**对比文件名称：** 2006-10-12_JP2006275535A_发明专利_JP2006275535A Microprism chip for surface plasmon resonance sensor, sensor chip using it and surface plasmon resonance sensor
**目标专利名称：** 1268用于在小样本体积中进行光学检测的载体CN101990634B
**本次调用的模型名称：** GPT-4 (假设)
### 特征比对表格
| 技术特征描述及公开性判断 | 对比文件原文引用（翻译） | 公开性论述 |
| 特征A：载体（11），其中所述载体包括在其表面（12）上的光学结构（50） **《直接公开》** | 对比文件说明书第[2]段（关于图2、3的描述）：“传感器用芯片10是树脂基板，具有两个平行的主面，第一主面具有多个截面为三角形的三角柱状突起部11，以预定间隔的平坦部12彼此平行设置，形成突起列；第二主面是平面，可设置金属膜。” | 对比文件公开了树脂基板（相当于载体）在其第一主面上具有多个突起部（相当于光学结构）。该结构虽然具体功能与目标专利不同，但结构特征“载体包括在其表面上的光学结构”已被直接公开，本领域技术人员能毫无疑义地得出该技术特征。 |
| 特征B：所述光学结构（50）具有至少一个激励刻面（53）和至少一个收集刻面（54） **《直接公开》** | 对比文件说明书第[2]段（关于光路）：“入射光从第一主面的突起部11的斜面P入射，传播通过树脂基板4，在第二主面的金属膜5上反射，反射光从树脂基板内从第一主面的突起部11的斜面Q出射。” | 对比文件公开了每个突起部具有两个相对倾斜的斜面，分别用于入射光（斜面P，相当于激励刻面）和出射光（斜面Q，相当于收集刻面）。因此“至少一个激励刻面和至少一个收集刻面”被直接公开。 |
| 特征C：该至少一个激励刻面（53）和至少一个收集刻面（54）基本上在中间相遇并且形成凹槽 **《未公开》** | 对比文件没有公开凹槽结构；其突起部是凸起的，两个斜面在顶部相遇形成棱镜尖端，而非凹槽。 | 对比文件的光学结构由凸起的三角柱状突起部组成，两个斜面在顶部相遇，形成凸起的棱镜，没有形成凹槽。目标专利要求刻面在中间相遇形成凹槽（V形槽），对比文件未公开该特征，本领域技术人员不能直接或隐含地得出凹槽结构。 |
| 特征D：所述光学结构（50）能够在所述激励刻面（54）处将输入光束（L1）折射到所述邻近样本室（2）中 **《未公开》** | 对比文件没有样本室；其光路是入射光从斜面折射进入基板内部，在第二主面的金属膜上反射，而非折射到基板外部的空间。 | 对比文件的光学结构用于将入射光折射到基板内部，而不是折射到载体外部的邻近样本室。目标专利的“样本室”是载体外部空间，对比文件未公开任何类似结构或功能。 |
| 特征E：撞击到所述样本（1，1’）上 **《未公开》** | 对比文件的光在金属膜上反射，与固定在金属膜上的测量物通过表面等离子体共振相互作用，并非直接照射到悬浮在样本室中的样本。 | 目标专利的样本位于样本室中，输入光束折射到样本室后直接撞击样本。对比文件没有样本室，其光与测量物的相互作用是通过金属膜反射时的倏逝波等，并非直接折射撞击，因此未公开。 |
| 特征F：能够同时从所述样本室（2）收集在所述收集刻面（54）处折射的输出光束（L2，L2’） **《未公开》** | 对比文件收集的是从金属膜反射的光，从出射斜面折射出去，而不是从样本室收集的光。 | 对比文件没有样本室，其输出光束是反射光，不是从样本室中收集的。目标专利的输出光束来自样本室，经过样本室后再次被折射，对比文件未公开该特征。 |
| 特征G：其中所述输出光束包括源于所述输入光束（L1）的光 **《直接公开》** | 同特征B引用：反射光（输出光束）源于入射光。 | 对比文件明确公开了从出射斜面输出的反射光束来源于入射光束，因此直接公开了“输出光束包括源于输入光束的光”。 |
