利权人可能将从属权利要求或说明书特征推入独立权利要求的情况），建议采取以下进一步检索策略：

1. **针对“磁性颗粒/磁场协同”特征的检索（针对从属权利要求及组合无效）**

* **背景**：目标专利说明书中大量篇幅（段落[0024]-[0025]、[0038]-[0043]、图10-16）涉及“在样本室中施加平行/垂直于载体表面的磁场，驱动磁性珠/颗粒形成链状或拉离表面以增强检测信号”。

* **检索关键词（中/英/日）**：

* 载体/芯片：`折射` / `凹槽` / `棱镜` / `微槽` / `refraction` / `groove` / `microchannel` / `prism`

* 磁场/磁珠：`磁性颗粒` / `磁珠` / `平行磁场` / `磁场梯度` / `磁清洗` / `magnetic bead` / `magnetic field` / `parallel field` / `chaining`

* **分类号组合（IPC/CPC）**：

* `G01N21/03`（光度学或荧光分析使用的容器/载体）

* `G01N21/55` / `G01N21/552`（利用全反射/受抑全反射/表面等离子体共振）

* `G01N33/543`（结合测定法中的固相载体/磁性载体）

* `G01N21/84`（特殊光电检测系统）

2. **针对“湿法检测/折射率切换机制”特征的检索**

* **背景**：目标专利说明书段落[0026]-[0031]、图4提到了利用流体存在与否（空气vs液体）导致界面发生全内反射（TIR）或折射（Refraction）切换来进行“湿法检测/填充检测”。

* **检索逻辑与关键词**：

* `湿法检测` / `样品填充` / `全内反射与折射切换` / `介质折射率判别`

* `wetting detection` / `sample presence` / `index matching` / `TIR to refraction transition`

3. **追踪同族专利与引证文献检索**

* 检索目标专利（CN101990634B）的同族专利（如 US20110058162A1、WO2009095828A1 等）在审查过程（欧洲专利局 EPO、美国专利商标局 USPTO）中的审查意见通知书（Office Actions）及审查员引证对比文件，可快速获取同领域极具杀伤力的对比文件。

资深专利代理师，针对目标专利（授权号：CN101990634B）权利要求1的技术特征分析、对比文件的实质公开认定、最接近对比文件选择以及无效检索策略建议如下：

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### 一、 目标专利说明书对权利要求1的术语及技术特征解释

结合目标专利说明书（CN101990634B）对权利要求1的技术特征进行原意剖析：

1. **载体（11）与表面（12）上的光学结构（50） [特征A]**：说明书指出载体由玻璃或聚苯乙烯等透明材料制成，其“接触表面”（12）上设有研究区域，用于对相邻样本室（2）中的样本进行光学检测[0006, 0062]。

2. **激励刻面（53）与收集刻面（54） [特征B]**：光学结构包含至少一个用于将输入光发射到样本室的“激励刻面”，以及至少一个用于重新收集穿过样本室的光的“收集刻面”[0016, 0074]。

3. **基本上在中间相遇并且形成凹槽 [特征C]**：说明书[0018, 0020, 0072-0073]明确指出，光学结构由具有三角形或梯形横截面的孔或凹槽（52）组成。激励刻面与收集刻面相对且倾斜，在底部/中间汇合形成这种棱镜式的凹槽结构。

4. **折射输入光束（L1）进入样本室（2） [特征D]**：光线从载体内部射向激励刻面，在此处发生**折射**并进入相邻的样本室（外部空间）[0006, 0074]。区别于经典的受抑全内反射（FTIR）倏逝波，此处光束是真实折射进入样本介质中传播[0009]。

5. **撞击到样本（1, 1'）上 [特征E]**：折射光在样本室凹槽内传播并与其中的目标标记粒子/样本发生吸收、散射或光致发光等相互作用[0006, 0074]。

6. **同时收集在收集刻面处折射的输出光束（L2, L2'） [特征F]**：在相同的工作条件下（即双重折射机制下），相对的收集刻面重新将经过样本室的光折射回载体内部并汇聚为输出光束[0006, 0074-0075]。

