返回项目页面
对比文件列表
2003-07-16_KR1020030060792A_发明公开_KR1020030060792A 방향성 결합기 부착 필터 및 통신장치_+++B_C_D_E_K_a_g_j_l_m_n+++.docx
2026-06-17 01:11
2004-01-01_US2004000971A_发明申请_US20040000971A1 High efficiency stepped impedance filter_+++A_B_C_D_E_G_H_I_L_M_N_o+++.docx
2026-06-17 01:11
2004-01-02_EP1376745A_发明公开_EP1376745A1 High efficiency stepped impedance filter_+++G+++.docx
2026-06-17 01:11
2004-01-22_AU2003204881A_发明专利_AU2003204881A1 High efficiency stepped impedance filter_+++A_B_C_D_E_G_H_I_N_f_j_k_l_m_o_p_q_r+++.docx
2026-06-17 01:11
2004-08-24_US6781486B_发明授权_US06781486B2 High efficiency stepped impedance filter_+++G_b_c_d_o+++.docx
2026-06-17 01:11
2004-11-25_AU2003204881B_发明专利_AU2003204881B2 High efficiency stepped impedance filter_+++D_G+++.docx
2026-06-17 01:11
2005-03-03_US2005046522A_发明申请_US20050046522A1 VARIABLE FILTER USING FLUID DIELECTRIC_+++A_B_C_D_G_N_e+++.docx
2026-06-17 01:11
2005-03-15_US6867666B_发明授权_US06867666B1 Variable filter using fluid dielectric_+++G+++.docx
2026-06-17 01:11
2005-09-01_US2005191785A_发明申请_US20050191785A1 Via structure of packages for high frequency semiconductor devices_+++A_E_G_N+++.docx
2026-06-17 01:11
2006-07-20_US2006158280A_发明申请_US20060158280A1 High frequency and wide band impedance matching via_+++A_E_F_N_g+++.docx
2026-06-17 01:11
2007-08-23_DE60307732T_发明专利_DE60307732T2 Highly efficient stepped-impedance filter_+++A_B_C_D_G_N+++.docx
2026-06-17 01:11
2008-02-07_JP2008029026A_发明专利_JP2008029026A Channel estimator_+++B_C_D_G_N_a+++.docx
2026-06-17 01:11
2008-05-29_US2008121422A_发明申请_US20080121422A1 MULTILAYERED PRINTED-WIRING BOARD AND INTER-LAYER CONNECTING METHOD THEREOF_+++E_F_J_K_a_g_n+++.docx
2026-06-17 01:11
2011-08-03_JP4740270B_发明专利_JP4740270B2 Storage case of the recording medium for the disk_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_K_L_M_N_O_P_Q_R_a_b_c_d_e_f_g_h_i_j_k_l_m_n_o_p_q_r+++.docx
2026-06-17 01:11
2004-11-25_AU2003204881B_发明专利_AU2003204881B2 High efficiency stepped impedance filter_+++D_G+++.docx

对比文件名称:2004-11-25_AU2003204881B_发明专利_AU2003204881B2 High efficiency stepped impedance filter