| 特征H：其特征在于所收集的作为所述输出光束（L2，L2’）的所述光已行经所述样本室（2）小于1000μm **《未公开》** | 对比文件没有样本室，光在基板内部传播，距离未限定。 | 对比文件未公开样本室，也未公开光在样本室中传播的距离，因此该特征未被公开。 |
| 特征I：优选小于100μm **《未公开》** | 同特征H。 | 对比文件未公开任何距离数值，且无样本室，故未公开。 |
| 特征J：最优选小于10μm **《未公开》** | 同特征H。 | 对比文件未公开任何距离数值，且无样本室，故未公开。 |
| 特征K：其特征在于所述光学结构（50）包括至少一个激励刻面（53）和至少一个对应的收集刻面（54） **《直接公开》** | 同特征B引用：入射斜面P和出射斜面Q对应。 | 对比文件公开了每个突起部具有对应的入射斜面和出射斜面，即激励刻面和收集刻面一一对应，因此直接公开了“至少一个激励刻面和至少一个对应的收集刻面”。 |
| 特征L：经由所述激励刻面（53）所述输入光束（L1）的光能够发射到所述样本室（2）中 **《未公开》** | 同特征D。 | 对比文件没有样本室，光未发射到外部空间，故未公开。 |
| 特征M：经由所述收集刻面（54）能够重新收集所发射的光 **《未公开》** | 同特征F。 | 对比文件重新收集的是反射光，不是从样本室发射的光，故未公开。 |
| 特征N：其特征在于所述输出光束（L2）能够包括来自在所述样本室（2）中被所述输入光束（L1）激发的光致发光剂的光 **《未公开》** | 对比文件没有提及光致发光，其检测原理基于表面等离子体共振。 | 对比文件不涉及光致发光检测，未公开该特征。 |
| 特征O：其特征在于所述光学结构（50）包括在所述载体（11）的所述表面（12）中的至少一个孔或者凹槽（52） **《未公开》** | 对比文件的光学结构是突起部，不是孔或凹槽。 | 对比文件公开的是凸起的三角柱状突起部，没有孔或凹槽结构，因此未公开。 |
| 特征P：其中所述孔或者凹槽（52）的横截面具有两个相反倾斜的、相对刻面（53，54） **《未公开》** | 无凹槽，故无相关刻面。 | 由于对比文件未公开凹槽，该特征未被公开。 |
| 特征Q：其特征在于所述横截面是三角形横截面 **《未公开》** | 对比文件突起为三角形，但特征Q针对凹槽横截面。 | 对比文件没有凹槽，其突起三角形不能直接等同于凹槽的三角形横截面。目标专利明确要求凹槽的横截面为三角形，故未公开。 |
| 特征R：其特征在于所述横截面是梯形横截面 **《未公开》** | 对比文件无梯形结构。 | 对比文件未公开任何梯形横截面结构，故未公开。 |
| 特征S：其特征在于所述载体（11）包括接触表面（12） **《直接公开》** | 对比文件说明书第[2]段：“树脂基板4具有两个平行的主面”，第一主面是与样本接触的表面。 | 对比文件公开了树脂基板（载体）具有第一主面，该表面用于与测量物接触，因此直接公开了“载体包括接触表面”。 |
| 特征T：所述接触表面具有带有光学结构（50）的多个独立研究区域（13，13a，13b，13c） **《未公开》** | 对比文件仅描述了一个包含多个突起部的单一区域，没有提及多个独立的研究区域。 | 对比文件未公开多个独立研究区域，其光学结构覆盖整个区域，故未公开。 |
| 特征U：其特征在于所述光学结构（50）包括用于样本的目标成分（1，1’）的结合部位 **《未公开》** | 对比文件的测量物固定在金属膜上，而非光学结构上。 | 对比文件未在光学结构（突起部）上设置结合部位，其结合部位在金属膜上，因此未公开。 |
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