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对比文件列表
2008-01-03_发明申请_US20080005646A1 Reliability, availability, and serviceability in a memory device_+++n+++.docx
2026-02-23 17:30
2009-11-19_发明专利_JP2009540477A Reliability of the memory device, availability, and serviceability of improvement_+++N+++.docx
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2010-02-10_发明公开_CN101647004A 存储器阵列错误校正设备、系统和方法_+++n+++.docx
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2011-07-26_发明授权_US07987229B1 Data storage system having plural data pipes_+++n+++.docx
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2011-11-09_发明授权_CN101097784B 改善存储装置的可靠性、可用性及可维修性_+++n+++.docx
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2011-12-20_发明授权_US08082482B2 System for performing error correction operations in a memory hub device of a memory module_+++n+++.docx
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2013-01-24_发明申请_US20130024744A1 NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND MEMORY SYSTEM_+++n+++.docx
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2013-03-12_发明授权_US08397129B2 Memory array error correction apparatus, systems, and methods_+++N+++.docx
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2013-04-09_发明授权_US08417987B1 Mechanism for correcting errors beyond the fault tolerant level of a raid array in a storage system_+++N+++.docx
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2014-06-26_发明申请_US20140177362A1 Memory Interface Supporting Both ECC and Per-Byte Data Masking_+++G_n+++.docx
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2014-09-16_发明授权_US08837241B2 Semiconductor memory device_+++n+++.docx
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2014-10-23_发明申请_US20140317470A1 MEMORY DEVICES THAT PERFORM MASKED WRITE OPERATIONS AND METHODS OF OPERATING THE SAME_+++g_m_n+++.docx
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2014-09-16_发明授权_US08837241B2 Semiconductor memory device_+++n+++.docx