7. **输出光束包括源于输入光束的光 [特征G]**：输出光束可包含未被吸收/散射的透射光，或经样本作用后的散射光/再发射光[0006, 0017]。

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### 二、 对比文件公开特征判定及详细出处

各对比文件公开号及指代情况如下：

* **D1**：JP2006275535A（用于表面波色散共鸣传感器微棱镜芯片等）

* **D2**：JP2006337038A（样品中配体的分析方法及分析装置）

* **D3**：JP2007279025A（衰减全反射型光学探针及使用其的水溶液分光测量装置）

#### 1. 各对比文件公开特征认定

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### 三、 权利要求1与对比文件的特征比对表

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### 四、 最接近对比文件的选择与技术问题/效果分析

#### 1. 最接近对比文件的确定

在创造性分析中，**D1 (JP2006275535A)** 适合作为**最接近的对比文件**。

* **理由**：

1. **结构领域最为接近**：D1公开了在透明树脂基板的表面形成多个微观三角柱状突起及凹槽阵列（微棱镜芯片），其几何结构形态（特征A、B、C）与目标专利权利要求1的光学结构（50）高度吻合。

2. **D2与D3的局限**：D2和D3均为宏观的单体棱镜或复合块状探针，不具备目标专利所特有的微观“激励/收集刻面相遇形成凹槽”的表面结构。

#### 2. 整体解决的技术问题与技术效果对比分析

* **目标专利**：

* **技术问题**：解决传统的受抑全内反射（FTIR）/倏逝波技术探测深度极浅（仅数十至数百纳米）、无法有效覆盖并检测微米级大尺寸标记粒子（如500nm~微米级的超级顺磁性珠）的问题，同时实现微量样本（微观体积）的高敏感度双侧/单侧光检测[0004, 0009, 0059-0060]。

* **技术效果**：通过光学凹槽刻面将光线**直接折射进入样本室介质内部**穿透微米级体积，再经相对刻面折射重新收集，显著扩大了探测高度（达到微米量级），大幅提升了对大尺寸标记粒子的检测信号强度[0009, 0113]。

* **对比文件D1**：

* **技术问题**：解决传统表面等离子体共鸣（SPR）传感器需涂抹匹配油、平面基板微棱镜光效率低的问题[0002]。

* **技术原理**：利用底面金属膜上产生的**表面等离子体共鸣（SPR）**进行检测，光线在基板内部传输并在底面发生全反射，**严禁光线折射穿透至样本侧**。

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### 五、 无效请求中最薄弱的技术特征与进一步检索策略

#### 1. 最薄弱的技术特征（目标专利的创新核心）

目标专利权利要求1最核心、最薄弱（即最需要公知常识或结合其他对比文件进行突破）的技术特征组合为：

> **特征D + 特征F**：即利用凹槽刻面将输入光**“折射进入样本室介质中传播”**，并由相对刻面**“折射重新收集”**的双重折射（Double Refraction Detection, DRD）机制。

目前提供的三份对比文件（D1、D2、D3）均属于**全反射/衰减全反射/表面等离子体共鸣（SPR/ATR/FTIR）**技术领域，其技术偏见和物理机制均依赖于“全反射产生倏逝波”。因此，**三份对比文件均未公开“利用微棱镜凹槽进行双重折射透射/散乱光收集”的特征**。

#### 2. 进一步对比文件检索策略建议

若要针对目标专利权利要求1发起强有力的无效宣告请求，建议调整检索方向如下：

1. **切断“全反射”限制，转向“微透镜/微棱镜阵列透射式流体检测”领域**：

* 现有的D1-D3均被限定在SPR/FTIR（全反射）框架内。需将检索范围扩大至**微流控芯片（Microfluidics）、暗野显微检测（Dark-field detection）、流式细胞术（Flow cytometry）或透射/散射式微光学传感器**。

