对比文件的名称：2002-02-05_US6344288B_发明授权_US06344288B1 Light absorption antireflective body and method of producing the same
目标专利的名称：1635装饰构件及其制造方法CN111565930B
本次调用的模型名称：DeepSeek-R1
特征比对表格：
| 技术特征描述及公开性判断结果 | 对比文件原文引用（翻译中文） | 公开性论述 | ||
| **技术特征A：《直接公开》**<br>“包括：” | 对比文件摘要：“一种光吸收抗反射体，包括基板、第一层光吸收膜、第二层略微吸收膜、第三层低折射率膜”。对比文件说明书发明内容部分（第4页）也明确记载：“本发明的光吸收抗反射体包括基板，以及依次形成在基板上的第一层光吸收膜、第二层略微吸收膜、第三层低折射率膜”。 | 对比文件使用了“包括”（comprising）这一开放式连接词，直接公开了权利要求中“包括：”这一前序用语，本领域技术人员可以毫无疑义地确定该技术方案包含后续特征。 | ||
| **技术特征B：《直接公开》**<br>“基板” | 同上，对比文件明确记载“包括基板”（comprising a substrate）。此外，说明书实施例部分（Example 1）也使用“soda lime glass substrate”作为基板材料。 | 对比文件直接公开了基板这一实体，且在多个实施例中具体使用了玻璃基板或塑料基板，其作用与目标专利相同，均作为支撑层。 | ||
| **技术特征C：《直接公开》<br>“装饰层，所述装饰层设置在所述基板上”** | 对比文件摘要及发明内容均记载“第一层光吸收膜、第二层略微吸收膜、第三层低折射率膜依次形成在基板上”。这些膜层共同构成覆盖基板的膜层结构。例如，实施例1明确“在钠钙玻璃基板上形成氮化钛膜（26nm）/略微吸收的SiNx膜（26nm）/二氧化硅膜（70nm）”。 | 对比文件公开了在基板上设置多层膜结构，这些膜层具有光吸收、折射率调节等功能，与目标专利中装饰层（包含光吸收层等）的结构和设置方式相同。目标专利的装饰层既包括光反射层和/或光吸收层，对比文件的第一层光吸收膜相当于光吸收层，因此该膜层整体可视为装饰层。对比文件中的膜层同样直接形成于基板上，功能上也是对基板进行功能性装饰（虽主要用于抗反射，但客观上改变了外观）。因此对比文件直接公开了“装饰层设置在基板上”这一结构特征。 | ||
| **技术特征D：未公开**<br>“当与所述装饰层的平面垂直的方向被定义为x轴” | 对比文件未给出任何关于坐标轴的定义，尤其是未定义与装饰层平面垂直的x轴。 | 对比文件全文未涉及任何坐标系设定，也不存在对装饰层方向进行标注或测量的任何记载。本领域技术人员无法从中得出该定义。 | ||
| **技术特征E：未公开**<br>“所述装饰层的表面上的方向被定义为y轴” | 对比文件未定义y轴。 | 同D，无任何坐标轴相关教导。 | ||
| **技术特征F：未公开**<br>“在380nm≤λ≤780nm的波长范围内的标准光源D65的条件下使用检测器来检测所述装饰层上的所述y轴的宽度的中心点时” | 对比文件未提及光谱条件的标准光源D65，也未指定检测器检测y轴宽度的中心点。 | 对比文件涉及可见光范围的反射率测量，但未限定使用D65标准光源，更未涉及对y轴宽度中心点的检测。该特定测量条件完全未被公开。 | ||
| **技术特征G：未公开**<br>“所述检测器的中心与所述装饰层上的所述y轴的所述宽度的所述中心点连接的线在x－y轴平面上与所述x轴所形成的角度被定义为中心视角θ” | 对比文件没有定义视角的概念，更没有定义中心视角。 | 对比文件完全不涉及视角定义，其光学性能表征仅采用常规的反射率光谱，未从视角角度进行测量。 | ||