对比文件名称:2014-09-16_发明授权_US08837241B2 Semiconductor memory device

目标专利名称:在跨存储器链路传送纠正数据时保护ECC位置 CN108351820B

本次调用模型名称:DeepSeek最新版本模型

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用公开性论述
**技术特征A**:包括:在掩码写操作期间将链路纠错码ECC奇偶校验位嵌入在未使用的数据掩码位和/或掩码写数据中《未公开》[0007] 结合了RMW(读取-修改-写入)功能的存储器…当写入数据的位宽小于数据总线宽度时,RMW功能会通过向存储在存储器核心中的数据添加适当数量的位(可称为“掩码位”)来增加位数以匹配数据总线宽度,然后生成汉明码并将其写入存储器核心。对比文件公开了在掩码写操作(RMW)期间,会利用来自存储器核心的旧数据和新的掩码写数据生成一个完整的数据集,并生成ECC奇偶校验位(汉明码)。然而,目标专利的“链路ECC奇偶校验位”是专门用于在主机与存储器之间的数据总线(即“链路”)上进行传输时保护数据、对抗链路错误的。对比文件生成的ECC奇偶校验位(汉明码)是用于保护数据在存储器核心(存储阵列)中存储时的可靠性(对抗单元阵列错误),其作用与目标专利的“链路ECC”不同。此外,对比文件未提及将ECC奇偶校验位“嵌入”在“未使用的数据掩码位”中,其数据掩码信号(MASK)仅用于指示哪些写数据字节需要被替换,并非ECC位的载体。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征B**:以及通过在所述掩码写操作期间将所述未使用的数据掩码位或所述掩码写数据标识为所述链路纠错码ECC奇偶校验位的位置《未公开》[0075] 数据集生成部分124从与写命令一起输入到半导体存储器件100的写入数据和掩码信号MASK、以及从ECC解码部分160接收到的数据ECD生成数据集DS。更具体地,将数据ECD中包含的、由掩码信号MASK指示的位通过插入到写入数据的关联位置中来添加,以生成具有数据总线宽度(32位)的数据集DS。对比文件公开了在掩码写操作中使用掩码信号(MASK)来选择从存储器核心读出的数据中哪些位需要被新的写数据替换。然而,掩码信号在此处的作用是标识要被“掩码”(即不被更新)的写数据字节,而不是用于标识某个位置是用于承载“链路ECC奇偶校验位”。目标专利的核心之一是保护承载ECC位的位置信息本身,而对比文件完全不涉及此概念。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征C**:,在所述掩码写操作期间保护至少所述未使用的数据掩码位或所述掩码写数据中的所述链路纠错码ECC奇偶校验位的位置对抗链路错误。《未公开》无对应内容。保护ECC奇偶校验位的位置“对抗链路错误”是目标专利要解决的核心技术问题(参见说明书背景技术及图5A-5B,图6A-6B,图7A)。对比文件描述的存储器件及其ECC功能完全针对存储器内部(核心阵列)的数据可靠性,不涉及数据在外部总线(链路)传输过程中产生的错误,更未提及需要对承载ECC信息的位置本身进行额外的保护。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征D**:其中,保护至少所述链路纠错码ECC奇偶校验位的位置包括:在所述掩码写操作期间传送数据掩码ECC奇偶校验位以保护至少第一经断言的数据掩码位,所述第一经断言的数据掩码位标识被嵌入在对应的掩码写数据字节中的所述链路纠错码ECC奇偶校验位。《未公开》无对应内容。对比文件未提及“数据掩码ECC奇偶校验位”的概念。目标专利中此特征是为保护标识ECC位置的数据掩码位本身(如图6A中位622)而设计的方案。对比文件的掩码信号(MASK)在传输中未被赋予额外的ECC保护。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征E**:进一步包括在所述掩码写操作期间传送所述链路纠错码ECC奇偶校验位在预定突发长度的写数据内的ECC位置码。《未公开》无对应内容。对比文件未提及“ECC位置码”。目标专利中此特征(如图6A中的“象限位置码”)用于明确指示ECC奇偶校验位在数据突发中的具体位置(例如在哪个象限,是通过DM引脚还是DQ位传送),这是保护可变ECC位置方案的一部分。对比文件不涉及此需求或方案。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征F**:进一步包括在所述掩码写操作期间在命令/地址总线上传送所述数据掩码ECC奇偶校验位以及所述链路纠错码ECC奇偶校验位的所述ECC位置码。《未公开》无对应内容。对比文件描述了命令/地址总线(CMD, ADD)用于传输命令和地址,但未记载在掩码写操作期间通过命令/地址总线来传送用于保护数据掩码位的ECC奇偶校验位或ECC位置码。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征G**:其中,在所述掩码写操作期间嵌入包括:确定预定突发长度的写数据是否包括第一经断言的数据掩码位《隐含公开》[0075] 数据集生成部分124从与写命令一起输入到半导体存储器件100的写入数据和掩码信号MASK、以及从ECC解码部分160接收到的数据ECD生成数据集DS。