2. **重点检索要素组合（IPC分类号与关键词）**：

* **IPC/CPC分类号**：

* `G01N21/03`（试样容器；光电检测池）

* `G01N21/05`（流动池）

* `G01N21/47`（散射光检测）

* `G01N21/01` / `G02B3/08`（菲涅尔透镜/微棱镜结构）

* **逻辑检索式表达**：

* `(Microprism OR "micro prism" OR "groove array" OR "v-groove")` AND `(refrain* OR refract* OR "double refraction")` AND `(sample chamber OR flow cell OR "detection volume")`

3. **寻找结合对比文件（D2/D3类补充）**：

* 寻求公开了“利用V型槽（V-groove）或微斜面将入射光折射穿过流道/液滴，并在对侧斜面折射收集”的光学测量专利（如用于测量液滴折射率、流体微粒散射光线的微结构芯片）。将该技术特征与D1（公开了微棱镜物理结构）进行组合，依据“本领域普通技术人员的技术动机”主张权利要求1不具备创造性。

这份针对目标专利 **CN101990634B（权利要求1）** 结合对比文件 **D1（JP2005062187A）**、**D2（JP2005315726A）** 和 **D3（CN1813183A）** 的专利无效可行性及创造性分析报告如下：

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## 一、 目标专利说明书对权利要求1的深入解读

根据目标专利说明书（CN101990634B），权利要求1的技术方案及其关键技术术语解读如下：

* **技术特征A（载体及表面光学结构）：**

说明书[0006]与[0062]指出，载体（11）通常由玻璃、聚苯乙烯等透明材料制成，其表面（接触表面12）上形成有微观/界面光学结构（50）。该结构邻近样本室（2），用于对微量样本体积（如高度在1~1000μm范围内）进行光学检测。

* **技术特征B、C（激励刻面、收集刻面与凹槽）：**

说明书[0018]、[0020]及[0072]-[0074]记载，光学结构（50）包含具有倾斜度的“激励刻面”（53）和“收集刻面”（54）。这两个刻面在中间部位相遇交汇，在载体表面形成具有三角形或梯形横截面的凹槽（52）或楔形结构（51）。

* **技术特征D、E、F、G（双重折射机制与光路过程）：**

说明书[0006]、[0009]及[0074]详细阐述了其**核心物理机制**：输入光束（L1）从载体内部照射到激励刻面（53）时，在界面处**发生折射**进入样本室（2）的液体中并撞击样本/粒子（1）；光束穿过凹槽内样本区后，撞击到相对的收集刻面（54）上再次**折射收回**至载体内部形成输出光束（L2），最终由光检测器接收。

* *说明书强调的区别：* 传统的全内反射（TIR）仅在界面产生数十至数百纳米衰减的“倏逝波”（evanescent wave）；而本专利通过**双重折射（Double Refraction）**，光束能直接折射并传导穿过微米级（如1.5μm高度）的样本体积，显著增大了光与样本（如数百纳米至微米级的磁珠）的作用截面与探测体积[0009][0074]。

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## 二、 对比文件原文公开内容分析与特征比对

### 1. 各对比文件原文公开内容概要

* **D1（JP2005062187A）：** 公开了一种基于多重表面等离子体共鸣（SPR）检测生物分子阵列的基板与系统。其通过在透明基板上设置薄金属膜（10）以及光减衰结构（如抬升结构50、表面格子70）来增强SPR图像对比度。

* *工作机制：* 基于**全内反射（TIR）**并在金属膜界面产生表面等离子体共鸣（[0002]及图1），不涉及光束折射进入凹槽样本室的双重折射过程。

* **D2（JP2005315726A）：** 公开了一种利用表面包覆金层的磁性微粒（Core-Shell结构）进行局域表面等离子体共鸣（LSPR）检测的试剂及装置。

* *工作机制：* 将磁性微粒与样本在反应容器/反应塞尔（201）中混合并用电磁石（204）捕集，通过光照射悬浮液或容器底部，检测穿透光或反射光的LSPR吸收光谱（[0002]及图2、图3）。其反应容器为宏观容器/流道，未记载在固态载体表面构造微观激励刻面与收集刻面进行折射光收集。