目标专利名称:1182通孔过渡及其制作方法CN105453332B

本次调用的模型名称:当前AI模型

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断对比文件原文引用公开性论述
技术特征A:包括两个端部分(L1,L5) - 未公开对比文件公开了输入/输出端口108(参见图1及相关具体实施方式描述,例如“The exemplary stepped impedance filter 120 comprises multiple transmission line sections 110, 112 and 114 and input/output ports 108”)目标专利说明书【0030】段明确端部分L1和L5是通孔过渡的组成部分,延伸通过介电层,形成垂直结构。对比文件的输入/输出端口是平面传输线的端点,用于连接外部信号,但并非垂直通孔结构的一部分。两者在结构形式上存在本质差异,对比文件未公开垂直通孔结构的端部分。
技术特征B:高阻抗部分(L2,L3,L4) - 未公开对比文件公开了高阻抗传输线段110(参见图1及相关描述,例如“High impedance transmission line sections 110 are coupled to the first region 102”)目标专利说明书【0030】段记载高阻抗部分L2、L3、L4是垂直通孔过渡的组成部分。对比文件的高阻抗传输线段是平面带状线或微带线结构,形成在基板表面或埋入层内,而非垂直通孔结构。二者实现形式不同,对比文件未公开垂直结构的高阻抗部分。
技术特征C:低阻抗部分(C1,C2,C3,C4) - 未公开对比文件公开了低阻抗传输线段112和最低阻抗传输线段114(参见图1及相关描述,例如“lower impedance transmission line sections 112 are coupled to the second regions 104”和“lowest impedance transmission line sections 114 are coupled to third regions 106”)目标专利说明书【0030】段记载低阻抗部分C1、C2、C3、C4是垂直通孔过渡的组成部分。对比文件的低阻抗传输线段是平面结构,形成在基板表面或埋入层内,并非垂直通孔结构。二者实现形式不同,对比文件未公开垂直结构的低阻抗部分。
技术特征D:其中所述高阻抗部分(L2,L3,L4)和所述低阻抗部分(C1,C2,C3,C4)被交替布置在两个端部分(L1,L5)之间 - **直接公开**对比文件明确记载:“Stepped impedance filters typically have an input port, an output port, and multiple alternating high impedance and low impedance transmission line sections.”(具体实施方式部分开头)以及“The exemplary stepped impedance filter 120 comprises multiple transmission line sections 110, 112 and 114 and input/output ports 108. High impedance transmission line sections 110 are coupled to the first region 102 and lower impedance transmission line sections 112 are coupled to the second regions 104. Finally, lowest impedance transmission line sections 114 are coupled to third regions 106, as shown.”(图1相关具体实施方式描述)目标专利说明书【0008】段记载“高阻抗部分和低阻抗部分交替地布置在通孔过渡的两个端部分”。对比文件公开了阶梯阻抗滤波器由交替的高阻抗和低阻抗传输线段构成,这些线段连接在输入端口和输出端口之间。该拓扑结构与目标专利的“交替布置在两个端部分之间”完全一致,均用于形成阶梯阻抗低通滤波结构,以实现阻抗变换和滤波功能。因此,该技术特征被对比文件直接公开。
技术特征E:所述通孔过渡形成在基底中 - 未公开对比文件全文未涉及通孔过渡结构。目标专利的技术方案涉及在基底中形成的通孔过渡,该通孔过渡由交替的高、低阻抗部分构成。对比文件涉及的是平面RF滤波器,其传输线段形成在基板表面或埋入基板内,未公开任何以垂直通孔形式实现的过渡结构。
技术特征F:其中每个部分延伸通过所述基底的一个或更多个介电层 - 未公开对比文件未公开其传输线段延伸通过介电层。目标专利说明书【0033】段示例了各部分延伸通过不同层数的介电层(如低阻抗部分C1和C4延伸通过单层,端部分L1延伸通过两层等)。对比文件的传输线段形成在基板表面或单层埋入结构,未公开延伸通过多个介电层的特征。
