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对比文件列表
1993-01-14_None_发明专利_JPH055758A Current detecting apparatus_+++A_C_H_J_e_n+++.docx
2026-07-03 01:11
2005-01-27_US2005017760A_发明申请_US20050017760A1 Current sense shunt resistor circuit_+++A_E_F_G_H_J+++.docx
2026-07-03 01:11
2010-03-25_DE102009034448A_发明专利_DE102009034448A1 Detection of average current absorbed by a direct current electromotor, in a motor vehicle, uses the inductivity at a filter at the power supply connec_+++C_G_J_a_b_d_e_f_h_i_n+++.docx
2026-07-03 01:11
2012-10-11_WO2012137980A_发明申请_WO2012137980A1 SHUNT RESISTANCE TYPE CURRENT SENSOR_+++A_C_H_J_L+++.docx
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2012-11-12_JP2012220249A_发明专利_JP2012220249A Shunt resistance type current sensor_+++C_H_L_a_j+++.docx
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2014-01-16_US2014015515A_发明申请_US20140015515A1 Shunt Resistance Type Current Sensor_+++C_H_L_a_j+++.docx
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2014-02-12_EP2694985A_发明公开_EP2694985A1 SHUNT RESISTANCE TYPE CURRENT SENSOR_+++C_H_L_a_j+++.docx
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2014-04-21_JP2014070275A_发明专利_JP2014070275A Plasma treatment method, and plasma treatment apparatus_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_K_L_M_N_O_a_b_c_d_e_f_g_h_i_j_k_l_m_n_o+++.docx
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2014-08-01_KR1020140095285A_发明公开_KR1020140095285A 션트 저항의 온도계수를 이용한 가변부하의 전류 측정방법_+++A_C_H_J_g_i+++.docx
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2015-02-18_EP2837941A_发明公开_EP2837941A1 SHUNT RESISTANCE TYPE CURRENT SENSOR_+++A_H_L_i_j+++.docx
2026-07-03 01:11
2015-08-06_US2015219690A_发明申请_US20150219690A1 CURRENT SENSOR_+++H_a_j+++.docx
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2016-05-25_JP5926495B_发明专利_JP5926495B2 シャント抵抗式電流センサ_+++C_H_L_a_j+++.docx
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2016-12-14_KR101686485B_发明授权_KR101686485B1 과전류 검출 전압 보정 방법 및 전지 보호 집적 회로_+++H_a_f_g_j+++.docx
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2017-09-07_US2017254839A_发明申请_US20170254839A9 METAL SHUNT RESISTOR_+++H_L_a_j+++.docx
2026-07-03 01:11
2018-02-15_JP2018025446A_发明专利_JP2018025446A 電流検出装置_+++A_C_H_L_i_j+++.docx
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2018-02-23_CN107728094A_发明公开_CN107728094A 电流校准系数测量装置和方法、电流检测装置和方法_+++A_H_J_L+++.docx
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2018-02-23_CN107728094A_发明公开_CN107728094A 电流校准系数测量装置和方法、电流检测装置和方法_+++A_H_J_L+++.docx