* **D3（CN1813183A，即目标专利背景技术[0003]引用的WO 2004/113886A同族）：** 公开了一种具表面构造的载体（如光盘），其表面具有倾斜斜面/楔形/棱锥形结构（αwedge）。

* *工作机制：* 旨在利用倾斜斜面，使垂直或小角度入射的光在斜面与介质界面处**发生全内反射（TIR）**，从而在邻近介质中产生**渐逝场（evanescent field）**来激发荧光或散射（说明书第3-4页、图1B、图4、图5）。

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### 2. 技术特征比对表格

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## 三、 最接近的对比文件分析及创造性评估

### 1. 最接近对比文件的选择

在创造性分析中，**对比文件 D3（CN1813183A） 适合作为最接近的对比文件**。

* **技术领域与解决的问题：** D3 与目标专利均属于微量生物/化学样本光学检测载体领域，均致力于解决如何在载体表面高效产生与样本相互作用的光学微环境。

* **结构重合度最高：** D3 已完整公开了具有“倾斜斜面、双斜面交汇构成的楔形/棱锥形/凹槽结构”（即目标专利的刻面与凹槽物理结构几何形态）。

### 2. 区别技术特征与技术效果

目标专利权利要求1与最接近对比文件 D3 相比，**核心区别特征在于：**

> **特征D与特征F中的“折射”光路机制：** 目标专利要求光束在激励刻面处**折射进入**样本室内部传播并撞击样本，并在收集刻面处**折射收集**输出光束；而 D3 明确要求光束在斜面处发生**全内反射（TIR）**以在介质中产生渐逝场（Evanescent Field）。

* **该区别特征达到的技术效果：** 折射光束能够穿透进入样本室微米级深度（如 1~1000 μm），比十至数十纳米级衰减的倏逝波覆盖更大的样本体积，显著增大了光与大尺寸标记粒子（如 100~2000 nm 的磁珠）的相互作用截面，提高了检测灵敏度与信号强度。

### 3. 其他对比文件（D1、D2）是否公开该区别特征

* **D1（JP2005062187A）：** 同样基于全内反射（TIR）及表面等离子体共鸣（SPR），未公开折射进入凹槽的光路。

* **D2（JP2005315726A）：** 涉及磁性微粒LSPR检测，但其光学界面为传统比色皿/反应塞尔，未公开通过载体微观刻面的双重折射机制。

* 因此，组合 D3 + D1 或 D3 + D2 尚无法直接拼凑出“在凹槽刻面处进行双重折射检测”的全套技术特征。

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## 四、 无效请求中最薄弱的技术特征分析

若对目标专利权利要求1提出无效宣告请求，**最薄弱（最易被突破）的技术特征是：**

> **“在激励刻面处折射进入样本室”与“在收集刻面处收集折射的输出光束”（双重折射功能限定）**

### 薄弱原因剖析：

1. **物理结构与物理过程的混淆：**

从纯粹的**物理几何结构**来看，D3 已经完全公开了具有激励刻面、收集刻面及凹槽的载体结构。目标专利权利要求1实质上是在 D3 的几何结构上，限定了一种“光线发生折射而非全内反射”的**工作状态/功能属性**。

2. **公知常识与折射定律（Snell's Law）的显而易见性：**

根据光的折射定律 $n_1 \sin\theta_1 = n_2 \sin\theta_2$，当光线照射到两种介质的倾斜界面时，是发生全内反射（TIR）还是折射（Refraction），完全取决于**入射角（$\theta_1$）**与**介质折射率比值（$n_2/n_1$）**。

* 目标专利说明书第[0088]-[0095]段及图4自身亦承认：**对于完全相同的斜面结构（光学结构50），当样本室充盈空气（折射率小）时发生全内反射；当充盈液体（折射率大）时则自然转变为折射。**

* 因此，本领域技术人员为了检测更大体积的悬浮粒子，根据基本光学常识，调整光束入射角或介质折射率使光线从“全内反射”变为“折射”，属于无需付出创造性劳动即可实现的物理参数选择。