技术特征G:其中所述基底是低温共烧陶瓷LTCC、高温共烧陶瓷HTCC、液晶聚合物LCP或有机印刷电路板PCB基底 - **直接公开**对比文件记载了多种基底材料:例如“Low-Temperature Cofire Dielectric Tape”(如杜邦951,见具体实施方式段关于Green Tape的描述)、“Ferro Electronic Materials ULF28-30 Ultra Low Fire COG dielectric formulation”(见具体实施方式段)、以及“polytetrafluoroethylene (PTFE) based composites”(如RT/duroid 6002和5880,见具体实施方式段关于低介电常数材料的描述)。目标专利说明书【0025】段记载基底可以是LTCC、HTCC、LCP或有机PCB。对比文件明确公开了低温共烧陶瓷(LTCC)材料(如杜邦951、Ferro ULF28-30)以及有机基板材料(如PTFE),这些材料类型完全落入目标专利所列的基底材料范围。因此直接公开。
技术特征H:其中所述低阻抗部分(C1,C2,C3,C4)的数目是4 - 未公开对比文件未限定低阻抗部分的具体数目。目标专利权利要求限定低阻抗部分数目为4。对比文件仅示例了七元件低通滤波器,未公开低阻抗部分的具体数目。
技术特征I:所述高阻抗部分(L2,L3,L4)的数目是3 - 未公开对比文件未限定高阻抗部分的具体数目。目标专利权利要求限定高阻抗部分数目为3。对比文件仅示例了七元件低通滤波器,未公开高阻抗部分的具体数目。
技术特征J:其中每个部分的形状都为圆柱形 - 未公开对比文件未公开圆柱形结构。目标专利说明书【0032】段明确记载所有部分都是相同形状的圆柱体。对比文件的传输线段为平面带状线或微带线,其形状为带状导体,而非圆柱形。
技术特征K:所有部分都是同轴对齐的 - 未公开对比文件未公开同轴对齐。目标专利说明书【0032】段记载所有部分同轴对齐。对比文件的平面传输线段沿水平方向排列,不存在同轴对齐的垂直结构。
技术特征L:其中高阻抗部分(L2,L3,L4)中的每一个的横截面面积比端部分(L1,L5)中的任一个的横截面面积更小 - 未公开对比文件未公开横截面面积的比较关系。目标专利说明书【0032】段记载高阻抗部分L2、L3、L4的横截面面积大于端部分L1和L5(注意:原文此处描述为高阻抗部分横截面面积更大,但权利要求L描述为更小,需以权利要求为准。说明书【0032】段:“低阻抗部分C1、C2、C3、C4每个相较于端部分L1和L5中的任一个都具有较小的横截面面积,且高阻抗部分L2、L3和L4每个相较于端部分L1和L5中的任一个都具有较大的横截面面积”。但权利要求L描述为高阻抗部分横截面面积比端部分更小,可能存在笔误。但从说明书整体看,高阻抗部分横截面面积大于端部分。无论哪种,对比文件均未公开任何横截面面积比较关系。)
技术特征M:低阻抗部分(C1,C2,C3,C4)中的每一个的横截面面积比端部分(L1,L5)中的任一个的横截面面积更大 - 未公开对比文件未公开横截面面积的比较关系。目标专利说明书【0032】段记载低阻抗部分C1、C2、C3、C4的横截面面积小于端部分L1和L5(与权利要求M的“更大”描述相反,可能存在笔误)。对比文件未公开任何横截面面积比较关系。
技术特征N:其中所述两个端部分(L1,L5)被分别直接耦接到两个传输线 - 未公开对比文件公开了输入/输出端口108耦接到传输线(图1及相关描述)。目标专利的端部分L1和L5是垂直通孔过渡的端部,直接耦接到传输线。对比文件的输入/输出端口是平面结构的端点,虽然也连接传输线,但端口本身并非垂直通孔结构的一部分。对比文件未公开垂直端部分与传输线的直接耦接。
技术特征O:其中所述通孔过渡和所述传输线由金或银制成 - 未公开对比文件未限定导体材料为金或银。目标专利说明书【0035】段记载通孔过渡和传输线优选由金或银制成。对比文件仅提及金属导体,未公开金或银的具体材料限定。
技术特征P:其中所述LTCC基底由Ferro A6S制成 - 未公开对比文件记载了“Ferro Electronic Materials ULF28-30 Ultra Low Fire COG dielectric formulation”(具体实施方式段关于Green Tape的描述)。目标专利说明书【0025】段记载优选LTCC基底为Ferro A6S。对比文件虽提及Ferro材料,但型号为ULF28-30,并非Ferro A6S。未公开该具体型号。
技术特征Q:所述Ferro A6S的介电常数为5.9且损耗因数为0.002 - 未公开对比文件未提供Ferro A6S的介电常数和损耗因数参数。目标专利说明书【0025】段提供Ferro A6S的介电常数为5.9、损耗因数为0.002。对比文件未公开这些具体电参数。
技术特征R:其中每个LTCC介电层的火后厚度为100um - 未公开对比文件未提供具体厚度。目标专利说明书【0025】段记载每个LTCC介电层的火后厚度可以为100um。对比文件未公开此具体厚度值。

<<<D>>><<<G>>>

Powered by Django

网站备案号:渝ICP备2023012882号


重庆市非显而易见网络科技有限责任公司 A Anti NPE NPE