对比文件名称:2018-02-23_CN107728094A_发明公开_CN107728094A 电流校准系数测量装置和方法、电流检测装置和方法

目标专利名称:1619用于校正分流电阻器的电流值的系统和方法CN111542760B

本次调用的模型名称:DeepSeek

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用公开性论述
**技术特征A**:系统包括电流计算单元,该电流计算单元被配置成基于检测到的设置在电路中的分流电阻器的电压值和所述分流电阻器的第一电阻值来计算所述分流电阻器的电流值。**《直接公开》**[0007]:“电压采集单元,用于采集分流器两端的电压模拟信号;电压模数转换单元,用于将电压模拟信号进行模数转换,得到电压值;电流计算单元,用于根据分流器的标称阻值和电压值计算检测电流值”。[0015]:“电流计算单元,用于根据电压值和分流器的标称阻值计算电路回路的电流值I0”。对比文件明确公开了电流计算单元,其基于电压值和分流器的标称阻值(即第一电阻值)计算电流值,与目标专利中基于检测电压值和第一电阻值计算电流值的技术方案实质相同。该单元在对比文件中的作用是初步计算电流值,与目标专利中电流计算单元的角色一致。因此该技术特征被直接公开。
**技术特征B**:功率计算单元,该功率计算单元被配置成基于设置在所述电路中的所述分流电阻器的所述电流值和所述分流电阻器的所述第一电阻值来计算所述分流电阻器的功耗和发热值。**《未公开》**[0080]:“在分流器210中流过的电流较大时,分流器210会有发热现象,会引起分流器阻值的变化”。对比文件仅提及分流器发热现象,未公开任何用于计算功耗和发热值的单元或步骤。目标专利的功率计算单元是专门用于基于电流和电阻计算功耗及发热值以进一步推算温度变化的核心模块,对比文件没有公开或隐含该模块及其功能。本领域技术人员无法从对比文件直接或合理推断出该技术特征。
**技术特征C**:温度测量单元,该温度测量单元被配置成测量所述分流电阻器的环境温度值。**《未公开》**[0137]:“温度采样部分则将采集的SHUNT的温度值发送至电流校准单元”。[0162]:“温度采集单元17,用于采集分流器11的温度模拟信号”。对比文件的温度采集单元明确采集的是分流器本身的温度(SHUNT温度),而非目标专利中定义的环境温度(附近介质的温度)。目标专利将环境温度与分流器自发热温度区分开,并分别用于后续计算;对比文件没有教导或暗示测量环境温度,其温度测量值直接用于根据预存映射关系选择校准系数。因此该技术特征未被公开。
**技术特征D**:最终温度值计算单元,该最终温度值计算单元被配置成根据基于所计算的发热值和所述分流电阻器的热阻系数计算的所述分流电阻器的发热温度值以及所述分流电阻器的环境温度值来计算所述分流电阻器的第二最终温度值和与电流流动之前的第一最终温度值相比的所述第二最终温度值的变化量。**《未公开》**对比文件中没有找到与“发热温度值”、“热阻系数”、“第一最终温度值”、“第二最终温度值”相关的任何描述或单元。目标专利的核心在于实时计算分流电阻器自发热导致的温度变化,并据此动态修正电阻值。对比文件解决的是基于测试的校准系数补偿问题,完全不涉及根据发热值、热阻系数、环境温度等因素实时计算温度变化量的技术方案。因此该技术特征未被直接或隐含公开。
**技术特征E**:计算所述分流电阻器的最终温度值变化量。**《未公开》**[0076]:“根据指定电流值、T1时的检测电流值和分流器210的标称阻值计算T1时分流器的第一实际电阻值R1,根据指定电流值、T2时的检测电流值和分流器210的标称阻值计算T2时分流器的第二实际电阻值R2,根据R1和R2计算分流器210在T2时的电阻变化率”。对比文件在测试过程中虽涉及温度变化(T2-T1)并计算了电阻变化率,但其目的是标定电阻温度曲线,并非目标专利中实时计算连续变化的最终温度值变化量。目标专利的“最终温度值变化量”是动态更新的,且直接基于发热值和环境温度;对比文件无此实时计算过程。因此该技术特征未被公开。
**技术特征F**:电阻计算单元,该电阻计算单元被配置成基于所计算的所述分流电阻器的最终温度值变化量以及所述分流电阻器根据温度变化而变化的温度系数值来计算所述分流电阻器的第二电阻值。**《未公开》**对比文件中没有与“电阻计算单元”或基于温度变化量实时计算第二电阻值对应的结构或步骤。对比文件的校准方案通过预存的温度-校准系数映射关系(而非实时计算电阻变化)来补偿温度影响。其虽然涉及电阻温度特性,但无单元在运行中根据当前温度变化量直接计算电阻值。因此该技术特征未被公开。
**技术特征G**:其中,所述电阻计算单元将通过下面的式4计算的值确定为所述分流电阻器的所述第二电阻值,[式4] R=Ri+(T*b),这里,R是所述分流电阻器的所述第二电阻值,Ri是所述分流电阻器的所述第一电阻值,T是所述分流电阻器的所述最终温度值变化量,并且b是所述分流电阻器的温度系数。**《未公开》**对比文件无式4或类似计算公式及相应单元。目标专利明确限定了电阻计算的具体线性公式,而对比文件全程未涉及该公式或任何等效的实时电阻计算方式。因此该技术特征未被公开。
**技术特征H**:该系统还包括,电压测量单元,该电压测量单元被配置成当设置在所述电路上的所述分流电阻器的电压下降时检测所述分流电阻器的电压值。**《直接公开》**[0016]:“电压采集单元,用于采集分流器两端的电压模拟信号”。[0050]:“电流检测装置200的电压采集单元220(分流器210与电流源120串联,电流源120输出的电流流过分流器210后,分流器210上就会产生一个压降,电压采集单元220对分流器220上的电压采样得到电压模拟信号)”。对比文件明确公开了电压采集单元,其功能是在分流器因电流流过产生压降时采集电压值,与目标专利的电压测量单元的功能完全一致。因此该技术特征被直接公开。
**技术特征I**:其中,所述电流计算单元将所述第一电阻值改变为从所述电阻计算单元提供的所述第二电阻值。**《未公开》**对比文件的电流计算单元始终使用分流器的标称阻值(第一电阻值),未涉及电阻值的动态改变。对比文件的校准通过电流校准单元对计算出的电流值进行线性常数修正(I_cal = A·I0 + B),而非替换电阻值。尽管最终校准效果类似,但其技术手段不同,不存在“将第一电阻值改变为第二电阻值”的单元或步骤。因此该技术特征未被公开。
**技术特征J**:其中,所述电流计算单元将通过下面的式1计算的值确定为所述电流值,[式1] I=V/R,这里,I是所述分流电阻器的电流值,V是所述分流电阻器的电压值,R是所述分流电阻器的所述第一电阻值。**《直接公开》**[0053]:“分流器型的电流检测设备是采用欧姆定律,即 It = Ud / Rs”。对比文件直接引用欧姆定律作为电流计算的基本原理,其公式形式与式1完全对应(It表示测量电流值,Ud表示分流器两端压降,Rs表示标称阻值)。因此该技术特征被直接公开。
**技术特征K**:其中,所述功率计算单元将通过下面的式2计算的值确定为所述分流电阻器的发热值,[式2] E=I²·R·t,这里,E是所述分流电阻器的发热值,I是所述分流电阻器的电流值,R是所述分流电阻器的所述第一电阻值,t是电流在所述分流电阻器中流动的流动时间值。**《未公开》**对比文件无式2或任何基于功耗积分计算发热值的教导。目标专利通过功率积分(I²·R·t)精确计算发热值,以用于后续温度推算;对比文件完全未提及发热值的计算方式,也未公开或隐含与式2等效的技术内容。因此该技术特征未被公开。
**技术特征L**:其中,所述温度测量单元与所述分流电阻器相邻地设置。**《直接公开》**[0137]:“为了提高温度采样精度,温度采集单元尽量靠近SHUNT的中心”。对比文件明确指示温度采集单元应紧邻分流器中心设置,与目标专利“相邻地设置”的技术要求一致,目的均为提高温度测量精度。因此该技术特征被直接公开。
**技术特征M**:其中,所述最终温度值计算单元将通过下面的式3计算的值确定为所述分流电阻器的所述第二最终温度值和所述最终温度值变化量。**《未公开》**对比文件无式3或类似的最终温度值计算单元。目标专利的式3 T=(E·a)+Ta‑Ti 是基于发热值、热阻系数、环境温度和初始温度计算温度变化量的特定公式;对比文件未公开该公式或相关的计算逻辑。因此该技术特征未被公开。
**技术特征N**:计算所述分流电阻器的所述第二最终温度值和所述最终温度值变化量。**《未公开》**对比文件未公开任何实时计算第二最终温度值或温度变化量的步骤。理由同特征M,对比文件不存在该技术内容。
**技术特征O**:然后将所述第一最终温度值改变为所述第二最终温度值,[式3] T=(E*a)+Ta‑Ti 这里,T是所述分流电阻器的所述最终温度值变化量,E是所述分流电阻器的发热值,a是所述分流电阻器的热阻系数,Ta是所述分流电阻器的环境温度,Ti是所述分流电阻器的第一最终温度值。**《未公开》**对比文件未涉及第一最终温度值、第二最终温度值的概念及其更新过程。目标专利通过将第一最终温度值更新为第二最终温度值实现对分流器当前温度的动态追踪;对比文件没有类似的温度状态更新机制,也未公开式3。因此该技术特征未被公开。