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## 五、 进一步对比文件检索策略

为了彻底摧毁权利要求1的创造性（证明“斜面双重折射检测/Double Refraction Detection”属于现有技术），建议采取以下补充检索策略：

### 1. 专利分类号（IPC/CPC）组合检索

* `G01N21/03`（试样容器/比色皿的光学细节）

* `G01N21/05`（流动池/流道光学检测）

* `G01N21/77`（利用微结构/棱镜耦合的光学传感器）

* `B01L3/00`（微流控芯片/载体结构）

### 2. 核心关键词及表达替换

* **结构词：** `prism array`（棱镜阵列）、`refractive groove`（折射凹槽）、`inclined facet`（倾斜刻面）、`wedge structure`（楔形结构）、`v-groove`（V型槽）。

* **机制词：** `double refraction`（双重折射）、`refractive detection`（折射检测）、`transmission through groove`（穿透凹槽）、`dual refraction`。

### 3. 针对性检索方向建议

* **方向一（突破折射机制）：** 重点检索 2009 年（目标专利优先权日）之前的微流控光学检测专利或期刊文献，寻找明确记载“利用微流道底部的棱镜/斜面将入射光**折射透射**穿过流道液体，并在对侧斜面收集折射光以测量液体吸收/散射”的技术方案（例如：Prism-based microfluidic flow cell for optical absorption/scattering）。

* **方向二（公知常识补充证据）：** 检索光学传感器教科书或基础光学专利，获取证明“利用棱镜折射扩充倏逝波探测深度至体相溶液（Bulk Solution）”属于光学传感领域通用技术手段的直接证据。

作为一名专利代理师，我对目标专利（授权公告号：CN101990634B，授权权利要求1）与所给对比文件（对比文件1：JPWO2006051778A1/WO2006051778A1，下称D1）进行了深入的技术特征比对与法律逻辑分析。

下面为您提供详细的权利要求解释、特征比对表格、最接近对比文件分析、最薄弱技术特征评估以及后续检索策略。

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### 一、 目标专利说明书对权利要求1的解释

紧密结合目标专利说明书（CN101990634B）原文，权利要求1中关键术语的法律与技术含义解释如下：

1. **“载体（11）”与“邻近样本室（2）”**：

* **解释**：载体（11）通常由玻璃或聚苯乙烯等透明材料制成，用以传播特定波长（如可见光、UV、IR）的光。样本室（2）位于载体外部空间，用于盛放包含目标成分（如生物分子、磁性/荧光颗粒等）的样本流体[说明书段落0006, 0061]。

2. **“在其表面（12）上的光学结构（50）”与“凹槽”**：

* **解释**：光学结构（50）形成于载体与样本室接触的表面（12）上，具体表现为在表面上形成的至少一个（或多个规则/不规则排列的）孔或凹槽（特别是三角形或梯形的类棱镜结构）[说明书段落0018, 0021, 0073]。

3. **“至少一个激励刻面（53）”与“至少一个收集刻面（54）基本上在中间相遇”**：

* **解释**：凹槽具有两个相反倾斜、相对的刻面，即“激励刻面（53）”和“收集刻面（54）”[说明书段落0016, 0020]。两者“基本上在中间相遇并形成凹槽”指的是两倾斜面相交形成凹槽的谷底（如V形谷底）或结构转折[说明书图2, 段落0073]。

4. **“在激励刻面处将输入光束（L1）折射到邻近样本室（2）中，撞击到样本上”**：

* **解释**：光从透明载体内部射向表面，经激励刻面（53）发生**折射（双重折射机制中的第一次折射）**直接进入样本室（外部空间）的液体介质中，形成穿越凹槽内微观探测体积的光片，光直接照射并撞击在样本/颗粒（1, 1'）上。这不同于全内反射（TIR）产生的仅十至数百纳米的“倏逝波”，而是实现微米级探测深度[说明书段落0006, 0009, 0074]。

5. **“同时从样本室（2）收集在收集刻面（54）处折射的输出光束（L2, L2'）”与“光译”**：

* **解释**：光在穿越样本室凹槽并与样本发生吸收、散射或激发荧光等相互作用后，经相对的收集刻面（54）**再次折射（第二次折射）**重新被收集回载体内部[说明书段落0006, 0016, 0074]。输出光束中包含源于输入光束的光（即光译/Light translated），实现了在载体同侧（下侧）同时进行光照射和信号检测[说明书段落0007, 0016]。