| **技术特征H：未公开**<br>“从所述检测器的所述中心到所述装饰层上的y轴方向上的所述宽度的所述中心点的距离被定义为Dv” | 对比文件没有定义检测器到装饰层上点的距离。 | 对比文件没有提出任何有关Dv的距离定义，也没有相应的测量方法。 | ||
| **技术特征I：未公开**<br>“在－15°至+15°的所述中心视角θ的至少一部分中由下式1表示的深度参数值δ1m为0.15以上” | 对比文件未公开任何深度参数值，也没有在-15°至+15°视角范围内的限定。 | 深度参数δ1m及其公式、范围在对比文件中完全缺失，对比文件着重于抗反射性能而非感知深度。 | ||
| **技术特征J：未公开**<br>“[式1] δ1m＝ | Δh | max/Dv” | 对比文件无此公式。 | 无公开。 |
| **技术特征K：未公开**<br>“其中， | Δh | max是由下式2表示的Δh的最大值：” | 对比文件无式2及相关描述。 | 无公开。 |
| **技术特征L：未公开**<br>“[式2]” | 对比文件无任何关于Δh或 | Δh | max的记载。 | 无公开。 |
| **技术特征M：未公开**<br>“其中，Δd由下式3表示：” | 对比文件无式3。 | 无公开。 | ||
| **技术特征N：未公开**<br>“[式3]” | 对比文件无相关公式。 | 无公开。 | ||
| **技术特征O：未公开**<br>“其中，θ被定义为由所述检测器的所述中心与通过所述检测器检测到的所述装饰层上的所述y轴上的任意点连接的线在所述x－y轴平面上与所述x轴所形成的视角” | 对比文件未定义任何视角。 | 同G，无视角定义。 | ||
| **技术特征P：未公开**<br>“θ和θ分别由下式4和下式5表示：” | 对比文件无式4、式5。 | 无公开。 | ||
| **技术特征Q：未公开**<br>“[式4]” | 对比文件无此公式。 | 无公开。 | ||
| **技术特征R：未公开**<br>“[式5]” | 对比文件无此公式。 | 无公开。 | ||
| **技术特征S：未公开**<br>“其中，θ和θ分别是在视角θ和θ下的角亮度” | 对比文件未提及角亮度参数。 | 对比文件仅涉及反射率、透射率等常规光度参数，从未定义或测量角亮度。 | ||
| **技术特征T：未公开**<br>“其中，θ满足下式6的范围：” | 对比文件无式6及相应范围。 | 无公开。 | ||
| **技术特征U：未公开**<br>“[式6]” | 对比文件无此公式。 | 无公开。 | ||
| **技术特征V：未公开**<br>“其中，θ和θ分别是θ和θ的最小值和最大值。” | 对比文件无此限定。 | 无公开。 | ||
| **技术特征W：未公开**<br>“其中，所述装饰构件具有一个以上的点” | 对比文件没有公开装饰构件上“点”的概念，其膜层是均匀连续的。 | 对比文件未提及装饰层上的特定点位。 | ||
| **技术特征X：未公开**<br>“在所述一个或多个点处，根据－15°至+15°的所述中心视角θ的角亮度图的斜率除以角亮度得到的值的绝对值为0.025以上” | 对比文件没有角亮度斜率的相关公开。 | 角亮度及其斜率参数完全缺失。 | ||
| **技术特征Y：未公开**<br>“其中，角度单位是度(°)。” | 对比文件尽管在角度测量中可能使用度，但并未结合上述特征公开。 | 单独单位不构成技术特征，但整体未公开。 | ||
| **技术特征Z：未公开**<br>“其中，Dv是500mm。” | 对比文件未提及500mm的距离。 | 无公开。 |
基于以上对比分析，对比文件仅直接公开了技术特征A、B、C，其余技术特征均未直接或隐含公开。结论代码：
<<<A>>><<<B>>><<<C>>>