更具体地,将数据ECD中包含的、由掩码信号MASK指示的位通过插入到写入数据的关联位置中来添加,以生成具有数据总线宽度(32位)的数据集DS。对比文件公开了在掩码写操作中,会接收一个掩码信号(MASK)。要生成完整的数据集,必然需要根据掩码信号来确定哪些数据位来自新的写数据,哪些来自读出的旧数据。这个过程隐含了需要“确定”掩码信号的状态(即是否有被断言(例如,指示为掩码)的位)。虽然对比文件未使用“第一经断言的数据掩码位”这一表述,但本领域技术人员能够理解,为了执行RMW操作,必须对掩码信号进行解析以识别出被掩码的字节/位,这与“确定…是否包括第一经断言的数据掩码位”在功能本质上是相同的。因此,该技术特征被对比文件隐含公开。
**技术特征H**:将所述链路纠错码ECC奇偶校验位嵌入在与所述第一经断言的数据掩码位相对应的第一掩码写数据字节中并嵌入在所述第一经断言的数据掩码位内《未公开》无对应内容。对比文件没有将任何ECC奇偶校验位“嵌入”到掩码写数据字节中。其生成的ECC(汉明码)是基于完整的数据集计算得出的,并与数据集一起作为“ECC数据”存储。掩码信号(MASK)本身不承载ECC信息。目标专利此特征描述了一种特定的ECC位嵌入方案(如说明书图7A中710和712所示),而对比文件完全不涉及此方案。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征I**:以及否则将所述链路纠错码ECC奇偶校验位嵌入在所述未使用的数据掩码位中。《未公开》无对应内容。对比文件未提及在正常写操作(无掩码)时,将ECC奇偶校验位嵌入“未使用的数据掩码位”中。其数据掩码信号仅在掩码写操作时使用。目标专利此特征对应于图2B、3B、3C等所示的方案,对比文件未公开。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征J**:其中,保护至少所述链路纠错码ECC奇偶校验位的位置包括:在所述掩码写操作期间传送指示所述链路纠错码ECC奇偶校验位在预定突发长度的写数据内的块位置的差拍位置码。《未公开》无对应内容。对比文件未提及“差拍位置码”。目标专利中此特征(如图7A中的“差拍位置码”)是另一种用于传达可变ECC位置信息的方案。对比文件不涉及此需求或方案。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征K**:进一步包括传送指示所述链路纠错码ECC奇偶校验位是被嵌入在所述预定突发长度的写数据的数据部分还是所述数据掩码部分中的块位置码。《未公开》无对应内容。对比文件未提及“块位置码”。目标专利中此特征(如图7A中的“DM位”和“ECC位”旗标)用于指示ECC位是在数据部分还是数据掩码部分。对比文件不涉及此需求或方案。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征L**:进一步包括在所述掩码写操作期间在命令/地址总线上传送所述差拍位置码和所述块位置码。《未公开》无对应内容。对比文件未提及通过命令/地址总线传送差拍位置码和块位置码。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征M**:进一步包括接收用于读操作期间对读数据的捕捉的定时信息。《未公开》说明书提及时钟信号(CLK)用于同步操作(例如,[0039], [0042]),但未明确记载专门用于“改善对读数据的捕捉”而接收的额外“定时信息”。读操作在时钟控制下进行(例如,[0056]-[0068]),但这是同步电路的一般操作方式。对比文件描述了在读操作中,数据在时钟控制下从存储器核心读出、解码并输出。虽然这隐含了需要定时控制来正确捕捉数据,但目标专利说明书[0052]段提及的“定时信息”更可能指的是为改善读数据捕捉而专门提供的额外定时信号或调整信息(例如,训练或校准信息),而非基础的时钟信号。对比文件未明确公开此类专门的定时信息。因此,该技术特征未被对比文件公开。
**技术特征N**:其中,进一步包括将所述低功率存储器子系统集成到移动电话、机顶盒、音乐播放器、视频播放器、娱乐单元、导航设备、计算机、手持式个人通信系统(PCS)单元、便携式数据单元、固定位置数据单元、服务器计算系统、和/或车辆控制系统中。《隐含公开》虽然对比文件说明书未明确列举这些具体设备,但其背景技术[0006]段提到:“特别是,包含在用于嵌入式系统的LSI(大规模集成电路)中的DRAM(动态随机存取存储器)的数据总线宽度有明显增加的趋势,因为它不像通用独立存储器那样有接口规范限制”。此外,作为具有ECC和RMW功能的通用“半导体存储器件”,其设计目的就是可被集成到各种电子系统和设备中。该技术特征是一个非常宽泛的集成特征,限定了所述存储器子系统可被应用或集成到的终端设备类型。对比文件公开的半导体存储器件是一种通用存储组件,其设计目的(尤其提到了“嵌入式系统”)决定了它可以被本领域技术人员集成到需要存储功能的各类电子设备中,包括但不限于移动电话、计算机、服务器等。虽然对比文件没有明确列举所有设备,但根据其作为嵌入式存储器的属性,本领域技术人员能够合理地推断其可用于这些常见的电子设备中。因此,该技术特征被对比文件隐含公开。

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