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### 二、 对比文件1（D1: JPWO2006051778A1 / WO2006051778A1）的技术特征比对

#### 1. 对比文件1原文比对表格

#### 2. 对比文件分析总结

* **对比文件D1（JPWO2006051778A1 / WO2006051778A1）**：

* **公开性结论**：D1**实质上完全公开了权利要求1的所有技术特征**（技术特征A-G）。

* **技术方案映射关系**：D1用于非侵袭性测量体液中的血糖等成分，其采用高屈折率的光透过体（如硅）在其接触表面形成V型沟槽（18a, 18b）。光从内部射向V槽斜面，在第一斜面（激励刻面）发生**折射**进入皮肤组织（样本），光在组织内传播后，在相对的第二斜面（收集刻面）再次**折射**回光透过体并被接收检测。这与目标专利权利要求1所限定的折射凹槽光学结构完全对应。

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### 三、 创造性分析：最接近对比文件与薄弱特征评估

#### 1. 最接近对比文件的选择

* **最接近对比文件**：**D1（WO2006051778A1）** 绝对适合作为**最接近的对比文件**（现有技术）。

* **整体解决的技术问题与技术效果对比**：

* **目标专利**：旨在解决现有全内反射/倏逝波（TIRF）检测体积过小（仅几十到数百纳米）或传统透射结构复杂的问题，通过在载体表面设置包含折射/收集刻面的凹槽结构，利用光在凹槽界面的**双重折射**，实现对微米级（1-1000 µm）小体积样本的高灵敏度光学检测，且允许在载体同侧（光源侧）同时进行照明与检测[说明书段落0004, 0007, 0009]。

* **D1**：旨在解决传统多凹槽接触子信号容易混信、测量不精确的问题。其通过光透过体表面的V型/凹型沟槽，利用光在沟槽界面的**折射**进入生体组织并折射返回，实现对浅层及深层生体组织高精度、无混信的光学检测[D1说明书段落0004, 0005, 0033]。

* **结论**：D1与目标专利属于相同的技术领域（生物样本的光学检测载体/素子），解决了相同的技术问题（限定特定深度/小体积检测、避免上侧结构阻碍、防混信），且采用了完全相同的技术手段（利用透明介质表面凹槽刻面的光线双重折射）。因此D1是唯一且最恰当的最接近对比文件。

#### 2. 最薄弱的技术特征评估（无效突破口）

如果对目标专利权利要求1提出无效宣告请求，基于现有证据（仅D1），**权利要求1本身的技术特征极为薄弱，已被D1全面覆盖（缺乏新颖性/创造性）**。

然而，若专利权人在无效程序中试图结合从属权利要求或说明书进行修改/解释，以下点属于目标专利可能主张但实际防御力最薄弱的技术特征：

1. **“激励刻面与收集刻面在中间相遇形成凹槽”（特征C）**：

* *薄弱分析*：目标专利在说明书图2中展示的是连续微型阵列结构（周期性楔形/齿状凹槽）。但权利要求1仅宽泛限定为“至少一个激励刻面和至少一个收集刻面基本上在中间相遇并且形成凹槽”。D1的V型沟槽（图3、图4）完全落入该宽泛范围。

2. **“同时折射/收集”（特征D、F）**：

* *薄弱分析*：权利要求1强调“同时”折射与收集。然而只要光线是连续照射，折射进入与折射收集必然是“同时”发生的。D1的光学检测过程同样是连续光路照射与接收，具备“同时”性。

3. **“凹槽的具体尺寸与深度”（对应从属权利要求，如深度0.01-1000 µm）**：

* *薄弱分析*：目标专利说明书段落[0019]提到深度在0.01-1000 µm，而D1段落[0024]记载沟深度为“数10 µm以上”，并在段落[0037]-[0039]明确公开了深沟与浅沟深度范围（如200 µm以下、440 µm-2 mm）。两者的尺寸范围高度重叠。