<<<A>>><<<H>>><<<J>>><<<L>>>

权利要求与技术特征

A 所述系统包括,电流计算单元,该电流计算单元被配置成基于检测到的设置在电路中的分流电阻器的电压值和所述分流电阻器的第一电阻值来计算所述分流电阻器的电流值
B 功率计算单元,该功率计算单元被配置成基于设置在所述电路中的所述分流电阻器的所述电流值和所述分流电阻器的所述第一电阻值来计算所述分流电阻器的功耗和发热值
C 温度测量单元,该温度测量单元被配置成测量所述分流电阻器的环境温度值
D 最终温度值计算单元,该最终温度值计算单元被配置成根据基于所计算的发热值和所述分流电阻器的热阻系数计算的所述分流电阻器的发热温度值以及所述分流电阻器的环境温度值来计算所述分流电阻器的第二最终温度值和与电流流动之前的第一最终温度值相比的所述第二最终温度值的变化量
E 计算所述分流电阻器的最终温度值变化量
F 电阻计算单元,该电阻计算单元被配置成基于所计算的所述分流电阻器的最终温度值变化量以及所述分流电阻器根据温度变化而变化的温度系数值来计算所述分流电阻器的第二电阻值
G 其中,所述电阻计算单元将通过下面的式4计算的值确定为所述分流电阻器的所述第二电阻值,[式4] R=Ri+(T*b),这里,R是所述分流电阻器的所述第二电阻值,Ri是所述分流电阻器的所述第一电阻值,T是所述分流电阻器的所述最终温度值变化量,并且b是所述分流电阻器的温度系数。
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