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### 四、 进一步对比文件检索策略

为了在无效宣告程序中形成更加稳固的证据链（特别是应对专利权人可能将从属权利要求或说明书特征推入独立权利要求的情况），建议采取以下进一步检索策略：

1. **针对“磁性颗粒/磁场协同”特征的检索（针对从属权利要求及组合无效）**

* **背景**：目标专利说明书中大量篇幅（段落[0024]-[0025]、[0038]-[0043]、图10-16）涉及“在样本室中施加平行/垂直于载体表面的磁场，驱动磁性珠/颗粒形成链状或拉离表面以增强检测信号”。

* **检索关键词（中/英/日）**：

* 载体/芯片：`折射` / `凹槽` / `棱镜` / `微槽` / `refraction` / `groove` / `microchannel` / `prism`

* 磁场/磁珠：`磁性颗粒` / `磁珠` / `平行磁场` / `磁场梯度` / `磁清洗` / `magnetic bead` / `magnetic field` / `parallel field` / `chaining`

* **分类号组合（IPC/CPC）**：

* `G01N21/03`（光度学或荧光分析使用的容器/载体）

* `G01N21/55` / `G01N21/552`（利用全反射/受抑全反射/表面等离子体共振）

* `G01N33/543`（结合测定法中的固相载体/磁性载体）

* `G01N21/84`（特殊光电检测系统）

2. **针对“湿法检测/折射率切换机制”特征的检索**

* **背景**：目标专利说明书段落[0026]-[0031]、图4提到了利用流体存在与否（空气vs液体）导致界面发生全内反射（TIR）或折射（Refraction）切换来进行“湿法检测/填充检测”。

* **检索逻辑与关键词**：

* `湿法检测` / `样品填充` / `全内反射与折射切换` / `介质折射率判别`

* `wetting detection` / `sample presence` / `index matching` / `TIR to refraction transition`

3. **追踪同族专利与引证文献检索**

* 检索目标专利（CN101990634B）的同族专利（如 US20110058162A1、WO2009095828A1 等）在审查过程（欧洲专利局 EPO、美国专利商标局 USPTO）中的审查意见通知书（Office Actions）及审查员引证对比文件，可快速获取同领域极具杀伤力的对比文件。

如权利要求1所述的载体（11）或如权利要求2所述的装置（100），其特征在于所收集的作为所述输出光束（L2，L2’）的所述光已行经所述样本室（2）小于1000μm;优选小于100μm;最优选小于10μm译。

如权利要求1所述的载体（11）或如权利要求2所述的装置（100），其特征在于所述光学结构（50）包括至少一个激励刻面（53）和至少一个对应的收集刻面（54）;经由所述激励刻面（53）所述输入光束（L1）的光能够发射到所述样本室（2）中;经由所述收集刻面（54）能够重新收集所发射的光译。

如权利要求1所述的载体（11）或如权利要求2所述的装置（100），其特征在于所述输出光束（L2）能够包括来自在所述样本室（2）中被所述输入光束（L1）激发的光致发光剂的光译。

如权利要求1所述的载体（11）或如权利要求2所述的装置（100），其特征在于所述光学结构（50）包括在所述载体（11）的所述表面（12）中的至少一个孔或者凹槽（52）;其中所述孔或者凹槽（52）的横截面具有两个相反倾斜的、相对刻面（53，54）译。

如权利要求6所述的载体（11）或如权利要求6所述的装置（100），其特征在于所述横截面是三角形横截面译。

如权利要求6所述的载体（11）或如权利要求6所述的装置（100），其特征在于所述横截面是梯形横截面译。

如权利要求1所述的载体（11）或如权利要求2所述的装置（100），其特征在于所述载体（11）包括接触表面（12）;所述接触表面具有带有光学结构（50）的多个独立研究区域（13，13a，13b，13c）译。

如权利要求1所述的载体（11）或如权利要求2所述的装置（100），其特征在于所述光学结构（50）包括用于样本的目标成分（1，1’）的结合部位译。